芯片零件X射线检测供应商

微焦点X射线源 微焦点x 射线检测系统在MFX中，阴极发射的电子会被聚焦到靶上的一个点，称为X射线焦点（X-rayFocalSpot）；MFX所发出的X射线均从X射线焦点以一个特定的发射角（BeamAngle）射出，一般作为X-射线光源应用于工业或科研无损检测/成像之中。为了给电子加速到足够轰击产生X射线的能量，X射线管中阴阳极之间所加的管电压一般高达几十KV到几百KV；所以除了X射线管之外，MFX还需要配套的高压电源以及控制器单元。为了避免高压线接口插拔所导致的高压放电故障（这在工业无损检测应用中尤其关键），市场上主流的MFX均采用一体化设计——不仅能够增加稳定性，降低返修率；而且,可以将MFX做到很小的体积，方便操作和安装。上海晶珂销售的X射线检测设备是非工业CT扫描检测，无损检测X光成像检测设备。芯片零件X射线检测供应商

日本爱比特，i-bit微焦点X射线检测系统用于大型线路板上面的BGA、CSP、倒装芯片检测、半导体

微焦点X射线检测系统3D自动X射线检测小型密闭管式X射线装置,达成几何学倍率1,000倍!非CT方式,也非X光分层摄影法而是运用第三种检查方式X射线立体方式.能够节省检查成本。

型号：FX-300fRXzwithc搭载芯片计数功能!依据X射线的穿透图像数卷轴上的压纹带里面的电子零件“方形芯片‘的数量。一个卷带盘约30秒可完成计数。倾斜CT功能,垂直CT功能(选配设定)将检查对象工件放置在转盘上做360°旋转,取得图像。 焊锡部位X射线检测销售公司对BGA的锡球和基板结合部分离检测，欢迎咨询上海晶珂。

微焦点X射线检测系统，日本爱比特，i-bitX-ray检测系统3D-X射线检测

型号：FX-300fRXzwithc搭载芯片计数功能!依据X射线的穿透图像数卷轴上的压纹带里面的电子零件“方形芯片‘的数量。一个卷带盘约30秒可完成计数。

用专门软件进行图像重组,可输出断层图像可使用VolumeRendering(立体渲染)软件做3D输出,也能输出断层动画。3D图像资讯的重组,使用GraphicProcessingUnit*(图像处理器)速度能够达到以往的1/20。影像处理用的处理器具有1000个以上,可以同时处理1000个以上的图像

微焦点X射线，在MFX中，电子透镜将电子束聚焦到靶上的一个点——X射线焦点。在其他条件一致的情况下，X射线焦点越小，成像质量越好。所以这个电子透镜设计的优劣（直接）决定MFX的性能。开放管一般使用线圈通过磁场对电子轨道进行控制，能使焦点更小。封闭管受到FOD的限制，一般使用电场对电子轨道进行控制，焦点偏大。电子在冲撞靶面时X射线变换的效率很低，99%以上会变成热能；而MFX是把大量电子聚焦到靶上的极小一点（X射线焦点）上，过高的功率或者随着工作时间延长，靶面会被逐渐融化，使得： 1、稳定性渐渐变差；2、焦点尺寸渐渐变大，分辨率变差；3、产生的X线剂量渐渐减少，X线相机上的图像变昏暗上海晶珂销售的X射线检测设备是针对内部结构的焊缝和铸件方面缺陷检测，是一种常用的无损检测。

微焦点X射线检测系统  硅晶片结晶缺陷 Void(空隙)检查装置

日本爱比特，i-bit  X射线观察装置    硅晶片内部的结晶缺陷Void(空隙)全自动检查装置

型号：X-CAS-2

特征：

本装置使用X射线针对于硅晶片内部的结晶缺陷之空隙进行自动检查

随然用红外线也能够做同样的检查,但是难以做低电阻的硅晶片检查,并且需要完成终制造过程的抛光过的硅晶圆片才能做精度高的检测。用X射线检查不需要这些条件,研磨前的状态(刚切片后)也能够检查并且与硅晶圆片有无电阻值无关都可以进行检查

可检查的硅晶圆片尺寸为12英寸,及8英寸(6英寸为选配功能)

关于安全性:不需要X射线操作人员资格,因为X射线会被完全遮蔽,所以能够安全的使用 i-bit 爱比特 X-ray X射线检测设备 非接触式无损内部检测穿过PCB板的基板材料，对双层板或多层板进行缺陷检测。天津结晶缺陷空隙X射线检测

表面或内部结构虚焊-气泡-裂缝-缺陷检测的X射线，上海晶珂机电设备有限公司。芯片零件X射线检测供应商

日本爱比特微焦点X射线检测设备几何学倍率达到1000倍!搭载芯片计数功能!"X射线立体方式3D-X射线观察装置FX-3o0fRXzwithcT以往运用X射线的检查方式,背面的CHIP(芯片)零件成为杂讯而很难做正确的检查。l-Bit公司所开发的r3D-X射线立体方式能够将背面基板贴装的BGA,LGA,QFN等图像删除。与以往的X射线CT方式不同不需要断层图像所以能够做高速处理特征采用X射线立体方式2几何学倍率:达到1000倍3搭载CHIPCOUNTER(芯片计数)机能4运用光广角照射能够做高倍率倾斜摄影GBGA自动检查机能(选配功能)VCT(垂直CT)PCT(倾斜CT)功能(选配功能)装基板等的焊锡部位的检查用途@LED的FLIPCHIP(倒装芯片)装的焊锡部位检查POWERDEVICE(IGBT)的双层焊锡部的Void(气泡)检查X射线立体万50500FX-3001R)倾斜CT功能,垂直CT功能(选配设定)用**软件进行图像重组,可输出断层图像将检查对象工件放置在转盘上做360”旋转取得图像。可使用VolumeRendering(立体渲染)软件做3D输出也能输出断层3D图像资讯的重组,使用**G速度能够达到以往的1/20。Jnit_(图像处理器)icProcessingUnit,简称GPU。影像处理专C零件的WIRE(导线)部位(立体染产品规格表型号X射线管种贯孔内的焊锡状芯片零件X射线检测供应商

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