上海UV光照老化可靠性测试试验

上海天梯检测技术有限公司可靠性试验目的： 元件、产品、系统在一定时间内、在一定条件下无故障地执行指定功能的能力或可能性。可通过可靠度、失效率、平均无故障间隔等来评价产品的可靠性。 对产品而言，可靠性越高就越好。可靠性高的产品，可以长时间正常工作（这正是所有消费者需要得到的）；从专业术语上来说，就是产品的可靠性越高，产品可以无故障工作的时间就越长。 产品实际使用的可靠性叫做工作可靠性。工作可靠性又可分为固有可靠性和使用可靠性。固有可靠性是产品设计制造者必须确立的可靠性，即按照可靠性规划，从原材料和零部件的选用，经过设计、制造、试验，直到产品出产的各个阶段所确立的可靠性。使用可靠性是指已生产的产品，经过包装、运输、储存、安装、使用、维修等因素影响的可靠性安全性测试与可靠性测试有什么区别？上海UV光照老化可靠性测试试验

上海天梯检测技术有限公司可靠性试验目的： 环境试验与可靠性试验的区别： 环境试验与可靠性试验虽然关系紧密，但它们在试验目的，所用环境应力数量，环境力量值选用准则，试验类型，试验时间，试验终止判据方面存在截然的不同之处。 试验目的： 环境试验考察的是产品对环境的适应性，确定产品的环境适应性设计是否符合合同要求，为接收，拒收提供决策依据。而可靠性试验是定量评估产品的可靠性，即产品在规定环境条件下，规定时间内完成规定功能的概率。上海电子仪器可靠性测试试验可靠性试验的目的以及分类都有那些?

上海天梯检测，输入低压点循环测试 一次电源模块的输入欠压点保护的设置回差，往往发生以下情况：输入电压较低，接近一次电源模块欠压点关断，带载时欠压，断后，由于电源内阻原因，负载卸掉后电压将上升，可能造成一次电源模块处于在低压时反复开发的状态。 电源模块带满载运行，输入电压从（输入欠压点－3V）到（输入欠压点＋3V）缓慢变化，时间设置为5～8分钟，反复循环运行，电源模块应能正常稳定工作，连续运行较少0.5小时，电源模块性能无明显变化。

LED的可靠性检测 led的发光方式与传统光源截然不同。它是利用半导体PN节中的电子与空穴的复合来发光。发光方式的不同决定了LED与传统光源有着本质的区别，也决定了它有自己独特之处。 1.恒定湿热测试：灯具在经过冲击测试后，不能发生漏电、点灯不亮等电气异常现象。测试方法：按led灯具的额定输入电压接通电源点灯;通过继电器控制灯具在常温常压下进行冲击测试，测试设置为：点灯30s、熄灯30s,循环10000次。 灯具在经过冲击测试后，不能发生漏电、点灯不亮等电气异常现象。 2.通过调压器将led灯具的输入电压调为较大额定输入电压的1.1倍;将灯具按以上方法在上下、左右、前后三个方向上分别测试30分钟。将led灯具放置在一个室温为25℃的环境下;温度循环测试：通过调压器将led灯具的输入电压调为较小额定输入电压的0.9倍可靠性测试项目包含哪些内容？

    MTBF验证实验：MTBF是当前各行业产品的重要可靠性指标，它标识了产品的平均无故障工作时间。MTBF英文全称是“MeanTimeBetweenFailure”。是衡量一个产品（尤其是电器产品）的可靠性指标。单位为“小时”。它反映了产品的时间质量，是体现产品在规定时间内保持功能的一种能力。具体来说，是指相邻两次故障之间的平均工作时间，也称为平均故障间隔。概括地说，产品故障少的就是可靠性高，产品的故障总数与寿命单位总数之比叫“故障率”（Failurerate）。根据MTBF能计算产品的失效率(Failurerate)故障率（Failurerate）:在单位时间内（一般以年为单位），产品的故障总数与运行的产品总数之比叫做故障率，常用λ表示。例如，共有100台设备运行，一年之内出了2次故障，那么该设备的故障率为2/100=。当产品的寿命服从指数分布（见下图）时，故障率的倒数就是MTBF，即平均故障间隔时间。例如某产品A的MTBF为22万小时。22万小时约为25年，并不是说A产品能工作25年不出故障。因为MTBF=1/λ,所以可以计算出故障率λ=1/MTBF=1/25=4%,即A产品的平均年故障率为4%，一年内。 可靠性测试有作用吗？可靠性测试试验

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上海天梯检测——高压空载，低压限流态运行试验 测试说明： 高压空载运行是测试模块的损耗情况，尤其是带软开关技术的模块，在空载情况下，软开关变为硬开关，模块的损耗相应增大。低压满载运行是测试模块在较大输入电流时，模块的损耗情况，通常状态下，模块在低压输入、满载输出时，效率较低，此时模块的发热较为严重。 测试方法： A、将模块的输入电压调整为输入过压保护点-3V，模块的输出为较低输出电压，空载运行，此时，模块的占空比为较小，连续运行2小时，模块不应损坏； B、将模块的输入电压调整为欠压点+3V，模块的输出为较高输出电压的拐点状态，此时模块的占空比为较大，连续运行2小时，模块不应出现损坏上海UV光照老化可靠性测试试验

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