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phase 12基本参数
  • 产地
  • 美国
  • 品牌
  • Analysis Tech
  • 型号
  • Phase 12
  • 是否定制
phase 12企业商机

PHASE12可以测试Rja,Rjc,Rjb Rjl的热阻(测试原理符合JEDEC51-1定义的动态及静态测试方法) 1)瞬态阻抗(Thermal Impedance)测试,可以得到从开始加热到结温达到稳定这一过程中的瞬态阻抗数据。 2)稳态热阻(Thermal Resistance)各项参数的测试,其包括:Rja,Rjb,Rjc,Rjl, 当器件在给一定的工作电流后。热量不断地向外扩散,***达到了热平衡,这时得到的结果是稳态热阻值。在没有达到热平衡之前测试到的是热阻抗。 3)可以得到用不同占空比方波测试时的阻抗与热阻值。 4)内部封装结构与其散热能力的相关性分析(Structure Function)。 5)装片质量的分析(Die Attachment Quality Evaluation). 6).多晶片器件的测试。 7.SOA 图表生成 8.浪涌测试**phase 12来电咨询

Phase12不仅应用于半导体领域,还可应用于LED领域。 伴随着LED的功率越来越大,合理有效的热管理也变得越来越重要。因为LED的结温直接影响其光学性能和寿命。 利用Phase12提供的结构函数分析功能,可以得到: LED在该环境下的总热阻; LED内部各层结构的热阻(包括热界面材料的接触热阻)。 LED灯具选择两种不同材质的转接头的散热性能比较,其中一个是采用金属材料的转接头,另一个是采用塑料材质的转接头。 将LED灯具放置到JEDEC规定的一立方英尺的标准静止空气箱中,利用Phase 12进行热瞬态测试。 得到两种散热条件下该LED灯具到周围环境的热阻Rja; 通过结构函数可以清晰地看到由于散热器引起的热阻的差异; 同一种结构的测量重复性非常好。**phase 12免费咨询

美国空军U.S. Air Force Avionics Integrity Program统计数据,根据数据显示器件的失效55%是由于温度的原因,所以器件的散热特性对于器件的稳定性非常重要。器件的寿命与工作时PN结温度关系密切,器件工作时的PN结温度TJ越高器件的寿命越短,所以器件的散热特性对于器件的可靠性非常重要。 Phase 12热阻测试仪是通过电性方法测得PN的温度,利用PN结结压与结温的物理特性关系,通过测试PN结的电压来推算得到PN结的温度。所以测试热阻前首先要测得器件PN结结温与结压的线性关系。

Phase 12的测试方法 基于电学法的热瞬态测试技术 电学法 寻找器件内部具有温度敏感特性的电学参数,通过测量该温度敏感参数(TSP)的变化来得到结温的变化。 TSP的选择:一般选取器件内PN结的正向结电压。 测试技术:热瞬态测试 当器件的功率发生变化时,器件的结温会从一个热稳定状态变到另一个稳定状态,我们的仪器将会记录结温在这个过程中的瞬态变化曲线。 一次测试,既可以得到稳态的结温热阻数据,也可以得到结温随着时间的瞬态变化曲线。 瞬态温度响应曲线包含了热流传导路径中每层结构的详细热学信息(热阻和热容参数)。

型号Phase12热阻测试仪产自美国Analysis Tech(Anatech)公司,符合美军标和JEDEC标准. Analysis Tech Inc.成立于 1983 年,坐落于波士顿北部,是电子封装器件可靠性测试的国际设计,制造公司。创始人 John W.Sofia 是美国麻省理工的博士,并且是提出焊点可靠性,热阻分析和热导率理论的**. 发表了很多关于热阻测试于分析,热导率及焊点可靠性方面的论文.以 Dr.John 为首的研发团队全部毕业于麻省理工。 Analysis Tech Inc.在美国有**的实验室提供技术支持. 在全世界热阻测试仪这套设备有几百家**客户智能phase 12好货源好价格

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Phase12 兼具JESD51-1定义的静态测试法(Static Mode)与动态测试法(Dynamic Mode),能够实时采集器件瞬态温度响应曲线(包括升温曲线与降温曲线),其采样时间间隔达1微秒,测试延迟时间达1微秒,结温分辨率高达0.01℃。 它可应用于: 各种三极管、二极管等半导体分立器件,包括:常见的半导体闸流管、双极型晶体管、以及大功率IGBT、MOSFET、LED等器件; 各种复杂的IC以及MCM、SIP、SoC等新型结构 ; 各种复杂的散热模组的热特性测试,如热管、风扇等。 **phase 12来电咨询

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