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什么PCBA合适做ICT测试?其实你可以看它的本质——到底用什么机器在测试。这类型机器的基本原理都差不多。相当于同时有许多万用表在测量。高级的还可以给板子通电,进行上电测试。其实你可以看它的本质——到底用什么机器在测试。这类型机器的基本原理都差不多。相当于同时有许多万用表在测量。高级的还可以给板子通电,进行上电测试。只要电路板上有一定数量的可用测试点,就适合测试。ICT的结构基本上由电脑、测试电路、测试压板及针床和显示、机械传动等部分组成。软件部分是Windows操作系统和ICT测试软件。治具的设计基本上是建立于逻辑,类似的治具可能会因为使用于不同的时间和地点而分别产生。ICT测试治具报价

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功能测试治具和ICT测试治具的区别,我们知道测试治具是专门对产品的功能、功率校准、寿命、性能等进行测试、试验的一种治具。根据测试功能的不同它又可分为钻孔工具、功能测试治具、ICT测试治具、过锡炉治具等测试治具,而由于功能测试治具和ICT测试治具应用场景的相近很多用户往往不知道它们的区别是什么,首先测试功能不同,功能测试治具是一种用来测试半成品/成品或生产环节中的某一个工序,主要是对产品的功能进行测试的设备,以此来判断被测对象是否达到了初始设计者目的的机械辅助治具;而ICT测试治具是对在线元器件的性能、原理及电气连接进行测试来检查生产制造缺陷及元器件不良的一种标准测试设备。具有操作简单、快捷迅速、故障定位准确等特点。ICT测试治具报价所谓零件不良是指在ICT测试时,显示OpenFail零件不良打印报表中量测值与该零件的标准值不一致。

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关于PCBA制作ICT治具的注意事项,附A、测试点位置考虑顺序(每一铜箔不论形状如,至少需要一个可测试点):1、ACI插件零件脚优先考虑为测试点。2、铜箔露铜部份(测试PAD),较好能上锡。3、立式零件插件脚。4、ThroughHole不可有Mask。附B、测试点直径:1、1mm以上,以一般探针可达到较佳测试效果。2、1mm以下,则须用较精密探针增加制造成本。3、点与点间的间距较好大于2mm(中心点对中心点)。附C、双面PCB的要求(以能做成单面测试为考虑重点):1、SMD面走线较少须有1throughhole贯穿至dip面作为测试点,由dip面进行测试。2、若throughhole须mask时,则须考虑于throughhole旁lay测试pad。3、若无法做成单面,则以双面治具方式制作。4、空脚在可允许的范围内,应考虑可测试性,无测试点时,则须拉点。5、BackUpBattery较好有Jumper,于ICT测试时,能有效隔离电路。

评价ICT治具参数要求:1、植针率=植针网络数/PCBA总网络数≥85%;2、覆盖率=可测试零件数/总零件个数≥85%。ICT治具验收审核标准:1、外型尺寸是否和要求一致,即长,宽,高(行程)。2、天板同底版结合是否稳定,压棒分布是否合理,是否有可能压到PCBA上零件和线材。3、载板是否对零件引脚及PCBA上突起部分铣深度,宽度是否足够,保证测试时不至于对PCBA零件造成可能的损伤。4、载板是否平整,无翘曲,同PCBA吻合。5、测试针的选择和分布是否合理。6、定位是否合理,是否防呆。ICT测试治具测验其作业办法主要在元器件的线路上。

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导致ICT测试冶具测试不良的原因分析:ICT测试冶具在使用过程中有时候会出现不良现象,那么到底是哪些因素导致的呢?我们一起来分析一下。1.短路不良(短路不良要先处理,而开路不良常常由于探针接触不良所致)短路不良指两个点(不在同一短路群内,即本来应该大于25Ω(或25-55Ω))的电阻小于5Ω(或5-15Ω),可以用万用表在PCB上的测试点上进行验证;可能原因:1)连焊(应该在两个NET相关的焊接点上寻找);2)错件,多装器件;3)继电器、开关或变阻器的位置有变化;4)测试针接触到别的器件;5)PCB上铜箔之间短路。ICT测试pcba电路板的优点有产品维修成本。天津在线ICT自动化测试仪器品牌

ICT测试治具与FCT测试治具都是电子产品制造设备都使用在产品生产线上。ICT测试治具报价

ICT测试不良及常见故障的分析方法:开路不良:所谓开路不良就是指在某一个短路群中,各个测试点之间本来应该是短路,但却出现了某个测试点对其所在短路群的其它测试点是开路的。出现开路不良的可能原因有如下几个方面:(1)PCBOpen;(2)零件造成的;它又包括如下几个方面:A.立件与漏件;B.空焊;C.零件不良。(3)测试点有问题A.探针未接触到;B.测试点氧化;C.测试点有东西挡住;D.测试点在防焊区。有利于提高产品的质量和测试效率。ICT测试治具报价

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