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4.角度

在检测中，超声波束的轴线应尽量与缺陷垂直。因此，角度的选择应根据试件中缺陷的类型和位置以及工件允许的探伤条件来选择。根据反射和折射定律以及相关的几何知识，选择合适角度的探头。以探头的K值为例，折射角对探测灵敏度、波束轴线方向、主波声程（入射点到底反射点的距离）有很大影响。当β=40°（k=0.84）时，声压的往复传播率较高，即检测灵敏度较高。

可以看出，K值越大，β值越大，主波的声程越大。因此，当工件厚度较小时，应选择较大的K值，以增大一次波的声程，避免近场检测。

3.探针晶片尺寸

探针晶片的形状一般为圆形和方形。探头的芯片尺寸对超声波探伤结果有一定的影响，选择时主要考虑以下因素。

1） 半扩散角。根据扩散角公式，随着晶片尺寸的增大，半扩散角减小，波束指向性好，超声能量集中，有利于缺陷检测。

2） 探伤近场区。根据近场长度公式，近场区长度随晶圆尺寸的增加而增大，不利于缺陷检测。

3） 晶圆尺寸大，辐射超声能量强，探头未显影区扫描范围大，远程缺陷检测能力增强。

对于探伤面积较大的工件，应选用大型圆片探头，以提高探伤效率；对于厚度较大的工件，应采用大型圆片探头，以便有效地检测远距离缺陷；对于小型工件，为了提高缺陷的定位和定量精度，应采用小型芯片探头；对于表面不平整、曲率较大的工件，应减少耦合损耗，应选用小型芯片探头。 无锡码科泰克探伤剂代理商荧光探伤是利用荧光材料在紫外光照射下，在零件表面荧光涂层的性质下，借助荧光检测零件表面缺陷。

对比度高。磁粉检测方法的应用是观察缺陷形成的磁痕，并根据磁痕判断缺陷。当存在缺陷时，磁痕的亮度和颜色与周围背景有很大的差异。这种差异也叫做对比度。普通磁粉检测的对比度只有9:1，荧光磁粉检测的对比度在300:1到1000:1之间。

灵敏度高，可在实际应用中推广应用。荧光磁粉探伤可以发现普通磁粉探伤无法发现的横向小孔。

鉴于荧光磁粉检测灵敏度高、检测率高，在狭窄部位的应用效果也非常明显。这种方法可以应用于人眼不易接近的许多领域。

根据该方法的应用原理，需要配备**紫外线探伤灯。然而，虽然这样可以保证检测效果，但紫外线探伤灯对人体的危害却不容忽视，成为应用过程中的一大障碍。

使用LED灯，您可以使用多个配置进行检测。灯具可设计用于特定应用和用途。用于近距离探测的灯具有聚焦强光斑，但照明面积小。为了获得更大的辐照面积，需要一定数量的LED微珠。但是，如果发光LED灯组离探伤表面太近，会出现亮点和黑斑图案。这需要在工作距离和暴露区域之间进行权衡。

LED UV-A灯的工作距离是指提供均匀照明覆盖所需的极限距离。当接近被检查表面时，LED灯组中的每个LED珠都会投射出一束单独的光束，并且在它们之间有一个暗淡的区域。这种不均匀覆盖会影响探伤质量，并且在它们之间有一个暗淡的区域。这种不均匀覆盖会影响探伤质量，并可能导致虚假显示。然而，如果灯远离待检表面，则单个led珠发出的光束将整合成光滑均匀的形状。只有当灯的位置超过极限工作距离时，才能进行探伤。 在工业上，磁粉检测可作为产品检验的末步工序，以保证工件在经过各种加工工序后不会在表面产生有害缺陷。

入射方向的选择应使声束中心线尽可能靠近缺陷延伸面，尤其是垂直于应力方向的缺陷表面，并尽量获得缺陷信号。另外，为了避免被检测工件的形状和结构引起的反射或变形信号，给缺陷识别带来困难，在没有干涉信号方向的地方也应选择入射方向。必要时，应从两侧进行检查。

探头的选择也很重要。作为超声检测的重要工具之一，探头种类繁多，结构形式也不尽相同。测试前，应根据被测物体的形状、衰减和技术要求选择探头。探头的选择包括探头类型、频率、晶片尺寸和斜探头折射角（k值）的选择。一般根据工件的形状和可能出现的缺陷的位置和方向来选择探伤方法。一旦确定了方法，还应确定应使用何种类型的探头。 用水清洗过的零件，在进行干粉显像或非水湿显像时，必须进行干燥。丽水渗透探伤剂联系方式

着色渗透剂是常用的检测方法，主要用于检测如焊接裂纹、疲劳裂纹、应力腐蚀裂纹、磨削裂纹、淬火裂纹等。丽水U-ST探伤剂代理商

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