广东工业CT维修

phoenix v|tome|x s

——应用案例展示 

 三维计算机断层扫描

 工业X射线三维计算机断层扫描(micro ct 与 nano ct) 的经典应用是对金属和塑料铸件的检测和三维测量。然而， phoenix| X射线的高分辨率X射线技术开辟了在众多领域的新应用，如传感器技术、电子、材料科学以及许多其他自然科学。

 微焦点CT(micro

 ct)显示一个表达式探针： 箱子的焊缝、压接连接、探头的几何排列、和陶瓷传感器的情况。

 通过 VELO | CT在几秒钟或几分钟内（取决于体积大小）完成更快的三维CT重建。

航空叶片二维X射线检测，识别叶片孔隙缺陷。广东工业CT维修

v|tome|x L 300

—— 应用：

测量

用X射线进行的三维测量是***的可对复杂物体内部进行无损测量的技术。 通过与传统的触觉坐标测量技术的对比，对一个物体进行计算机断层扫描的同时可获得所有的曲面点 - 包括所有无法使用其他测量方法无损进入的隐蔽形体，如底切。 v|tome|x s 有一个特殊的三维测量包，其中包含空间测量所需的所有工具，从校准仪器到表面提取模块,具有可能的***大精度，可再现且具有亲和力. 除了二维壁厚测量，CT体数据可以快速方便地与CAD数据进行比较，例如，分析完成元件，以确保其符合所有的规定尺寸。

华南强穿透工业CT扫描对于常规和非常规岩心扫描，获得空间分辨率和图像质量的参考扫描参数。

v|tome|x L 240

——顾客利益：

三维测量包用于空间测量，具有极高精度，再现性和亲和力

在少于1小时之内自动生成首件检测记录是可能的

使用***的软件模块以确保***高的CT质量且便于使用，例如

 通过点击并测量|CT 用 datos|x 2.0进行高精度可重现的三维测量: 全自动化执行的CT扫描，重建和分析过程

 通过 VELO | CT在几秒钟或几分钟内（取决于体积大小）完成更快的三维CT重建

通过高动态温度稳定的GE DXR数字探测器获取的30 FPS（帧每秒）（可选）的快速CT采集和清晰的影像

v|tome|x L 240

—— 应用：材料科学

高分辨率计算机断层扫描(micro

ct 与 nano ct)用于检测材料、复合材料、烧结材料和陶瓷，但也用来对地质或生物样品进行分析。

材料分配、空隙率和裂缝在微观分辨率上是三维可视的。

铸件与焊接

射线无损检测用于检测铸件和焊缝缺陷。 微焦点X射线技术和工业X射线计算机断层扫描(mico

ct)的结合，使得微米范围内的缺陷探测成为可能，并提供低对比度缺陷的三维图像。

铸铝活塞的CT图像显示被检测对象的隐藏的轮廓和内表面，包括一些空洞，可自动计算其尺寸和位置。

层析图像是三维测量的基础（表面重构和标准实际值比较）

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

玻璃纤维增强塑料制成的物体的nanoCT： 玻璃纤维和矿物填料（紫色）的凝聚体的方位和分布都清晰可见。 纤维宽度大约为 10 µm.

CT扫描后可通过四视图展示玉石、青金、珍珠等内部特征。通过大量数据区别内部组分构成、孔隙、裂缝等特征。

Seifert x|blade：

是一种易于使用的无损 (NDT) X 射线检测系统，适用于铸件，具有独特的超高成像质量和大体积通过能力。它将对待测部件的机器人***、成像链（可对成像链进行定制以满足特定需求）与符合 DICONDE要求的影像审查、共享和存档系统融于一体，从而提供快速、灵活的检测及快速审查。Seifert x|blade 系统是 GE 旗下检测科技业务部门的产品之一，用于帮助客户从胶片式的***成像技术过渡到数字化的***成像技术。

主要特性和优点：

可定制的成像链，使用基本空间分辨率和焦点尺寸组合进行了优化，以满足影像质量要求或***大程度地减少***次数

配有机器人***的自动化检测计划，无需人机交互即可实现多次观测

E持久闪烁器技术，可消除探测器的拖影和滞后

成套系统的占地空间小，且***大程度地利用了已发布的平台的组件和概念

符合 DICONDE 要求的解决方案，配有用于数据存储和保留的数种选件，利用查询功能可查询所有带 DICONDE 标记的字段 P201 / VW 50097：在2D截面视图中可对孔隙所占的面积比进行统计，相关标准可以按照大众VW 50097标准进 行测量。东莞原装进口工业CT探伤

合金内部不同缺陷类型的形貌展示。广东工业CT维修

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——计量

带X射线的重现性三维计量是***的可对复杂物体内部进行无损测量的技术。通过与传统的触觉坐标测量技术进行对比，对目标物进行计算机断层扫描可获得所有曲面点，包括使用其他测量方法无法无损进入的所有隐蔽形体，如底切。 v|tome|x L 300有一个特殊的三维计量包，包含空间测量所需的所有工具，从校准仪器到表面提取模块,具有可能的***大精度，可再现且具有亲和力。 除了二维壁厚测量，CT体数据可以快速方便地与CAD数据进行比较，例如，分析***组件，以确保其符合所有的规定尺寸，如缸盖的三维计量。

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