特点1.亮度均匀性测量:可根据客户要求测试5点/9点/13点/17点/25点的亮度色度,计算亮度色度的比较大值,最小值,中心值,均匀性，也可以自定义测量矩阵点,或自定义任意测量点进行测量。2.可测量平面多点亮度色度，对比度，色域，色饱和度，GAMMA，Cross-talk，视野角测量，Responsetime（可选），Flicker（可选）等。3.测试标准满足VESA，TCO99,TCO03，TCO05，DellVSQII，ISO13406-2等。4.可自定义各型号的测量方案,下次测量时无需再次设定,可直接调用.5.可定义测试台移动的速度,移动方向顺序,热机时间,测量次数6.通过CCD与光学机连接观察被测物的位置,通过电脑显示屏幕即时显示.7.搭配BM-7A，BM5AS，SR3A，CS2000，PR655等灰度计和彩色分析仪。8.通过电脑软件控制，测量速度快，亮度色度数据测试后自动计算并保存,Y轴行程850mm;由电脑控制XY轴移动，比较大可测量65寸.，Y轴采用高精度伺服电机+滚珠丝杆,精度为11.可调整测量仪器的水平和垂直.12.具有重复测试功能，可以自动重复测试多次。13.约2200mm*1600mm*1800mm。雅顿机电提供HOMMEL霍梅尔光学机，专业的技术，先进的设备，值得合作满足您的测量需求。苏州质量HOMMEL霍梅尔光学机价格
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机床的几何误差测量技术传统上可以分为接触式和非接触式两种前者具有成本低，精度高的特点，但必须逐点接触探针以接触机床的量规表面，这不仅要花费大量时间，而且会消耗探针[1,2]。因此，过一会儿需要对探头进行半径补偿，否则会影响测量精度。在非接触式测量技术中，激光干涉仪是使用*****的测量仪器。但是，干涉仪价格昂贵，并且一次只能测量机床的一自由度（1DOF）几何误差。如果要测量不同的自由度几何误差，则必须使用不同的反射镜组和实验设置。结果，测量效率明显较低，并且在较长的测量期间内，测量环境可能会发生变化，从而影响测量精度[3,4]。由于切削工具，旋转轴，线性工作台等的原因，机床中存在各种几何误差源。在本文中，我们*讨论来自机床旋转轴的几何误差源。对象的运动自由度可以定义为6DOF，包括分别沿X，Y和Z轴移动的三个线性运动，以及分别围绕X，Y和Z轴的三个旋转运动。机床的旋转轴还具有6个自由度几何误差，即X方向上的径向运动误差（𝛿X），Y方向上的径向运动误差（𝛿Y），X轴周围的倾斜运动误差（ɛX），倾斜运动误差绕Y轴（ɛY），轴向运动误差（𝛿Z）和角度定位误差（ɛZ）[5]。近年来。
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2015-2020）Zeiss公司简介及主要业务Zeiss企业**新动态MitutoyoMitutoyo基本信息、光学测量系统生产基地、销售区域、竞争对手及市场地位Mitutoyo光学测量系统产品规格、参数及市场应用Mitutoyo光学测量系统产能、产量、产值、价格及毛利率（2015-2020）Mitutoyo公司简介及主要业务Mitutoyo企业**新动态NikonMetrologyNikonMetrology基本信息、光学测量系统生产基地、销售区域、竞争对手及市场地位NikonMetrology光学测量系统产品规格、参数及市场应用NikonMetrology光学测量系统产能、产量、产值、价格及毛利率（2015-2020）NikonMetrology公司简介及主要业务NikonMetrology企业**新动态TokyoSeimitsuTokyoSeimitsu基本信息、光学测量系统生产基地、销售区域、竞争对手及市场地位TokyoSeimitsu光学测量系统产品规格、参数及市场应用TokyoSeimitsu光学测量系统产能、产量、产值、价格及毛利率（2015-2020）TokyoSeimitsu公司简介及主要业务TokyoSeimitsu企业**新动态KeyenceKeyence基本信息、光学测量系统生产基地、销售区域、竞争对手及市场地位Keyence光学测量系统产品规格、参数及市场应用Keyence光学测量系统产能、产量、产值、价格及毛利率。HOMMEL霍梅尔光学机苏州雅顿机电科技有限公司华东代理.南京正规HOMMEL霍梅尔光学机市场价
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ZnO是一种重要的II-VI族半导体材料。它拥有高达60meV的激子结合能，以及25meV的热***能。ZnO纳米线可以被用于制造导波管，纳米激光器，光探测器，以及发光二极管。在这些光学应用中，激子与纵向光学声子（LO）之间的耦合特性一直是研究者们讨论的重点。这种耦合特性往往与晶格结构以及应力产生的缺陷有关。结合原位透射电子显微镜光学-光电测量系统（ZepToolsTechnologyCo.,Ltd.），研究者在TEM中原位测量施加了不同应力ZnO纳米线的阴极发光谱（CL），揭示了该材料结构特性与这种耦合特性之间的联系。相关研究成果发表在《APPLIEDPHYSICSLETTERS》上。图1：(a)原位透射电子显微镜光学-光电测量系统应用原理图；(b)单根ZnO纳米线的TEM图像，电子束被聚焦在纳米线的末端。(c)图解ZnO纳米线的发光机制；(d)典型的CL谱。ZnO纳米线被安置于原位TEM光学-光电测量样品杆上，一个2mm直径的光纤通过一个可以三维操纵的纳米操纵探针引到样品处。纳米操纵探针不仅可以辅助找准测试位置，还可以用于选择和操纵单根纳米线。单色仪和CCD与光纤接口连接并用于接收信号。图2：改变电子束聚焦在纳米线上的位置，可以得到不同的CL谱。图3：使用纳米操纵探针给纳米线施加不同的应力。苏州质量HOMMEL霍梅尔光学机价格
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