企业商机
治具基本参数
  • 产地
  • 江苏淮安
  • 品牌
  • 天恩电子
  • 型号
  • 齐全
  • 是否定制
治具企业商机

所谓主动化测验治具便是一种通过计算机软件操控,进行器件、PCBA、子系统和整体系统等测验的治具/设备。其中 心模块部分能够调节、更换,做到不同被测产品的通用,能够减省人工、主动完结测验序列,很大的提高了出产效率,被测产品的质量和可靠性。那么主动化测验治具它是如何分类的呢?主动化测验治具的分类有哪些呢?


从操控模块上区别主要有以下几部分:


1、操控器,操控大脑,主要是电脑,单片机,PLC等;


2、输入,输出切换模块,IOport;


3、信号源及量测模块;


4、电源部分;


5、数据报表及数据统计;


6、人机界面。 治具是一个木工、铁工、钳工、机械、电控以及其他一些手工艺品的大类工具。安徽做ICT治具的公司

  ICT的范围及特性

检查制成板上在线元器件的电气性能和电路网络的衔接状况。可以定量地对电阻、电容、电感、晶振等器件停止丈量,对二极管、三极管、光藕、变压器、继电器、运算放大器、电源模块等停止功用测试,对中小范围的集成电路停止功用测试,如一切74系列、Memory

类、常用驱动类、交流类等IC。

它经过直接对在线器件电气性能的测试来发现制造工艺的缺点和元器件的不足。元件类可检查出元件值的超差、失效或损坏,Memory类的程序错误等。对工艺类可发现如焊锡短路,元件插错、插反、漏装,管脚翘起、虚焊,PCB短路、断线等毛病。

测试的毛病直接定位在详细的元件、器件管脚、网络点上,毛病定位准确。对毛病的维修不需较多学问。采用程序控制的自动化测试,操作简单,测试快捷疾速,单板的测试时间普通在几秒至几十秒。 福建做FCT测试治具厂ICT测试治具与FCT测试治具都是电子产品制造设备都使用在产品生产线上。

测验原理



1)电阻测验


电阻是测验其阻值。其作业原理很简单,就是在电阻的测验针上加一个电流,然后测验这个电阻两头的电压,使用欧姆定律:


R=U/I


算出该电阻的阻值。


电容测验


测验电容是丈量其容量。小电容的测验办法与电阻类似,不过是用沟通信号,使用XC=U/I      一起,XC=1/(ωC)   而得C=I/(Uω)=I/(2πfU)F是测验频率,U、I是测验信号的电压和电流有效值。


大容量的电容测验用DC办法,即用直流电压加在电容两头,充电流随时间或指 数减少的规则,在测验时加一定的延时时间就可测出其容量。


电感测验


电感的测验办法和电容的测验类似,只用沟通信号测验。


二 极管测验



二极管正向测验时,加一正向电流在二极管上,二极管的正向压降为0.7V(硅资料管),加一反向电流在二极管上,二极管压降会很大。






所谓自动化测验治具便是一种通过计算机软件操控,进行器件、PCBA、子系统和整体系统等测验的治具/设备。其中 心模块部分能够调节、更换,做到不同被测产品的通用,能够减省人工、主动完结测验序列,很大的提高了出产效率,被测产品的质量和可靠性。那么自动化测验治具它是如何分类的呢?自动化测验治具的分类有哪些呢?


首要咱们从自动化程序上分为以下3种:


1、手动测验,一般为夹锁治具,直接用探针把输入输出引出来;


2、半自动测验,一般为气动及MCU,能够设备自身做一些探制及量测;


3、全自动测验,在测验过程中不要任何人工参加的功用测验。 ICT测试治具有单面双面之分.

治具在CNC精密零件加工有哪些优势:

1、多轴控制联动:一般通常状况下三轴联动用比较多,但是通过一些调整能够做到四轴,五轴,七轴甚至更多联动轴的加工中心。


2、机床并联:常见的加工中心其功能也是比较固定的,,能够把加工中心和车削中心,或者立式,卧式加工中心组合在一起,这能够增加加工中心的加工规模和加工能力。


3、刀 具破损预警:利用一些技能检测手段,能够及时发现刀 具的磨损,损坏的状况,并且进行报警,这样能够做到及时替换刀 具,以保证零件的加工质量。


4、刀 具的使用寿命办理:能够将多把一起作业的刀 具以及同一把刀 具上的多个刀片进行统一的办理,以提高生产效率。


5、机床过载断电维护:依据依据生产过程的负载设定比较大负载程度,当负载达到设定值时,机床能够实现主动断电关机,以对机床施行维护效果。



测试治具属于治具下面的一个类别,专门对产品的功能、功率校准、寿命、性能等进行测试、试验的一种治具。山东FCT测试治具哪家便宜

ICT治具能尽快找出焊接不良的位置,诸如漏件、错件、开短路、反向、连焊等问题。安徽做ICT治具的公司

ICT測試不良及常見故障的剖析方法有以下几点:


1.开路不良


所谓的开路不良便是指在某一个短路的群中,各个测试点之间本来应该是短路的,但却呈现了某个测试点对其地点短路群的其它测试点是开路的。


呈现开路不良的或许原因有以下下几个方面:


(1)PCB Open;

(2)零件形成的;它又包含以下下几个方面:

A.立件与漏件;

B.空焊;

C.零件不良


(3)测试点有问题的


A.探针未接触到的;

B.测试点氧化;

C.测试点有东西挡住的;

D.测试点在防焊区的 安徽做ICT治具的公司

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