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PCI-E测试基本参数
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PCI-E测试企业商机

在2010年推出PCle3.0标准时,为了避免10Gbps的电信号传输带来的挑战,PCI-SIG  终把PCle3.0的数据传输速率定在8Gbps,并在PCle3.0及之后的标准中把8b/10b编码  更换为更有效的128b/130b编码,以提高有效的数据传输带宽。同时,为了保证数据传输  密度和直流平衡,还采用了扰码的方法,即数据传输前先和一个多项式进行异或,这样传输  链路上的数据就看起来比较有随机性,可以保证数据的直流平衡并方便接收端的时钟恢复。 扰码后的数据到了接收端会再用相同的多项式把数据恢复出来。PCI-E转USB或UFS接口的控制芯片和测试板的制作方法;信息化PCI-E测试系列

信息化PCI-E测试系列,PCI-E测试

相应地,在CC模式下参考时钟的 抖动测试中,也会要求测试软件能够很好地模拟发送端和接收端抖动传递函数的影响。而 在IR模式下,主板和插卡可以采用不同的参考时钟,可以为一些特殊的不太方便进行参考 时钟传递的应用场景(比如通过Cable连接时)提供便利,但由于收发端参考时钟不同源,所 以对于收发端的设计难度要大一些(比如Buffer深度以及时钟频差调整机制)。IR模式下 用户可以根据需要在参考时钟以及PLL的抖动之间做一些折中和平衡,保证*终的发射机 抖动指标即可。图4.9是PCIe4.0规范参考时钟时的时钟架构,以及不同速率下对于 芯片Refclk抖动的要求。湖南设备PCI-E测试pcie接口定义及知识解析;

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PCle5.0的链路模型及链路损耗预算在实际的测试中,为了把被测主板或插卡的PCIe信号从金手指连接器引出,PCI-SIG组织也设计了专门的PCIe5.0测试夹具。PCle5.0的这套夹具与PCle4.0的类似,也是包含了CLB板、CBB板以及专门模拟和调整链路损耗的ISI板。主板的发送信号质量测试需要用到对应位宽的CLB板;插卡的发送信号质量测试需要用到CBB板;而在接收容限测试中,由于要进行全链路的校准,整套夹具都可能会使用到。21是PCIe5.0的测试夹具组成。

当链路速率不断提升时,给接收端留的信号裕量会越来越小。比如PCIe4.0的规范中 定义,信号经过物理链路传输到达接收端,并经均衡器调整以后的小眼高允许15mV,  小眼宽允许18.75ps,而PCIe5.0规范中允许的接收端小眼宽更是不到10ps。在这么小  的链路裕量下,必须仔细调整预加重和均衡器的设置才能得到比较好的误码率结果。但是,预  加重和均衡器的组合也越来越多。比如PCIe4.0中发送端有11种Preset(预加重的预设模  式),而接收端的均衡器允许CTLE在-6~ - 12dB范围内以1dB的分辨率调整,并且允许  2阶DFE分别在±30mV和±20mV范围内调整。综合考虑以上因素,实际情况下的预加  重和均衡器参数的组合可以达几千种。使用PCI-E协议分析仪能不能直接告诉我总线上的协议错误?

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是用矢量网络分析仪进行链路标定的典型连接,具体的标定步骤非常多,在PCIe4.0 Phy Test Specification文档里有详细描述,这里不做展开。

在硬件连接完成、测试码型切换正确后,就可以对信号进行捕获和信号质量分析。正式 的信号质量分析之前还需要注意的是:为了把传输通道对信号的恶化以及均衡器对信号的 改善效果都考虑进去,PCIe3.0及之后标准的测试中对其发送端眼图、抖动等测试的参考点 从发送端转移到了接收端。也就是说,测试中需要把传输通道对信号的恶化的影响以及均 衡器对信号的改善影响都考虑进去。 PCI-E3.0设计还可以使用和PCI-E2.0一样的PCB板材和连接器吗?湖南设备PCI-E测试

网络分析仪测试PCIe gen4和gen5,sdd21怎么去除夹具的值?信息化PCI-E测试系列

PCIe4.0的测试夹具和测试码型要进行PCIe的主板或者插卡信号的一致性测试(即信号电气质量测试),首先需要使用PCIe协会提供的夹具把被测信号引出。PCIe的夹具由PCI-SIG定义和销售,主要分为CBB(ComplianceBaseBoard)和CLB(ComplianceLoadBoard)。对于发送端信号质量测试来说,CBB用于插卡的测试,CLB用于主板的测试;但是在接收容限测试中,由于需要把误码仪输出的信号通过夹具连接示波器做校准,所以无论是主板还是插卡的测试,CBB和CLB都需要用到。信息化PCI-E测试系列

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在之前的PCIe规范中,都是假定PCIe芯片需要外部提供一个参考时钟(RefClk),在这 种芯片的测试中也是需要使用一个低抖动的时钟源给被测件提供参考时钟,并且只需要对 数据线进行测试。而在PCIe4.0的规范中,新增了允许芯片使用内部提供的RefClk(被称 为Embeded RefClk)模式,这种情况下被测芯片有自己内部生成的参考时钟,但参考时钟的 质量不一定非常好,测试时需要把参考时钟也引出,采用类似于主板测试中的Dual-port测 试方法。如果被测芯片使用内嵌参考时钟且参考时钟也无法引出,则意味着被测件工作在 SRIS(Separate Refclk Independent SS...

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