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外延系统基本参数
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外延系统企业商机

设备对实验室环境有着严格的要求,为满足这些环境要求,需采取相应保障措施。安装空调系统,精确控制实验室的温度和湿度。空调系统应具备温度和湿度自动调节功能,能够根据设定的参数自动调整制冷、制热和除湿量,确保实验室环境稳定。配备空气净化设备,如高效空气过滤器(HEPA),过滤空气中的微小颗粒,提高实验室的洁净度。空气净化设备应定期更换过滤器,保证其过滤效果。实验室的地面和墙面应采用不易积尘、易于清洁的材料,如环氧地坪漆和洁净板。地面要做好防静电处理,可铺设防静电地板,减少静电对设备的影响。系统配备多达10个蒸发源端口,满足多样沉积需求。基质辅助外延系统服务

基质辅助外延系统服务,外延系统

沉积参数的优化是一个系统性的实验过程。对于一种新材料,需要探索的参数通常包括:激光能量密度(它决定了等离子体羽辉的强度和特性)、沉积腔内的背景气体种类(如氧气、氮气或氩气)与压力、基板温度以及靶材与基板之间的距离。这些参数相互关联,共同影响着薄膜的结晶性、取向、化学计量比和表面形貌。通常需要通过设计多组实验,在沉积后对薄膜进行X射线衍射、原子力显微镜、扫描电镜等表征,反推的工艺窗口。

在沉积过程结束后,样品的降温过程也需要进行控制,特别是对于在氧气氛围中生长的氧化物薄膜。快速降温可能导致薄膜因热应力而开裂,或者因氧原子的非平衡析出而形成大量缺陷。因此,通常需要在沉积结束后的氧气氛围中,让样品在设定温度下进行原位退火一段时间,然后以可控的缓慢速率(如每分钟5-10摄氏度)降温至室温。这一“原位退火”步骤对于弛豫薄膜内应力、优化氧含量、提高薄膜的结晶质量和功能性至关重要。 基质辅助外延系统服务脉冲激光透过石英窗产生高能等离子体羽辉。

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PLD-MBE与传统热蒸发MBE的对比。传统MBE依赖于将固体源材料在克努森池中加热至蒸发,其蒸发速率相对较低且稳定,非常适合III-V族(如GaAs)和II-VI族(如ZnSe)半导体材料的生长。然而,对于高熔点金属氧化物(如钌酸盐、铱酸盐),热蒸发非常困难。PLD-MBE则利用高能激光轻松烧蚀任何高熔点靶材,突破了源材料的限制,将MBE技术的应用范围极大地扩展至复杂的氧化物家族,实现了“全氧化物分子束外延”。

与金属有机化学气相沉积(MOCVD)的对比。MOCVD是大规模生产III-V族半导体光电器件(如LED、激光器)的主流技术,具有出色的均匀性和大规模生产能力。然而,MOCVD通常涉及高毒性和高反应活性的金属有机前驱体,设备与运营成本高昂,且存在碳污染风险。对于实验室阶段的新材料探索和机理研究,PLD和MBE系统提供了更洁净、更灵活、成本更低的平台,能够实现更高的真空度和更精确的原位监测,非常适合进行基础科学探索和原型验证。

排气系统是维持超高真空环境的动力源泉。我们系统采用“分子泵+干式机械泵”的组合方案。干式机械泵作为前级泵,无需使用真空油,彻底避免了油蒸汽对腔室的污染,实现了洁净抽气。分子泵则串联其后,利用高速旋转的涡轮叶片对气体分子进行动量传递,将其压缩并排向前级泵,从而在生长腔室获得高真空和超高真空。这种组合抽气系统运行稳定、维护简单,且能提供洁净无油的真空环境,非常适合于对污染极其敏感的半导体材料和氧化物材料的生长。工艺腔体视窗配备保护快门,防止镀膜污染。

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真空度抽不上去或抽速缓慢是常见的故障之一。排查应遵循由外到内、由简到繁的原则。首先,检查前级干式机械泵的出口压力是否正常,以确认其工作能力。其次,检查所有真空阀门(尤其是粗抽阀和高真空阀)的开启状态是否正确。然后,考虑进行氦质谱检漏,重点检查近期动过的法兰密封面、电极引入端和观察窗。如果无漏气,则问题可能源于腔体内部放气,比如更换靶材或样品后腔体暴露大气时间过长,内壁吸附了大量水汽,需要延长烘烤和抽气时间。也有可能是分子泵性能下降,需要专业检修。基板接收站设计确保传输过程定位精度。基质辅助外延系统服务

真空系统维护区域需保持干燥清洁,防止部件受潮损坏。基质辅助外延系统服务

系统的超高真空成膜室是整个设备的心脏,其性能直接决定了所能制备薄膜的质量上限。我们的腔室采用SUS304不锈钢材质,经过精密焊接和严格的氦质谱检漏,确保其真空密封性。内表面经过电解抛光处理,这一工艺极大地减少了材料的表面积,降低了腔体壁在真空下吸附的气体分子数量以及在受热时的出气率,是实现并维持极高真空(<5E-8 Pa)的关键。在这样的环境下,气体分子的平均自由程远大于腔室的尺寸,使得从靶材飞出的等离子体羽辉(Plume)能够几乎无碰撞地直达基板,同时也保证了沉积前基板表面可以长时间保持原子级别的清洁。基质辅助外延系统服务

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