光束分析仪测量 M² 的方法光束质量因子 M² 是评估激光光束质量的重要参数,表示实际激光光束与理想高斯光束的接近程度。以下是光束分析仪测量 M² 的主要方法和步骤:1. 标准多次成像法根据国际标准化组织(ISO 11146)标准,多次成像法是测量 M² 的常用方法。具体步骤如下:光束采样:在光束传...
DataRay 的狭缝分析仪(如 Beam'R2 和 BeamMap2)是高性能的激光光束质量分析工具,广泛应用于激光光束的实时测量和分析。DataRay 狭缝分析仪产品特点高分辨率与高精度:Beam'R2 和 BeamMap2 提供高达 0.1 µm 的分辨率,能够测量直径小至 2 µm 的激光光束。精度可达 ± <2% ± 0.5 µm。宽波长覆盖范围:波长范围覆盖从 190 nm 到 2500 nm,支持多种探测器选项,包括硅(Si)、InGaAs 和扩展 InGaAs。实时多平面测量:BeamMap2 在旋转圆盘上安装 4 对狭缝,可同时在四个不同的 z 位置测量光束轮廓,实现实时 M²、发散角和指向稳定性的测量。测量加工光束的强度分布和光斑大小,确保加工效果的一致性。河北刀口式光束质量分析仪检测设备

应用领域中远红外激光测量:适用于 CO₂ 激光器(10.6 µm)、量子级联激光器(QCL)等。现场服务与维护:用于 MIR/FIR 激光及基于激光的系统的现场维护。光学组件与仪器校准:确保光学系统的精确对准和校准。光束漂移与记录:监测光束的动态变化,记录漂移数据。软件功能**全功能软件:支持 ISO 11146 标准,提供 M²、D4σ、Knife-Edge 等参数测量。实时数据处理:支持实时非均匀性校正(NUC)与背景扣除。多相机支持:支持多台相机并行采集,提高测量效率。数据记录与统计:支持最小值、最大值、平均值、标准差等统计功能。重庆发散角光束质量分析仪费用在工业生产线上,它可以实时监测激光束的状态,及时发现并解决问题,确保生产过程的稳定性和高效性。

典型应用•CO₂激光器(10.6µm)现场维护与功率密度验证•量子级联激光器(QCL)光束轮廓、M²测试•中红外OPO/OPA系统对准与长期漂移记录•硅基/硫系波导MIR光子芯片出光质量分析•医疗Er:YAG(2.94µm)、Ho:YAG(2.1µm)外科激光焦点监控配置与附件•标配ND-IRGe滤光片(ND1、ND2)•可加保偏光采样器、C-mount透镜组、M²DU自动导轨•30天试用,3年质保,全球分销支持如需更高功率或更大光斑,可叠加LBPS(200mm光束仿形系统)或LLPS(线激光轮廓仪)。
光束特性光束半径或直径范围:确定要测量的光束半径或直径范围,以及所需的测量精度。光束形状:考虑光束是否接近高斯分布,或者具有复杂的形状,如二极管条的输出。光功率范围:确定光功率范围,是否需要大动态范围的设备,或者是否可以在狭窄的光功率范围内工作。3. 测量精度传感器类型:选择合适的传感器类型,如 CCD 或 CMOS。虽然 CCD 在影像品质上可能优于 CMOS,但 CMOS 具有低成本、低功耗和高整合度的特点。像素大小:像素大小影响可测量的**小光束尺寸。一般要求**小测试光斑直径大于等于10个像素点大小。动态范围和信噪比:高动态范围和高信噪比的传感器可以提供更准确的测量结果。利用聚焦透镜将每个衍射模式聚焦到BladeCam-XHR上,可以测量线性阵列中多个光束的轮廓。

DataRay光束分析产品已在全球20余个行业批量使用,可概括为“5大领域+20+细分场景”:光通信•光纤熔接与耦合(1550nm优化)•硅光芯片、CPO封装光束对准•光缆加工质量监控激光制造与工业加工•激光切割/焊接/打标/增材制造(1µm、10µm波段)•激光器生产线M²、发散角、能量分布100%在线检测•高功率(>kW)聚焦光斑实时监控(配合LBPS/LLPS)医疗与生命科学•眼科飞秒、皮肤科点阵激光焦点诊断•激光手术设备维护与法规认证(IEC60825光束参数)•流式细胞仪、共聚焦显微镜激光源品控科研与计量•超快激光(fs/ps)时空特性表征•太赫兹、中红外量子级联激光束测量(2–16µm)•光学频率梳、冷原子实验光束漂移记录新兴消费电子与汽车•LiDAR(905nm/1550nm)VCSEL阵列远场分析•AR/VR结构光模组、光学鼠标LED/激光光源测试•车载激光雷达量产线100%光束一致性检测得益于190nm–16µm全波段覆盖、μm–200mm全尺寸范围及3年质保,DataRay已成为上述行业光束质量量化的“标准配置”。光束质量分析仪通常具有友好的用户界面和操作软件,使得用户可以轻松地进行测量设置、数据采集和分析。山东相机型光束质量分析仪费用
在光学实验室和光学制造企业中,WinCamD-IR-BB可用于对各种光学元件进行校准和测试。河北刀口式光束质量分析仪检测设备
DataRay 的 HyperCal™ 动态噪声校正技术可以显著提高测量精度。5. 机械和光学系统精度高精度机械控制系统:机械转动系统和位移测量系统的精度直接影响测量结果。采用高精度的机械控制系统和位移测量技术(如莫尔条纹测距方法)可以显著提高测量精度。光学系统校准:定期校准光学系统,确保光束质量分析仪的光学系统处于比较好状态。6. 环境和操作条件控制温度和振动控制:在稳定的环境条件下(如恒温、低振动)进行测量,可以减少环境因素对测量精度的影响。操作规范:按照操作规范进行测量,确保测量过程的准确性和一致性。7. 多次测量和统计分析多次测量:通过多次测量并取平均值,减少随机误差对测量结果的影响。统计分析:对测量数据进行统计分析,评估测量结果的可靠性和重复性。8. 校准和验证定期校准:定期使用标准光源或已知光束质量的激光器对光束质量分析仪进行校准。第三方验证:通过第三方机构对光束质量分析仪进行验证,确保其测量精度。通过以上方法和措施,光束质量分析仪能够实现高精度的测量,确保激光光束质量参数的准确性和可靠性。河北刀口式光束质量分析仪检测设备
光束分析仪测量 M² 的方法光束质量因子 M² 是评估激光光束质量的重要参数,表示实际激光光束与理想高斯光束的接近程度。以下是光束分析仪测量 M² 的主要方法和步骤:1. 标准多次成像法根据国际标准化组织(ISO 11146)标准,多次成像法是测量 M² 的常用方法。具体步骤如下:光束采样:在光束传...
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