上海芯片可靠性测试实验

可靠性试验与失效分析 可靠性是电子设备的重要质量特性之一，它直接关系到电子仪器装备的可用性，影响电子设备效能的发挥。上海天梯检测技术有限公司为客户提供从元器件级别，到电路板/模块级别，到整机系统级别的气候环境试验、机械力学试验、产品性能检测，以及相关的失效分析服务。 可靠性测试服务项目 高温测试 跌落测试 低温测试 寿命测试 高、低温循环测试 跌落测试 冷热冲击测试 盐雾实验 防火测试 电子产品性能测试 防水测试 大声压测试(EN50332) 防尘测试 音频性能测试 老化实验 天线性能测试 振动实验 太阳能光伏板(PV)性能测试电源可靠性测试有哪些?上海芯片可靠性测试实验

上海天梯检测技术有限公司较新检测项目及标准 20、可靠性试验： 设备可靠性试验 恒定失效率假设下的失效率与平均无故障时间的验证试验方案：GB/T 5080.7-1986，IEC 60605-7:1978； 设备可靠性试验 恒定失效率假设的有效性检验：GB/T 5080.6-1996，IEC 60605-6:1989； 设备可靠性试验成功率的验证试验方案：GB/T 5080.5-1985，IEC 60605-5:1982； 设备可靠性试验 可靠性测定试验的点估计和区间估计方法 (分布)：GB/T 5080.4-1985，IEC 60605-4:1978。 可靠性试验 第2部分：试验周期设计 GB/T 5080.2-2012，IEC 60605-2:1994； 可靠性试验 第1部分：试验条件和统计检验原理 GB/T 5080.1-2012，IEC 60300-3-5:2001。老化可靠性测试可靠性是电子设备的重要质量特性之一。

上海天梯检测技术有限公司同时也可为企业量身制定运输测试方案,依据企业自身产品特性,以及实际的流通环境。 三,包装材料检测：A,纸制品测试：包括纸和纸板,瓦楞纸板,纸箱,纸护角,纸管,蜂窝纸板等的各项物理性能测试；试验项目：定量,抗张强度,吸水性,耐破强度,边压强度,平压强度,空箱抗压强度,水份,粘合强度,戳穿强度,弯曲挺度,防潮性能,分层定量,纵向抗压,抗弯试验等等； B,塑料制品测试：包括胶带,EPE,EPS,打包带,薄膜,缠绕膜等的各项物理性能测试；试验项目：初粘性,持粘性,180度剥离强度,厚度,尺寸稳定性,密度,压缩性能,缓冲性能,较久变形,回弹率,拉伸强度和断裂伸长率,偏斜度,粘性,抗刺穿等等： C,托盘/木箱类测试：包括胶合,纸制,实木,塑料等材料所制各类型托盘的物理性能测试；试验项目：堆码,弯曲,剪切,边缘冲击,垫块冲击,压力,角跌落,胶合强,含水率,翘曲度,动载,静载,握钉力等等

温湿环境试验系列 　　序号 项目 试验范围 　　1 高温试验 （1）高温箱(小) 常温~300℃ 　　（2）1m3 常温~100℃ 　　（3）16 m3 常温+10℃~80℃ 　　（4）40 m3 常温+10℃~80℃ 　　2 低温试验 （1）0.2 m3 -40℃ 　　（2） 1m3 -40℃ 　　（3）16 m3 -40℃ 　　（4）16 m3 -40℃--70℃ 　　3 恒定湿热 （1）0.2 m3 20℃~80℃ 30%~95%R.H 　　（2） 1m3 20℃~80℃ 20%~98%R.H 　　（3）16 m3 20℃~80℃ 30%~95%R.H 　　（3）40 m3 20℃~80℃ 30%~95%R.H 　　4 交变高低温湿热 （1）0.2m3 -20℃~80℃ 30%~95%R. 　　（2）1m3 -40℃~80℃ 20%~98%R.H 　　（3）16 m3 -40℃~80℃ 30%~95%R.H 　　5 盐雾试验 　　35℃~50℃ 250L （1） 中性盐雾 　　（2） 铜加速乙酸 　　（3） 交变盐雾无人机常用的可靠性测试有哪些？

上海天梯检测技术有限公司可靠性试验目的： 环境试验与可靠性试验的区别： 试验终止判据： 环境试验不允许出现故障，产品一量出现故障，就认为通不过试验，试验即告停止并进行故障分析，采取纠正措施，改进设计。这是环境试验的TAAF过程。而可靠性试验是以一定的统计概率表示结果的试验，根据合同要求的可靠性定量指标和所选统计方案确定允许出现的故障数。试验要一直进行到达规定的总台时数才能停止。整个试验过程中应建立故障报告，分析和纠正措施系统(FRACAS)可靠性测试有作用吗？上海芯片可靠性测试中心

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上海天梯检测技术有限公司较新检测项目及标准 15、IP防护等级（外壳防护试验）： 外壳防护等级（IP代码）：GB 4208-2008 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验R：水试验方法和导则：GB/T 2423.38-2008 16、低温/振动(正弦)综合试验： 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Z/AFc：散热和非散热试验样品的低温/振动(正弦)综合试验 GB/T 2423.35-2005 17、高温/振动(正弦)综合试验： 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Z/BFc：散热和非散热试验样品的高温/振动(正弦)综合试验 GB/T 2423.36-2005 18、温度（低温、高温）/低气压/振动（随机）综合试验： 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Z/ABMFh：温度（低温、高温）/低气压/振动（随机）综合 19、温度（低温、高温）/低气压/振动（正弦）综合试验： 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验：温度（低温、高温）/低气压/振动（正弦）综合 上海芯片可靠性测试实验

上海天梯检测技术有限公司成立于2013年，总部设在上海交大金桥国家科技园，是中国合格评定国家认可委员会(CNAS)认可实验室(No. CNAS L7352)，计量认证(CMA)认可实验室(170921341417)，上海交大金桥科技园检测公共服务平台，上海市研发公共服务平台服务企业，上海市浦东新区科技服务机构发展促进会会员单位，上海市****。我们有前列的测试设备，专业的工程师及**团队。公司成立以来着重于产品的环境可靠性实验，材料性能实验，在汽车，造船，医疗，运输等行业为企业提供了专业的测试技术服务，坚持‘准确，及时，真实，有效，提升’的质量方针，凭过硬的检测技术和工作质量，向广大客户提供准确，高效的检测服务，我们的检测报告具有国际公信力，得到了23个经济体的37个国家和地区的客户认可。