上海pcb可靠性测试方法

上海天梯检测技术有限公司较新检测项目及标准 1、低温试验： 低温测试标准：电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验A：低温GB/T 2423.1-2008，只做：温度≥-70℃。 2、高温试验： 高温测试标准：电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验B：高温 只做：温度≤300℃。 3、恒定湿热试验： 湿热试验标准：电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Cy: 恒定湿热主要用于元件的加速试验 GB/T 2423.50-2012，IEC 60068-2-67:1995。只做：温度（10～95）℃,湿度：（20～98）%RH 电工电子产品环境试验 第2部分： 试验方法 试验Cab：恒定湿热试验 GB/T 2423.3-2006，IEC 60068-2-78：2001 只做：温度（10～95）℃,湿度：（20～98）%RH。 4、交变湿热试验： 电工电子产品环境试验 第2部分 试验方法 试验Db：交变湿热（12h＋12h循环） GB/T2423.4-2008，IEC 60068-2-30:2005。只做：温度（10～95）℃,湿度：（20～98）%RH。可靠性测试有哪些?怎么办理可靠性测试？上海pcb可靠性测试方法

上海天梯检测技术有限公司可靠性试验目的： 要包括高温试验、低温试验、温度快速变化试验、温度冲击试验、恒定温湿度试验、温湿度循环试验、盐雾试验、防水防尘试验、紫外老化试验和氙灯老化试验等。是考核产品在各种环境条件下的适应能力，是评价产品可靠性的重要试验方法之一。 低温试验 试验目的：用来考核试验样品在低温条件下贮存或使用的适应性。常用于产品在开发阶段的型式试验、元器件的筛选试验等。 试验设备：高低温(湿热)试验箱。 试验条件：一般选定一恒定的温度和试验时间。 推荐常用的温度有：- 65℃，-55℃，-40℃，-25℃，-10℃，-5℃，+5℃等; 推荐常用的试验时间有：2h，16h，72h，96h等。上海电子可靠性测试检测单位手机的可靠性标准是什么,有什么可靠性测试呢?

HALT(Highly Accelerated Life Test，高加速寿命试验)-HASS(Highly Accelerated Stress Screening，高加速应力筛选)、这是一种能够提高产品可靠性的测试手段，HALT/HASS 是由美国军方所延伸出的设计质量验证与制造质量验证的试验方法，现已成为美国电子业界的标准产品验证方法。它将原需花费6 个月甚至1 年的新产品可靠性试验缩短至一周，且在这一周中所发现的产品问题几乎与客户应用后所发现的问题一致，故HALT/HASS 的试验方式已成为新产品上市前所必需通过的验证。在美国之外，许多国际的3C 电子产品大厂也都使用相同或类似的手法来提升产品质量。 HALT 是一种通过让被测物承受不同的应力、进而发现其设计上的缺限，以及潜在弱点的实验方法。加诸于产品的应力有振动，高低温，温度循环，电力开关循环，电压边际及频率边际测试等。HALT 应用于产品的研发阶段，能够及早地发现产品可靠性的薄弱环节。

为了确认产品能在这些环境下正常工作，国标、行标都要求产品在环境方法模拟一些测试项目，上海天梯检测技术有限公司为客户提供以下可靠性测试服务： 高低温循环测试 恒温恒湿测试 交变湿热测试 低温存储测试 高温存储测试 高低温冲击测试 盐雾测试(Salt Spray Test) 开关电测试(Switch electrical test) 胶带附着力测试(The tape adhesion test) 振动测试随机/正弦(Vibration test) 包装箱自由跌落测试(Drop test) 元器件推拉力测试(Push And Pull) 蒸气老化测试(Steam Aging test) 元器件可焊性测试(Solderability test) IP等级防护测试 电源拉扭力测试 LED光衰寿命测试及认证 回焊炉试验 塑封芯片MSL等级测试可靠性试验测试的目的是什么？

上海天梯检测技术有限公司可靠性试验目的： 环境试验与可靠性试验的区别： 环境试验与可靠性试验虽然关系紧密，但它们在试验目的，所用环境应力数量，环境力量值选用准则，试验类型，试验时间，试验终止判据方面存在截然的不同之处。 试验目的： 环境试验考察的是产品对环境的适应性，确定产品的环境适应性设计是否符合合同要求，为接收，拒收提供决策依据。而可靠性试验是定量评估产品的可靠性，即产品在规定环境条件下，规定时间内完成规定功能的概率。可靠性测试有什么意义呢？上海温湿度可靠性测试项目

可靠性测试哪里可以做?上海pcb可靠性测试方法

上海天梯检测——高压空载，低压限流态运行试验 测试说明： 高压空载运行是测试模块的损耗情况，尤其是带软开关技术的模块，在空载情况下，软开关变为硬开关，模块的损耗相应增大。低压满载运行是测试模块在较大输入电流时，模块的损耗情况，通常状态下，模块在低压输入、满载输出时，效率较低，此时模块的发热较为严重。 测试方法： A、将模块的输入电压调整为输入过压保护点-3V，模块的输出为较低输出电压，空载运行，此时，模块的占空比为较小，连续运行2小时，模块不应损坏； B、将模块的输入电压调整为欠压点+3V，模块的输出为较高输出电压的拐点状态，此时模块的占空比为较大，连续运行2小时，模块不应出现损坏上海pcb可靠性测试方法

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