微焦点X射线,在MFX中,电子透镜将电子束聚焦到靶上的一个点——X射线焦点。在其他条件一致的情况下,X射线焦点越小,成像质量越好。所以这个电子透镜设计的优劣(直接)决定MFX的性能。开放管一般使用线圈通过磁场对电子轨道进行控制,能使焦点更小。封闭管受到FOD的限制,一般使用电场对电子轨道进行控制,焦点偏大。电子在冲撞靶面时X射线变换的效率很低,99%以上会变成热能;而MFX是把大量电子聚焦到靶上的极小一点(X射线焦点)上,过高的功率或者随着工作时间延长,靶面会被逐渐融化,使得: 1、稳定性渐渐变差;2、焦点尺寸渐渐变大,分辨率变差;3、产生的X线剂量渐渐减少,X线相机上的图像变昏暗上海晶珂 3次元立体方式,在线X射线检查设备,立体CT功能。X射线检测维修电话
微焦点X射线检测系统,日本爱比特,i-bitX-ray检测系统3D-X射线立体方式观察装置
产品型号:LFX-1000
IC打线结合/导线架状态自动检查设备
概要:
可进行全自动检查的在线式X射线检查设备,针对IC内部的打线接合/导线架的状态进行高速/高精度检查
特征:
在导线架的状态下进行自动搬运及自动检查标注不良的部位。
不仅是打线结合的部位,也可以检查金属异物及导线架间隔等
导线架从进板机直接堆板设置或者是用抽换式基板收纳架供料
可与各种上料机/下料机连接(为追加选配功能) X射线检测维修电话微焦点X射线检测系统用于封装元器件、电子连接器模组检测、印刷电路板焊点检测等行业。
日本爱比特,i-bit微焦点X射线检测系统 3D自动X射线检测
小型密闭管式X射线装置,达成几何学倍率1,000倍!非CT方式,也非X光分层摄影法而是运用第三种检查方式 X射线立体方式.能够节省检查成本
型号:FX-300fRXz with cT
用途:以往运用X射线的检查方式,背面的CHIP(芯片)零件成为杂讯而很难做正确的检查。l-Bit公司所开发的r3D-X射线立体方式能够将背面基板贴装的BGA,LGA,QFN等图像删除。与以往的X射线CT方式不同不需要断层图像所以能够做高速处理。
对双面PCBA和FLIPCHIP焊点、BGA虚焊空焊枕窝、接插件通孔透锡不良选微焦点X射线检测系统。。。。
可对应600x600的X射线观察装置达到几何学倍率1000倍!对应大型基板的3D-X射线观察装置用X射线立体方式去除安装基板背面资去除BGA背面资料测定Void(FX-3OOIRXLL可对应600x600mm的大型基板几何学倍率:达到1,000倍X射线输出:20-90KvX射线焦点径:5um,15um运用X射线立体方式消除背面零件的影响(可选择的追加功能)。。。。。。。。。。。。。。。 i-bit 爱比特 X-ray X射线检测 检测基板焊点的焊锡不足、焊接不良、焊锡短路等问题。
检测基板焊点的焊锡不足、焊接不良、焊锡短路等问题,先上海晶珂机电设备有限公司销售的日本微焦点X线检测系统。X射线观察装置FX-3OOfR几何学倍率:900倍荧光屏放大倍率:5400倍X射线输出:90kVX射线焦点径:5u,15u(切换)用几何学倍率特征D随然是小型设备但可达成几何学倍率900倍2存储良品的图像,可以和现在的图像做比较3可以将平板相机倾斜60°做观察4即使做倾斜观察也能自动追踪观察位置(即使相机倾斜位置点也不会偏移)5附带有各种测定机能6可追加选项检查机能选项功能可对应CT及L尺寸8靶材~试料0.5mm,靶材~X射线相机450mm:450/0.5=900,几何学倍率达到900倍L尺寸装置可对应600x600mm的基板i-bit 爱比特 X-ray X射线检测 硅晶片结晶缺陷 Void(空隙)全自动检查装置。Void(汽泡)X射线检测哪家好
i-bit 日本爱比特 X-ray X射线检测BGA、QFN、CSP、倒装芯片等面阵元件焊点检测。X射线检测维修电话
日本爱比特,i-bit 微焦点X射线检测系统 3D自动X射线检测
型号:FX-300tRX.ll
对应大型基板的3D-X射线观察装置
特征:
可的覆盖600x600mm尺寸的基板;
几何学倍率:达到1,000倍;
X射线相机可以任意斜0°~60;
用触摸屏和操作杆提高操作 ;
滑动门大型样品也能轻松设置
X,Y,Z1(相机),Z2(X射线),Q轴(倾斜)的5轴操作
用X射线立体方式可除去背面的安装零件的信息进行观察(可以选择的追加功能)
转盘能够对应400x400mm尺寸的基板(可选择的追加功能))。。。 X射线检测维修电话
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