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光学膜透过率测试仪基本参数
  • 品牌
  • 千宇光学科技
  • 型号
  • PLM-10S
  • 类型
  • 光学测量仪
  • 规格
  • PLM-10S
光学膜透过率测试仪企业商机

相位差测量是两同周期正弦电量对应点间角度差值的测量。此两正弦电量可以同为电压、电流,或一为电压、一为电流等。对应点常取正弦电量由负到正的过零点,相当于正弦电量函数的初相角。相位差的单位是度或弧度,正、负号表示**或滞后关系。待测相位差的正弦电量的频率范围很广,因此采用的测量方法和仪器一般随频率的高低来选择。常用的方法:直接法使用**的仪表如指针式相位表、数字相位表,或采用阴级示波器来测量相位差。采用阴极示波器时,将两同频正弦电压信号分别加到示波器的X、Y轴,得到如图1所示的椭圆图形,则两正弦电压之间的相位差∮=arcsin(b/α)。这一方法不能判断两信号哪一个**或滞后,并且在∮值接近零时,椭圆也退化接近成为一条直线,即b值很小,所以∮值很难测准间接法通常采用三电压表法。一般要求两电压信号有一公共点(设为a点),当分别测出两信号电压Uab、Uca,以及两电压的差值Ubc后,可画出电压三角形。按余弦定理,两信号电压间的相位差当∮很小时,可将Uab或Uca中较大的一个信号电压分压,使分压后两信号的数值相等。此光轴跟基方向呈现吸收状态(透光率比较低)。安徽光学膜透过率测试仪特点

若我们将一个信号周期看作是 360,则相差的范围就在0°~360°。:两个同频信号之间的移相, 是电子行业继电保护领域中模拟、分析问题的一个重要手段,利用移 相原理可以制作校验各种有关相位的仪器仪表、继电保护装置的信号 源。因此,移相技术有着很广的实用价值。我们知道,将参考信号整 形为方波信号,并以此信号为基准,延时产生另一个同频的方波信号, 再通过波形变换电路将方波信号还原成正弦波信号。以延时的长短来 决定两信号间的相位值。这种处理方式的实质是将延时的时间映射为 信号间的相位值。也就是说,只要能够测量出该延迟时间,我们就可 以推算出其相位差值。上海光轴角光学膜透过率测试仪供应商相位差测试仪:拉伸膜相位差测试仪 。

相位差:两个频率相同的交流电相位的差叫做相位差,或者叫做相差。 这两个频率相同的交流电,可以是两个交流电流,可以是两个交流电压,可以是两个交流电动势,也可以是这三种量中的任何两个。两个同频率正弦量的相位差就等于初相之差。是一个不随时间变化的常数。   也可以是一个元件上的电流与电压的相位变化。  任意一个正弦量y = Asin(wt+ j0)的相位为(wt+ j0),本章只涉及两个同频率正弦量的相位差(与时间t无关)。设一个正弦量的初相为 j01,第二个正弦量的初相为 j02,则这两个正弦量的相位差为   j12 = j01 - j02

相位差测试仪的发展与现状相位测量技术的研究由来已久,**早的研究和应用是在数学的矢量分析和物理学的圆周运动以及振动学方面,随之在电力部门、机械部门、航空航天、地质勘探、海底资源等方面也相应得到重视和发展。随着电子技术和计算机技术的发展,相位测量技术得到了迅速的发展,目前相位测量技术已较完善,测量方法及理论也比较成熟,相位测量仪器已系列化和商品化。现代相位测量技术的发,展可分为三个阶段:***个阶段是早期采用的诸如阻抗法、和/差法、三电压法、对比法和平衡法等,虽方法简单,但测量精度较低,第二阶段是利用数字**电路,微处理器、FPGA/CPLD、DSP等构成测相系统,使测量精度得以**提高,第三阶段是充分利用计算机及智能化虚拟测量技术,从而**简化设计程序,增强功能,使得相应的产品精度更高,功能更全,同时各种新的算法也随之出现。吸收轴角度,是指透过光线在某一方向呈现吸收状态(透光率比较低)。

相位检测仪器工作原理 数字相位计一般采用相位-电压转换法的相位差数字化测量方法.它测量的是同频信号的相位差,相位差为φ的两个同频信号U1(t)和 U2(t)分别经过各自的衰减电路被衰减成为振幅在0.6V到2.0V的基准电压,然后送至相应的整形电路整形为方波,此时对称调整电路会对这两 个信号进行对称调整,使得测量结果更准确,这样就得到了两个同频方波信号,再经过鉴相脉冲电路得到一个随相位差变化而变化的脉冲信号 △t.相位差的数字化是采用填充计数法实现的,即用周期为τ的脉冲分别对△t和T进行计数,则相位 差:φ=△tTX360° =n1 Tn2τ X360° =n1n2X360°式子中T为两个被测信号的周期,n1为△t时间内所填充的脉冲个数, n2为T时 间内所填充的 脉冲个数。由于不同的信号电压大小不同,所以他们需要进入不同的衰减电路,才能保证整个电路的安全和测量的准确性,这就需要一个精确 的自动换程电路.而后续的信号处理需要--个幅值稳定在-一个范围内的基准信号,这就需要通过衰减器来实现.测量波段可升级为380nm~780nm。安徽光学膜透过率测试仪特点

偏光片吸收轴角度、偏振片偏振方向、波片快轴方向。安徽光学膜透过率测试仪特点

目前,国内相位差测量仪生产厂家或研究单位明显存在着技术老化问题,其采用的器件、方法和技术与技术先进**有较大的的差距。而**近发展的先进的计算机技术、电子技术等却由技术、资金、管理等方面的原因未能应用于相位测量技术,因此国内相位测量的水平与国外水平有着相当大的差距。同时,随着**和科教等领域的发展,迫切需要高精度高性能的相位测量系统,而且在一些特殊工程领域,还需要测量仪器具备其它特殊功能。由此可见,为缩小这些差距,对高精度相位测量算法的研究和相位测量系统的设计刻不容缓。本文介绍的是一套较完整的高精度相位差测量仪,提高相位及频率参数的测量精度,并扩展测相系统功能,由移相网络模块、相位差测量模块及频率测量模块三大部分构成,其系统功能主要是进行相位差测量及频率和幅度测量。安徽光学膜透过率测试仪特点

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