电迁移测试以及处理方法金属相互连线的电迁移情况通常都是按照集成规模的扩展速度不断变化，其集成器件的体积不断缩减，户连线电流密度不断提高，在电迁移的测试逐步开始占据了非常关键的地位。在物理现象中集成电路中的电迁移现象详细的表达方式就是，集成电路的不同器件在实际生产和实验的过程中，金属之间的互连线中有的电流通过，其中金属阳离子会根据导体的质量... 【查看详情】

保偏光纤耦合系统是光纤与光纤之间进行可拆卸(活动)连接的系统件，它是把光纤的两个端面精密对接起来，以使发射光纤输出的光能量能大限度地耦合到接收光纤中去，并使其介入光链路从而对系统造成的影响减到较小。对于波导式耦合系统，一般是一种具有Y型分支的元件，由一根光纤输入的光信号可用它加以等分。当耦合系统分支路的开角增大时，向包层中泄漏的光将增多以... 【查看详情】

提供耦合系统服务来管理数据交换及协调单独求解器的任务执行，以便准确捕获通常在单独求解器中进行仿真的物理模型之间的复杂交互，这对于了解整个问题至关重要。紧密的流固交互（例如在需要控制温度的风力涡轮机叶片和电机冷却应用中出现此类问题），都是依赖耦合系统功能的应用示例。若耦合系统能够准确管理对应用进行建模时所需求解器之间的数据交换，并协调求解器... 【查看详情】

自动耦合光纤耦合系统：该系统可以实现光纤列阵与平面光波导PLC的自动耦合。耦合系统的产品基本的特征：1、输入输出均为高精度4轴电动位移台，两轴手动。2、高速光功率计配合优良的算法，对光稳定。3、初始光自动查找。4、永远为配有激光照射单元，可初步调整2轴平行。5、配有双镜头，可通过图像视频调整端面平行。6、传感器技术可精确控制器件间距，同时... 【查看详情】

20世纪60年代,在现代硅光纤技术发展起来以前,毛细管曾经被研究作为通信光波导的代替品。现在常见的中空光纤则是将极细的毛细管内表面上镀反射膜来增强反射率,通过内部反射来导光。这项技术被普遍应用于红外波段,毕竟制作较大的空气孔相对简单,并且镀膜较易实施。但是因为镀膜是在光纤拉制后,因此这种光纤长度相对较短,并且传输的模式质量差。而对于光子带... 【查看详情】

光纤耦合系统及耦合方法涉及光纤耦合技术领域,解决了有效工作范围小,耦合对准精度低,受大气湍流干扰严重的问题,系统包括一种光纤耦合系统,包括光斑追踪快反镜,追踪镜驱动器,分光片,成像透镜组,光斑位置探测器,图像处理机,章动耦合快反镜,耦合镜驱动器,耦合透镜组,耦合光纤,光能量探测器和控制器;光斑位置探测器放置于成像透镜组的焦平面上,耦合光纤... 【查看详情】

精密光学平台的桌腿中装有气动单元，它与平台的材料及设计相结合可以减少环境中的物体（例如人员走动、建筑物内其它设备以及行驶的汽车等）造成的大幅度低频振动。这些外部力会使平台发生刚体运动，这种运动本质上是2维的并且对大多数光学实验不会造成影响。在千赫兹频段的高频振动也不会明显地影响平台的稳定性。然而，造成精密光学平台表面弯曲的中频共振及弯曲振... 【查看详情】

光学平板通常作为分光镜或窗口等透过型元件或被用作全反射镜或光学测量中的基准平面。其中大部分产品有各种指标的组合:形状，面精度，多种厚度和平行度。台面采用阵列的M6标准螺纹孔，便于固定各种调整架、支撑架、光具座、位移台等，是一种便利且性价比高的平台。产品特点：光学平板采用优良铝合金或者不锈钢精加工而成，重量适中，易搬动，不易变形。螺纹孔阵列... 【查看详情】

有数据表明探针测试台的故障中有半数以上是x-y工作台的故障，而工作台故障有许多是对其维护保养不当或盲目调整造成的，所以对工作台的维护与保养就显得尤为重要。现在只对自动探针测试台x-y工作台的维护与保养作一介绍。平面电机x-y步进工作台的维护与保养：平面电机由定子和动子组成，它和传统的步进电机相比其特殊性就是将定子展开，定子是基础平台，动子... 【查看详情】

探针台市场逐年增长：半导体测试对于良率和品质控制至关重要，是必不可少的环节，主要涉及两种测试（CP测试、FT测试等）、三种设备（探针台、测试机、分选机等）。根据半导体产线投资配置规律，测试设备在半导体设备投资的占比约为8%，次于晶圆制造装备，其中测试机、分选机、探针台的占比分别为63.10%、17.40%、15.20%。中国半导体市场飞速... 【查看详情】

探针台如何工作：探针台可以固定晶圆或芯片，并精确定位待测物。手动探针台的使用者将探针臂和探针安装到操纵器中，并使用显微镜将探针尖锐端放置到待测物上的正确位置。一旦所有探针尖锐端都被设置在正确的位置，就可以对待测物进行测试。对于带有多个芯片的晶圆，使用者可以抬起压盘，压盘将探针头与芯片分开，然后将工作台移到下一个芯片上，使用显微镜找到精确的... 【查看详情】

手动探针台的使用方式：1.将样品载入真空卡盘，开启真空阀门控制开关，使样品安全且牢固地吸附在卡盘上。2.使用卡盘X轴/Y轴控制旋钮移动卡盘平台，在显微镜低倍物镜聚焦下看清楚样品。3.使用卡盘X轴/Y轴控制旋钮移动卡盘平台将样品待测试点移动至显微镜下。4.显微镜切换为高倍率物镜，在大倍率下找到待测点，再微调显微镜聚焦和样品x-y，将影像调节... 【查看详情】