西安VIC-2D数字图像相关测量系统

与光学应变测量相比，光学干涉测量在方法上有着本质的不同。它是一种直接测量物体表面形变的技术，主要利用光的干涉现象来实现。在光学干涉测量中，一束光源被分为两束，分别沿不同路径传播，并在某一点重新汇合。当物体表面发生形变时，这两束光的相位关系会发生相应的变化。通过精确测量这种相位变化，我们可以获取物体表面的形变信息。总的来说，光学应变测量和光学干涉测量虽然都是光学测量的重要分支，但在工作原理和应用范围上具有明显的区别。光学应变测量通过间接方式推断物体内部的应力状态，而光学干涉测量则直接测量物体表面的形变。光学应变测量利用光栅投影和图像处理技术，通过测量物体表面的形变来推断内部应力分布。西安VIC-2D数字图像相关测量系统

   拉力试验力值的应变测量是通过测力传感器、扩展器和数据处理系统来完成的。从数据力学上看，在小变形的前提下，弹性元件的某一点应变霹雳与弹性元件的力成正比，也与弹性变形成正比。以S型试验机传感器为例，当传感器受到拉力P的影响时，由于弹性元件的应变与外力P的大小成正比，弹性元件的应变与外力P的大小成正比，应变片可以连接到测量电路，测量其输出电压，然后测量输出力的大小。变形测量是通过变形测量和安装来测量的，用于测量样品在实验过程中的变形。安装有两个夹头，通过一系列的传记念头结构与安装在测量和安装顶部的光电编码器连接。四川光学非接触式测量三维应变测量技术可用于测量汽车车身、底盘等部件在受力或变形时的应变状态，以优化汽车的结构设计。

电子散斑干涉技术特点：技术优势纳米级位移灵敏度全场实时测量能力对振动不敏感可测微小变形系统配置要点激光光源稳定性<0.5%防振光学平台相移装置精度λ/100温控环境建议±1℃典型应用场景微电子器件热变形MEMS器件测试薄膜残余应力分析微纳尺度力学行为，系统集成解决方案与力学测试设备联用原位加载系统同步控制多物理场数据融合实时应变反馈系统异构图谱数据关联特殊环境集成(1)高温环境：耐高温镜头保护热辐射校正算法蓝光照明方案(2)真空环境：光学窗口长距显微配置防污染设计(3)液体环境：防水观测窗折射率补偿悬浮粒子示踪。

可通过大变形拉伸实验，研究橡胶材料在拉伸应力作用下的变形情况，结合试验的方法对橡胶材料与金属材料的抗拉力学性能，结合有限元分析和实验结果，对特殊材质橡胶拉伸发生的应力、形变和位移进行测量，为提高橡胶材料综合力学性能提供数据依据。传统的位移和应变测量方法往往采用引伸计与应变片等接触式方法进行，精度较高，但应变片需直接粘贴于式样表面，并通过接线的方式与采集箱连接，使用繁琐且量程有限。如若针对于橡胶类材料的拉伸实验，由于材料本身的特殊性，不易黏贴应变片，再加之橡胶拉伸变形大，普通的引伸计和应变片量程不足，无法满足测量要求。光栅片法：将光栅片粘贴在物体表面，通过测量光栅片上干涉条纹的变化来计算物体表面的运动或形变信息。

    光学非接触应变测量技术是一种通过光学原理来测量物体表面应变的方法。它可以实时、精确测量材料的应变分布，无需直接接触被测物体，避免了传统接触式应变测量中可能引入的干扰和破坏。该技术的原理主要基于光学干涉原理和光栅衍射原理。通过使用激光光源照射在被测物体表面，光线会发生干涉或衍射现象。当被测物体受到应变时，其表面形状和光程会发生变化，从而导致干涉或衍射图样的变化。通过分析这些变化，可以推导出被测物体表面的应变分布情况。光学非接触应变测量技术在工程领域有广泛的应用。它可以用于材料力学性能的研究、结构变形的监测、应力分布的分析等。例如，在航空航天领域，可以利用该技术来评估飞机机翼的应变分布情况，以确保其结构的安全性和可靠性。在材料科学研究中，该技术可以用于研究材料的力学性能和变形行为，为材料设计和优化提供重要的参考。总之，光学非接触应变测量技术通过光学原理实现对物体表面应变的测量，具有非接触、实时、精确等特点。 振弦式应变测量传感器具有较强的抗干扰能力。江西三维全场非接触式测量

数字图像相关技术具有光路简单、环境适应性好、测量范围广以及自动化程度高等诸多优点。西安VIC-2D数字图像相关测量系统

技术特点与优势非接触性：避免了传统接触式测量可能引入的误差和损伤，保持被测试物体的完整性和原始状态。高精度：能够在微小尺度下精确测量应变，提供准确的数据支持工程分析和决策。全场测量：能够同时测量物体表面的全场应变分布，有助于了解物体的变形情况。高效率：快速获取数据并进行实时监测，提高了生产效率和质量控制的能力。光学非接触应变测量技术广泛应用于航空航天、土木工程、机械制造、生物医学等领域。例如，在航空航天领域，它用于飞行器的结构健康监测；在土木工程领域，它用于监测大型建筑物和桥梁的结构健康；在机械制造领域，它用于评估机械部件的应力和应变状态；在生物医学领域，它用于研究生物组织的力学性能和变形行为。西安VIC-2D数字图像相关测量系统