上海芯片可靠性综合测试实验室

上海天梯检测技术有限公司较新检测项目及标准 20、可靠性试验： 设备可靠性试验 恒定失效率假设下的失效率与平均无故障时间的验证试验方案：GB/T 5080.7-1986，IEC 60605-7:1978； 设备可靠性试验 恒定失效率假设的有效性检验：GB/T 5080.6-1996，IEC 60605-6:1989； 设备可靠性试验成功率的验证试验方案：GB/T 5080.5-1985，IEC 60605-5:1982； 设备可靠性试验 可靠性测定试验的点估计和区间估计方法 (分布)：GB/T 5080.4-1985，IEC 60605-4:1978。 可靠性试验 第2部分：试验周期设计 GB/T 5080.2-2012，IEC 60605-2:1994； 可靠性试验 第1部分：试验条件和统计检验原理 GB/T 5080.1-2012，IEC 60300-3-5:2001。什么叫可靠性测试和环境测试？上海芯片可靠性综合测试实验室

不同的产品所需要的可靠性测试内容是不一样的，比如电子产品就需要非常专门的环境来进行检测，这是因为电子产品里的零部件比较复杂，组装也比较精密，所以需要特殊的环境来进行检测，比如一些温度、湿度、低压、高压等环境，在不能超过它较大承受力的同时，达到较佳的测试效果。在对产品进行可靠性测试的时候，一定要提前对产品的极限承受力非常熟悉，每一种产品都会有它的极限承受水平，一旦超过这个水平产品就会发生功能性的损失或者加速老化等，因此在进行检测的时候，一定要控制好变量，把握准确环境因素。上海电路板可靠性测试机构电话测试可靠性是指运行应用程序，以便在部署系统之前发现并移除失败。

可靠性测试中的“双85”试验被普遍地应用于LED和光伏产业中，LED的光源、模组和零配件都必须开展可靠性的“双85”试验去再现高温湿的环境对其组件的破坏，同时“双85“试验也是检测产品使用寿命常用的一个可靠性测试。到目前为止“双85”试验已经普遍应用到各行各业中，例如电子电工、通讯技术、仪表仪器、车辆、医疗、塑胶制品、航天航空等行业普遍的应用。双85试验指的是试验箱的温度设定为85℃，且湿度为85%的条件下，对试验样品进行可靠性测试试验，“双85”试验也是一种比较严酷的可靠性测试试验。

在很多厂商电子产品的宣传视频或者广告视频中，我们总是会发现视频中出现一些实验室的镜头，模拟各种恶劣的环境对产品的工作状况进行记录，来检测产品在恶劣条件下的适应能力和承受能力，这就是一种可靠性强化实验，人们看到这样的视频也会在心里对该产品打一个相对高的分数。由此可见，无论什么时候人们都希望通过科学方式来验证一切未知事物。尤其对于与自己生活息息相关的产品人们更希望从多方面看到它的好处。我国国产汽车逐步崛起的很大一部分原因在于国产机器设备越来越稳定，与国外先进技术的差距不断在缩小甚至赶超国外技术，这足以振奋人心。可靠性测试的开展能让用户在产品开发阶段，就对产品的属性有清晰的认知。

HALT 是一种通过让被测物承受不同的应力、进而发现其设计上的缺限，以及潜在弱点的实验方法。加诸于产品的应力有振动，高低温，温度循环，电力开关循环，电压边际及频率边际测试等。HALT 应用于产品的研发阶段，能够及早地发现产品可靠性的薄弱环节。包含以下内容： a、逐步施加应力直到产品失效或出现故障； b、采取临时措施，修正产品的失效或故障； c、继续逐步施加应力直到产品再次失效或出现故障，并再次加以修正； d、重复以上应力-失效-修正的步骤； e、找出产品的基本操作界限和基本破坏界限。 HASS应用于产品的生产阶段，以确保所有在HALT 中找到的改进措施能够得到实施。HASS 包含如下内容： a、进行预筛选、剔除可能发展为明显缺点的隐性缺点； b、进行探测筛选、找出明显缺点； c、故障分析；改进措施。可靠性测试可以是实验室内的试验。上海芯片可靠性综合测试实验室

一般什么产品要做可靠性测试?上海芯片可靠性综合测试实验室

    MTBF验证实验：MTBF是当前各行业产品的重要可靠性指标，它标识了产品的平均无故障工作时间。MTBF英文全称是“MeanTimeBetweenFailure”。是衡量一个产品（尤其是电器产品）的可靠性指标。单位为“小时”。它反映了产品的时间质量，是体现产品在规定时间内保持功能的一种能力。具体来说，是指相邻两次故障之间的平均工作时间，也称为平均故障间隔。概括地说，产品故障少的就是可靠性高，产品的故障总数与寿命单位总数之比叫“故障率”（Failurerate）。根据MTBF能计算产品的失效率(Failurerate)故障率（Failurerate）:在单位时间内（一般以年为单位），产品的故障总数与运行的产品总数之比叫做故障率，常用λ表示。例如，共有100台设备运行，一年之内出了2次故障，那么该设备的故障率为2/100=。当产品的寿命服从指数分布（见下图）时，故障率的倒数就是MTBF，即平均故障间隔时间。例如某产品A的MTBF为22万小时。22万小时约为25年，并不是说A产品能工作25年不出故障。因为MTBF=1/λ,所以可以计算出故障率λ=1/MTBF=1/25=4%,即A产品的平均年故障率为4%，一年内。 上海芯片可靠性综合测试实验室

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