光学测量分析系统基本参数
  • 品牌
  • 奥林巴斯
  • 型号
  • GX53
  • 类型
  • 立体显微镜,光学显微镜,电子显微镜,体视显微镜,镜金相显微镜,正置式金相显微
光学测量分析系统企业商机

专为观察和检测金属部件而设计的新型奥林巴斯GX53倒置金相显微镜采用具有超长使用寿命和低功耗的LED光源。为了提升观察和报告功能,GX53显微镜还配有版本的奥林巴斯Stream图像分析软件()。倒置金相显微镜能够从下方观察样品,可让用户不必调整样品表面朝向即可检测较厚或较重的样品。该功能让GX53显微镜成为观察汽车及其他金属部件微观结构的实用工具。GX53具有帮助检测人员更快完成任务的先进功能:1.细致入微:MIX观察可实现微观结构及其他表面特征的清晰成像2.编码硬件:保存观察设置,实现更快的检测和更高的生产率。3.逼真图像:采用具有均一色温的LED照明方式MIX观察:让难以观察的部位无可遁形作为较早采用MIX观察技术的GX系列产品,GX53显微镜能够获得非常清晰的表面结构图像。MIX技术将暗场与其他观察方法(如明场、荧光或偏光)结合使用,可获得独有的观察图像。MIX观察能够让用户观察使用传统显微镜难以观察的样品。暗场观察所用的环形LED照明设备的定向暗场功能可在特定时间内照明一个或多个象限。这样可以减少样品光晕,对于显示表面纹理非常有用。同时,奥林巴斯Stream®图像分析软件的升级版本利用图像合成功能提供具有比较低限度光晕的清晰图像。上海予罗检测科技有限公司光学测量分析系统值得用户放心。海南徕卡光学测量分析系统

分类石墨节点的形式,分布和大小。支持的标准:ISO,NF,ASTM,KS,JIS,GB/T球墨铸铁显示球墨铸铁铸铁解决方案高纯钢中非金属夹杂物的含量使用样本中手工找到的*差场或*差包含图像对非金属夹杂物进行分类。支持的标准:ISO,EN,ASTM,DIN,JIS,GB/T,UNI含非金属夹杂物的钢包含*差的现场解决方案轻松恢复显微镜设置:编码硬件编码功能将显微镜的硬件设置与OLYMPUSStream图像分析软件集成在一起。观察方法,照明强度和放大率可以记录并与相关图像一起存储。这些设置很容易复制,以便不同的操作人员可以在有限的培训中进行相同的质量检查。不同的操作员使用不同的设使用OLYMPUSStream软件检索设备设置。所有的操作员可以使用相同的设置。高效的报告生成创建报告往往需要比拍摄图像和进行测量更长的时间。OLYMPUSStream软件提供直观的报告创建功能,可根据预定义的模板重复生成复杂的报告。光学系统光学系统UIS2光学系统(无限校正)显微镜主机反射光照明通过镜像单元手动选择明场/暗场手动视场光阑/带对中的光圈开关开关光源:白光LED(带光强度管理器)/12V,100W卤素灯/100W**灯/光源观察模式:明场,暗场,差分界面对比度(DIC)*1,简单偏振*1,MIX观测。海南徕卡光学测量分析系统上海予罗检测科技有限公司为您提供光学测量分析系统,欢迎新老客户来电!

4个方向暗场)*2*1需要专门用于此观察的滑块.*2MIX观察配置是必配的透射光照明(可选)透射光柱(IX2-ILL100:带视场光阑)是必配的PMG3-LWCD:带孔径光阑的聚光镜(NAmm)光源:白光LED(带有光强度管理器)12V,100W卤素灯观察模式:明场,简易偏光刻度尺叠印所有端口从通过目镜观察的位置(上/下)反转输出前端口(可选)相机和DP成像系统(倒像,适用于GX的相机适配器)输出侧端口(可选)相机,DP系统(正像)(来源:上海予罗)电子系统反射光照明器:内置LED反射光照明电源连续可变的光强度刻度盘输入额定值5VDC,A(AC适配器100–240V,AC)透射光照明器(需选用BX3M-PSLED电源):通过电压连续可变的光强度刻度盘输入额定值5VDC,A(AC适配器100–240V,)外部接口(需选用BX3M-CBFM控制盒):编码物镜转盘连接器×1MIX滑块(U-MIXR)连接器×1手持控制盒(BX3M-HS)连接器×1手持控制盒(U-HSEXP)连接器×1RS-232C连接器×1,USB×1调焦机构带滚针导轨的齿轮齿条:手动,粗/微调同轴手柄;调焦行程9mm(载物台表面以上2mm,以下7mm),每转微调手柄行程:100um(小刻度:1um)每旋转粗调手柄行程:7mm粗调配有扭矩调整环粗调配有上限制动器观察筒宽视场(FN22)倒置:双目(U-BI90,U-BI90CT),三目。

