光束质量分析仪基本参数
  • 品牌
  • 大恒光电,OceanOptics,专谱光电,ARCoptix
  • 型号
  • 齐全
光束质量分析仪企业商机

具体型号推荐BladeCam2-XHR-UV:适用于紧凑型光学系统,具有高分辨率和高信噪比,适合紫外和 1310 nm 波长。WinCamD-IR-BB:适用于中远红外光束分析,波长范围为 2 µm 至 16 µm,具有高信噪比和无斩波器设计。WinCamD-LCM:适用于 355 nm 至 1150 nm 波长范围的光束质量分析,具有高分辨率和高帧率。通过综合考虑以上因素,您可以选择出**适合您应用需求的 DataRay 光束质量分析仪。如果您需要更详细的建议或具体型号的推荐,建议联系相关供应商谱镭光电。WinCamD-IR-BB可用于现场对CO₂激光器的光束质量进行分析,快速评估激光器的性能状态。发散角光束质量分析仪

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光束特性光束半径或直径范围:确定要测量的光束半径或直径范围,以及所需的测量精度。光束形状:考虑光束是否接近高斯分布,或者具有复杂的形状,如二极管条的输出。光功率范围:确定光功率范围,是否需要大动态范围的设备,或者是否可以在狭窄的光功率范围内工作。3. 测量精度传感器类型:选择合适的传感器类型,如 CCD 或 CMOS。虽然 CCD 在影像品质上可能优于 CMOS,但 CMOS 具有低成本、低功耗和高整合度的特点。像素大小:像素大小影响可测量的**小光束尺寸。一般要求**小测试光斑直径大于等于10个像素点大小。动态范围和信噪比:高动态范围和高信噪比的传感器可以提供更准确的测量结果。四川自动光束质量分析仪哪家好DataRay 的 WinCamD-IR-BB 是一款专为中红外(MWIR)和远红外(FIR)波段设计的光束质量分析仪。

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DataRay 大靶面光束质量分析仪 TaperCamD-LCM产品概述TaperCamD-LCM 是 DataRay 推出的一款高性能大靶面光束质量分析仪,专为测量大尺寸光束设计。它结合了 WinCamD-LCM 的高信噪比和全局快门技术,提供了非常紧凑且易于使用的解决方案。主要特点大靶面尺寸:25 mm × 25 mm 的有效区域,适用于大尺寸光束测量。高分辨率:4.2 MPixel,2048 × 2048 像素,确保高精度测量。高信噪比:2500:1,确保测量的可靠性和准确性。全局快门:支持光学和电子触发,适用于连续和脉冲激光。USB 3.0 接口:端口供电,即插即用,无需外接电源适配器。电子快门范围:79 µs 至 2 s,动态范围 44 dB。软件功能强大:支持 ISO 11146 标准,提供 M²、D4σ、Knife-Edge 等参数测量。多种波长选项:标准波长范围为 355 nm 至 1150 nm。

软件功能实时监控与记录:支持实时数据处理和长期稳定性分析。光束参数测量:能够测量光束直径、椭圆度、质心位置、光束漂移等参数。数据记录与统计:支持最小值、最大值、平均值、标准偏差等统计功能。M² 测量:对于完整的光束质量表征,设备是否应自动记录不同位置的光束轮廓并计算 M² 因子。5. 其他考虑因素连接方式:考虑设备连接到 PC 的便利性,例如通过 USB 2.0 或 USB 3.0 电缆。快门类型:全局快门适用于高速生产线检测的使用场景。设备尺寸与便携性:根据使用场景选择合适尺寸的设备,例如 BladeCam-HR 的紧凑设计使其能够轻松集成到现有的光学系统中。对于激光加工设备制造商来说,WinCamD-IR-BB是评估设备性能和进行优化的重要工具。

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WinCamD-LCM 光束质量分析仪的特点1. 高分辨率成像传感器类型:1 英寸 CMOS 传感器。分辨率:4.2 MPixel,2048×2048 像素。像素尺寸:5.5 µm。有效成像面积:11.3 mm×11.3 mm。2. 高帧率帧率:比较高可达 60 fps(@512×512),30 fps(@1024×1024),12 fps(@2048×2048)。接口:USB 3.0,即插即用,无需外接电源适配器。3. 全局快门与电子快门全局快门:支持连续光和脉冲光测量,带有 TTL 触发功能。电子快门范围:85 µs 至 2 秒,动态范围 44 dB。4. 高信噪比信噪比:2500:1(34 dB 光学 / 68 dB 电气)。通过对比WinCamD-IR-BB的测量结果与仪器自身的测量结果,发现并修正仪器的误差。云南扫描狭缝光束质量分析仪多少钱一台

在激光物理、光学材料研究等领域,用于分析和优化激光光束特性。发散角光束质量分析仪

光束分析仪测量 M² 的方法光束质量因子 M² 是评估激光光束质量的重要参数,表示实际激光光束与理想高斯光束的接近程度。以下是光束分析仪测量 M² 的主要方法和步骤:1. 标准多次成像法根据国际标准化组织(ISO 11146)标准,多次成像法是测量 M² 的常用方法。具体步骤如下:光束采样:在光束传播路径上,使用光束分析仪在多个不同位置(通常至少10个)采集光束的横截面图像。这些位置应包括光束腰两侧的一个瑞利长度内(|z|<zR)和两个瑞利长度之外(|z|>2zR)。数据拟合:通过分析采集到的光束宽度数据,利用双曲线拟合方法计算 M² 值。2. 单次成像法单次成像法通过一次成像获取光束传播的关键参数,并基于光场传输理论推导出 M² 值。这种方法的**在于:近场光斑测量:使用光束分析仪采集单幅激光近场光斑。模式分解与光场重构:通过模式分解技术得到激光的各本征模式占比及相对相位,进而重构光场分布并计算得到 M² 值。发散角光束质量分析仪

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