上海三维全场数字图像相关技术应变测量装置

针对特殊场景的技术难点，研索仪器推出了一系列专项解决方案。在介观尺度测量领域，µTS 介观尺度原位加载系统填补了纳米压头与宏观加载设备之间的技术空白，通过将 DIC 技术与光学显微镜相结合，可获取 10μm-10mm 尺度下的局部应变场精细数据，为材料微观力学行为研究提供有力工具。面对极端环境测试需求，MML 极端环境微纳米力学测试系统展现出强大的环境适配能力，能够在真空环境下 - 100℃至 1000℃的宽温度范围内稳定工作，实现纳米级力学性能测试，攻克了高温合金、陶瓷等材料在极端条件下的测量难题。应变测量对虚拟电阻几乎没有任何影响。上海三维全场数字图像相关技术应变测量装置

技术特点非接触性：避免接触式测量（如应变片）对被测物体的力学干扰，尤其适用于柔软材料、高温 / 低温环境、高速运动物体；高精度：应变测量精度可达 10⁻⁶~10⁻⁹量级，位移精度可达纳米级（激光干涉法）或微米级（DIC）；全场测量：可同时获取被测物体表面任意点的应变 / 位移数据，而非单点测量，便于分析整体变形规律；适应性强：可用于高温、低温、高压、强腐蚀、高速运动等恶劣工况，兼容金属、复合材料、塑料、橡胶等多种材料。高速光学数字图像相关应变系统研索仪器VIC-3D非接触全场变形测量系统可用于科研实验复合材料分层失效研究，微电子封装焊点疲劳评估。

相位调制机制光波在传播过程中，材料变形引起的光程差会改变其相位分布。以干涉测量为例，两束相干光在变形表面反射后产生干涉条纹，条纹位移量与表面变形呈线性关系。通过相位解包裹算法，可将干涉条纹转化为连续相位场，进而计算应变分布。相位调制技术具有亚波长级灵敏度，但需严格控温以消除空气折射率波动干扰。频率调制机制多普勒效应是频率调制的典型体现。当激光照射到运动或变形表面时，反射光频率会发生偏移，偏移量与表面速度成正比。激光多普勒测振仪（LDV）通过检测频率偏移实现振动速度测量，而集成多普勒效应的应变测量系统则可进一步通过速度梯度计算应变率。此类技术适用于高速动态过程分析，但设备成本较高且对被测表面反射率敏感。

光学应变测量的历史可追溯至19世纪干涉仪的发明，但其真正从实验室走向工程应用，得益于20世纪中叶激光技术、计算机视觉与数字信号处理的突破。纵观其发展历程，可划分为三个阶段：激光器的出现使高相干光源成为可能，推动了电子散斑干涉术（ESPI）与云纹干涉术的诞生。ESPI通过记录物体变形前后的散斑干涉图，利用条纹分析提取位移场，实现了全场应变测量，但依赖胶片记录与人工判读，效率低下。与此同时，全息干涉术在理论层面证明了光学测量可达波长级精度，却因防振要求苛刻而局限于静态测量。研索仪器科技光学非接触应变测量，高精度捕捉微小应变，数据可靠。

近年来，DIC技术向三维化与微型化演进。三维DIC通过双目视觉或多相机系统重建表面三维形貌，消除平面DIC因出平面位移导致的测量误差，在复合材料层间剪切测试中展现出独特优势。微型DIC则结合显微成像技术，实现微米级分辨率的应变测量，为MEMS器件、生物细胞力学研究提供利器。干涉测量以光波波长为基准，通过检测干涉条纹变化实现纳米级位移测量。根据干涉光路设计，可分为电子散斑干涉术（ESPI）、云纹干涉术与光纤干涉术等分支。研索仪器科技光学非接触应变测量，便携式设计，方便现场灵活测量。福建哪里有卖数字图像相关非接触式测量

光学非接触应变测量认准研索仪器！上海三维全场数字图像相关技术应变测量装置

实际光学应变测量系统往往综合利用多种物理机制。例如，数字图像相关法（DIC）同时依赖光强调制与几何变形约束，而电子散斑干涉术（ESPI）则结合了相位调制与散斑统计特性，这种多机制融合提升了测量的鲁棒性与精度。数字图像相关法（DIC）：从实验室到工业现场的普适化技术DIC通过对比变形前后两幅数字图像的灰度分布，利用相关函数匹配算法计算表面位移场，进而通过微分运算获得应变场。其流程包括：表面随机散斑制备、图像采集、亚像素位移搜索、全场应变计算。技术优势DIC的突破在于其普适性：对测量环境无特殊要求（可适应高温、真空、腐蚀等极端条件），对被测物体形状无限制（平面、曲面、复杂结构均可），且支持静态、动态、瞬态全过程测量。现代高速相机与GPU并行计算技术的发展，使DIC的实时处理速度突破每秒千帧，满足冲击等瞬态过程分析需求。上海三维全场数字图像相关技术应变测量装置