将打磨后的金属及截面试样倒置于显微镜镜台上,用户就可对试样进行检验。样本不需要放平,也可以观察较厚、较大、较重样品。GX53给出的清晰图像,采用传统显微镜观察方法则难以捕捉到。与OLYMPUS流图像分析软件相结合,显微镜简化了从观察到图像分析和报告的检验过程。先进的分析工具。GX53显微镜的各种观察性能提供清晰的图像,所以用户可对试样进行可靠的缺陷检测。OLYMPUS图像分析软件的新型照明技术和图像采集选项为用户评估试样和记录检验结果提供了更多的选择。不可见变为可见:混合技术通过将暗视野及其它观察方法如明视野或偏光结合起来,混合技术可以生成独特的观察图像。混合技术可使用户观察到使用传统显微镜难以看到的试样,甚至展示出试样表面上的更小高度差。用于暗视野观察的圆形LED照明器有一个定向暗视野功能,可以在给定时间内照明一个或多个象限。这就减少了试样的晕光,并有助于将其表面纹理可视化。印刷电路板的横截面(明视场)基片层和通孔不可见。(暗视场)轨迹不可见。(明视野+暗视野)所有元件得到清晰展示。轻松创建全景影像:即时MIA采用多图像对准(MIA)。上海予罗检测科技有限公司致力于提供光学测量分析系统,欢迎您的来电哦!

结节状和蠕虫状)中的石墨球化率和含量。石墨节点的形式,分布和大小可以分类。(来源:上海予罗)支持的标准:ISO,NF,ASTM,KS,JIS,GB/T球墨铸铁呈球状石墨高纯钢中非金属夹杂物的含量使用捕获的差场或夹杂物图像对非金属夹杂物进行分类,您可以手动在样品上找到这些夹杂物。支持的标准:ISO,EN,ASTM,DIN,JIS,GB/T,UNI含非金属夹杂物的钢您的样品和参考图像的比较图像轻松比较实时或静态图像与自动缩放的参考图像。该解决方案包含符合各种标准的参考图像。该解决方案还支持多种模式,包括实时覆盖显示和并排比较。其他参考图像可以单独购买。支持的标准:ISO,EN,ASTM,DIN,SEP含非金属夹杂物的钢铁素体晶粒的显微组织材料解决方案规格*解决方案支持的标准(来源:上海予罗)颗粒截距ISO643:2012,JISG0551:2013,JISG0552:1998,ASTME112:2013,DIN50601:1985,GOST5639:1982,GB/T6394:2002颗粒物面ISO643:2012,JISG0551:2013,JISG0552:1998,ASTME112:2013,DIN50601:1985,GOST5639:1982,GB/T6394:2002铸铁ISO945-1:2010,ISO16112:2017,JISG5502:2001,JISG5505:2013,ASTMA247:16a,ASTME2567:16a,NFA04-197:2004,GB/T9441:2009,KSD4302:2006包含差的领域ISO4967(方法A):2013,JISG0555。上海予罗检测科技有限公司为您提供光学测量分析系统,有想法可以来我司咨询!海南徕卡光学测量分析系统

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仪器仪表行业本身是一个加入,产出周期较长的行业,所以作为业内厂家,一方面要寻找中、短期市场热点,另一方面也要在产品、技术研发方面有长远的规划;中国的新型工业化进程,信息化和工业化融合的进一步加深,带动各个工业领域对于体视显微镜,奥林巴斯显微镜,ROHS2.0/化学成分,金相显微镜等产品的需求。在国民经济运行中,上海予罗检测技术有限公司(简称“予罗检测”)是一家集检测认证、培训咨询等技术服 务为一体的公正第三方检测机构。公司专注于为企业客户提供专业的汽车材料/零部件、 电子电工产品、电子及电器元器件的环境可靠性测试,物理性能测试、VOC及化学测试等技术 服务以及进口检测设备的销售与维修。在工具显微测量,影像测量3D- cMm检测,非标在线检测,视觉检测,金相分析等领城有着从业15- 20年的专业知深人士以及技术 团队,以团队专业的技术知识和丰富的应用经验,确保为你提供完善的解决方案;从认识到了解从需求到应用,从选型到现场,我到都将提供完是善的技术支持与持续培训等设备是提高劳动生产率的倍增器,对国民经济有着巨大的作用和影响力。美国商业部地区技术和标准研究院(NIST)提出的报告称:美国90年代仪器仪表工业产值只占工业总产值的4%,但它对国民经济(GNP)的影响面却达到66%。尽管在我国相关政策的引导和支持下,我国仪器仪表行业得到了飞速发展。但是从销售整体上看,我国的仪器仪表行业还是落后于国际水平的。重点技术缺乏、高精尖产品严重依赖进口、仪器仪表产品同质化严重、生产工艺落后、研发能力弱、精度不高等问题的凸显,为仪器仪表行业的发展带来了严峻的挑战。海南徕卡光学测量分析系统

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