phoenix nanome|x —— 超高分辨率的纳米焦点X射线检测系统，设计用于检测半导体及SMT行业的***的组件和互连 该系统具有***的性能和多功能性，可用于二维X射线检测，以及全三维计算机断层扫描(nano ct)。有了新的 x|act 软件包， phoenix ...

phoenix v|tome|x c —— 主要特点 紧凑型450 kV计算机断层扫描（CT）统计生产过程控制系统 高精度的三维测量和非***坏性检测任务 ***减少所需的操作时间，通过一键式CT，点击按钮及完成检测和测量的CT功能 ...

phoenix x|aminer-----------主要特点和益处： 无使用寿命限制160kV/20W高功率X射线管, 易于穿透高吸收性工件 可选高对比度CMOS平板探测器, 有更好的实时检测能力 功能***的CT软件模块, 操作简单快速 设计人性化和操作简便易用 ...

v|tome|x L 450 ——三维计算机断层扫描 工业X射线三维计算机断层扫描(micro ct 与 nano ct) 的经典应用是对金属和塑料铸件的检测和三维测量。 然而， phoenix| X射线的高分辨率X射线技术开辟了在众多领域的新应用，如传感器技术、电子、材料科学...

Seifert x|blade： 是一种易于使用的无损 (NDT) X 射线检测系统，适用于铸件，具有独特的超高成像质量和大体积通过能力。它将对待测部件的机器人***、成像链（可对成像链进行定制以满足特定需求）与符合 DICONDE要求的影像审查、共享和存档系统融于一体，从而提供快...

Seifert x|blade-----工作流增强选件： 使用 GE 的 Flash!Filter（一种动态调整算法，用于检验影像表现的一致性），单击一下即可优化影像观测 利用带对比锁定机制的软件工具的数字参考图像，用于根据 ASTM 标准进行检测分类 集...

phoenix x|aminer-----------主要特点和益处： 无使用寿命限制160kV/20W高功率X射线管, 易于穿透高吸收性工件 可选高对比度CMOS平板探测器, 有更好的实时检测能力 功能***的CT软件模块, 操作简单快速 设计人性化和操作简便易用 ...

v|tome|x L 300 ——phoenix v|tome|x L 300是多功能高分辨率微焦点系统，用于二维和三维计算机断层扫描(micro ct)和二维无损X射线检测 此设备配有***个单极300千伏/ 500 瓦的微聚焦源，确保了300千伏的...

phoenix v|tome|x m ——计量 带X射线的重现性三维计量是***的可对复杂物体内部进行无损测量的技术。通过与传统的触觉坐标测量技术进行对比，对目标物进行计算机断层扫描可获得所有曲面点，包括使用其他测量方法无法无损进入的所有隐蔽形体，如底切。 v|tome|x L 3...

v|tome|x L 240 ——顾客利益： 三维测量包用于空间测量，具有极高精度，再现性和亲和力 在少于1小时之内自动生成首件检测记录是可能的 使用***的软件模块以确保***高的CT质量且便于使用，例如 通过点击并测量|CT 用 datos|x...

phoenix v|tome|x m —— 多功能的X射线微聚焦CT系统，用于三维计量和分析，高达300kV/500W 在phoenix v|tome|x m中，GE公司独特的300千伏微焦点X射线管是***安装于紧凑的CT系统，用于工业过程控制和科研应用。...

v|tome|x L 300 —— 应用： 测量 用X射线进行的三维测量是***的可对复杂物体内部进行无损测量的技术。 通过与传统的触觉坐标测量技术的对比，对一个物体进行计算机断层扫描的同时可获得所有的曲面点 - 包括所有无法使用其他测量方法无损进入的隐蔽形体，如底...