3.探针晶片尺寸
探针晶片的形状一般为圆形和方形。探头的芯片尺寸对超声波探伤结果有一定的影响，选择时主要考虑以下因素。
1） 半扩散角。根据扩散角公式，随着晶片尺寸的增大，半扩散角减小，波束指向性好，超声能量集中，有利于缺陷检测。
2） 探伤近场区。根据近场长度公式，近场区长度随晶圆尺寸的增加而增大，不利于缺陷检测。
3） 晶圆尺寸大，辐射超声能量强，探头未显影区扫描范围大，远程缺陷检测能力增强。
对于探伤面积较大的工件，应选用大型圆片探头，以提高探伤效率；对于厚度较大的工件，应采用大型圆片探头，以便有效地检测远距离缺陷；对于小型工件，为了提高缺陷的定位和定量精度，应采用小型芯片探头；对于表面不平整、曲率较大的工件，应减少耦合损耗，应选用小型芯片探头。 磁粉探伤的缺点也很明显。它只适用于铁磁性材料，只能显示缺陷的长度和形状，但难以确定缺陷的深度。无锡黑油探伤剂代理
对于磁粉来说，它的功能是显示介质。
第一种是黑色磁粉，它是由氧化铁（Fe3O4）以黑色粉末的形式组成，适用于背景较浅或明亮的工件。
第二种是红色磁粉，它是由氧化铁（Fe2O3）以铁红色粉末的形式组成，适用于深色背景的工件。
接下来是荧光磁粉，在Fe3O4颗粒表面包覆荧光材料的荧光磁粉在紫外辐射下能发出黄绿色荧光。适用于背景较暗的工件，特别是由于人眼对颜色的敏感性，荧光磁粉作为磁性介质的磁粉检测灵敏度高于其他磁粉。
还有就是白磁粉，在氧化铁粉末颗粒中涂有白色物质的白色磁粉，适用于背景较暗的工件。 无锡探伤剂厂家工件表面粗糙度值越高，局部高，影响缺陷识别。因此，表面粗糙度值越低，渗透效果越好。
LED灯的使用和维护
一般来说，LED UV-A灯的使用方法与汞蒸气灯相同。探伤前（或至少每天）应检查UV-A辐射强度。
根据被测部件或区域的配置，可能需要多个灯以获得较好结果。应注意在距被检表面适当距离处使用LED灯。均匀的UV-A光覆盖可以产生良好效果，根据需要移动灯以检查更大的区域。建议佩戴UV-A安全眼镜，以减少眼睛疲劳，防止过量的UV-A辐射干扰视力。精心设计的手持式和固定式灯具，可连续工作，UV-A亮度不衰减，不闪烁，不发热。
当工件厚度较大时，应选择较小的K值，以减小过大声程引起的衰减，并在较大深度发现缺陷。在焊缝检验中，还要保证主声束能扫描整个焊缝截面。单面焊根部未焊透时，应考虑端角反射，K=0.7~1.5，由于K<0.7或K>1.5，端角反射率很低，容易造成漏检。
超声波探头用于超声波检测，就像它的眼睛一样，探头对探伤结果有很大的影响，俗话说，要想做好事情，就必须先使用工具。在实际的探伤过程中，应根据工件的情况、探伤条件、缺陷及执行标准等进行精心选择，使超声波探伤尽可能准确、可靠、高效。 预清洗是渗透检验的首道工序，主要用于去除零件表面的油污等表面污染。
常见典型探头的功能：
1.它通常用于检测平行于锻件纵向表面的缺陷。
2.横波斜探头是一种利用横波探测的探头。它是一种探头，其入射角介于第1临界角和第2临界角之间，折射波为纯横波。主要用于检测垂直于检测面或与检测面成一定角度的缺陷，广泛应用于焊缝、管材、锻件的检测。
3.纵波角探头是一种入射角小于第1临界角的探头。其目的是用小角度纵波进行缺陷检测，或在横波衰减过大的情况下，利用纵波穿透力强的特点进行纵波斜入射检测。使用时，应注意试样中是否存在横波干扰。 工件的几何形状对磁粉探伤影响较大，而对渗透探伤影响不大。衢州码科泰克探伤剂报价
荧光探伤是利用荧光材料在紫外光照射下，在零件表面荧光涂层的性质下，借助荧光检测零件表面缺陷。无锡黑油探伤剂代理
1） 由于超声波的衍射作用，超声波探伤的灵敏度约为波长的一半。在同一种材料中，超声波的传播速度是一定的，因此提高频率可以缩短超声波的长度，提高检测灵敏度，有利于检测较小的缺陷。
2） 高频、小脉宽、高分辨率有助于区分相邻缺陷，提高分辨率。
3） 根据扩散公式，如果频率高，超声波长度长，半扩散角小，声束方向性好，超声能量集中，有利于缺陷的检测和定位，定量精度高。
4） 根据近场区长度公式，高频、长超声波、大近场长度不利于探伤。
5） 根据衰减和吸收公式，随着超声频率和介质粒度的增加，超声波的衰减迅速增加。 无锡黑油探伤剂代理
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