价值4、可测量具有挑战性的样品低输出、非接触式无损激光测量意味着不需要样品制备。可以在不损坏易损性材料的情况下对其进行测量。扩展架可容纳高达210毫米的样品，而超长工作距离物镜能够测量深度可达25毫米的凹坑。在测量这两类样品时，您只需将样品放在载物台上即可。[获取彩色信息]彩色成像光学系统使用利用白光LED光源和CMOS相机获取彩色信息。[获取3D高度信息和高分辨率共焦图像]激光共焦光学系统采用405纳米激光二极管光源和高灵敏度光电倍增管获得共焦图像。浅焦深使其能够用于测量样品的表面不规则性。[405纳米激光光源]光学显微镜的横向分辨率随着波长的减小而获得提升。采用短波长激光的激光显微镜相比采用可见光（峰值550纳米）的传统显微镜具有更优的横向分辨率。OLS5000显微镜利用405纳米短波长激光二极管获得的横向分辨率。[激光共焦光学系统]激光共焦光学系统接收通过圆形聚焦的光线，并非采集从样品上反射和散射的所有光线。这样有助于消除模糊，让其能够获得比普通显微镜对比度更高的图像[X-Y扫描仪]OLS5000显微镜配有奥林巴斯光学扫描仪。通过将采用电磁感应MEMS谐振扫描仪的X轴与采用Galvano扫描振镜的Y轴相结合。上海予罗检测科技有限公司为您提供3D测量激光显微镜，有想法的不要错过哦！山东检测3D测量激光显微镜
优异的平面分辨率LEXTOLS50003D测量激光显微镜配备的两套光学系统（彩色成像光学系统和激光共焦光学系统）让其能够获取彩色信息、高度信息和高分辨率图像。405nm紫色激光和高数值孔径物镜可以捕捉到传统光学显微镜、白光干涉仪或红色激光显微镜无法发现的精细纹理和缺陷。LEXT物镜我们的LEXT物镜系列近期新增了提升测量性能的长工作距离物镜和普通工作距离的10倍物镜。所有LEXT物镜的测量性能均可获得保证。4K扫描技术—检测陡峭斜面和近纳米级台阶的形貌4K扫描技术可在X轴方向扫描4096像素，是传统机型的四倍。由此提高了高度测量的可靠性，改善了分辨率，信噪比提升了两倍。OLS5000显微镜无需图像处理就能检测几乎垂直的陡峭斜面和极低的台阶。可准确测量高达°的大角度斜面。快速、精确的测量——PEAK算法OLS50003D测量激光显微镜采用了用于3D数据构建的PEAK算法。该算法可获得从低倍率到高倍率的高精度数据，并可缩短数据采集时间。山东检测3D测量激光显微镜3D测量激光显微镜，请选择上海予罗检测科技有限公司，用户的信赖之选，有需要可以联系我司哦！
因此可以获得样品表面的3D形状信息。与此类似，通过峰值强度数据可以获得针对样品表面所有位置焦点的图像（扩展图像）。主机规格：型号OLS5000-SAFOLS5000-SMFOLS5000-LAFOLS5000-EAFOLS5000-EMF总倍率54x-17,280x视场直径16μm-5,120μm测量原理光学系统反射式共焦激光扫描激光显微镜反射式共焦激光扫描激光-DIC显微镜彩色彩色DIC光接收元件激光：光电倍增管（2ch）色彩：CMOS彩色相机高度测量显示分辨率纳米动态范围16位可重复性n-1*1*2*620x:μm,50x:μm,100x:μm精度*1*3*6测量值+/-*1*4*620x:15+μm,50x:9+μm,100x:7+μm(L:拼接长度[μm])测量噪声（SQ噪声）*1*5*61纳米宽度测量显示分辨率1纳米可重复性3n-1*1*620x:μm,50x:μm,100x:μm精度*1*3*6测量值+/-*1*3*620x:15+μm,50x:9+μm,100x:7+μm(L:拼接长度[μm])单次测量时测量点的*大数量4096x4096像素测量点的*大数量3600万像素XY载物台配置长度测量模块•无无•无工作范围100x100mm电动100x100mm手动300x300mm电动100x100mm电动100x100mm手动*大样品高度100mm30mm30mm210mm140mm激光光源波长405nm*大输出mW激光分类2类(IEC60825-1:2007。
快速、精确的测量——PEAK算法OLS5000显微镜采用了用于3D数据构建的PEAK算法。该算法可获得从低倍率到高倍率的高精度数据，并可缩短数据采集时间。VLSI标准样品/80nm台阶(MPLFLN10XLEXT)简单分析简单分析功能可在指定测量范围内测量台阶、线宽、表面粗糙度和体积。自动检测测量结果变动的原因（如体积分析中参考平面的边缘位置和阈值）让测量结果保持稳定，不受操作员技能水平的影响。便捷分析.JPG扩展架—可检测210毫米高度的样品载物台上可放置高度210毫米的样品。重复性和准确性等测量性能均确保与标准机台相同。奥林巴斯OLS5000激光显微镜奥林巴斯3D激光共聚焦显微镜LEXTOLS5000我司销售奥林巴斯3D激光共聚焦显微镜LEXTOLS5000，设有相关产品专员，专业负责相关产品的技术服务。奥林巴斯OLS50003D测量激光共聚焦显微镜采用了高级光学系统，可通过非破坏观察生成高画质的图像进行精确的3D测量、符合ISO标准的表面粗糙度测量等，其准备工作也非常简单且无需对样品进行预先处理。LEXTOLS50003D测量激光显微镜配备的两套光学系统（彩色成像光学系统和激光共焦光学系统）让其能够获取彩色信息、高度信息和高分辨率图像。上海予罗检测科技有限公司是一家专业提供3D测量激光显微镜的公司。
IEC60825-1:2014)彩色光源白光LED电气功率240W240W278W240W240W质量显微镜主体约31公斤约30公斤约50公斤约43公斤约39公斤控制器约12公斤奥林巴斯3D激光共聚焦显微镜OLS5000LEXTOLS50003D测量激光显微镜配备的两套光学系统（彩色成像光学系统和激光共焦光学系统）让其能够获取彩色信息、高度信息和高分辨率图像。LEXTOLS50003D测量激光显微镜有4大关键价值：捕捉任意表面形状。快速获得可靠数据。使用简单-只需放置样品并按一下按钮即可。测量具有挑战性的样品。价值1：捕捉任意表面形状。OLS5000显微镜的先进技术使其能够进行高分辨率的3D样品测量。价值2、快速获得可靠数据该显微镜的扫描算法既可提高数据质量又可提高速度，从而缩短您的扫描时间，简化您的工作流程，*终实现生产力的提升。价值3、使用简单，只需放置样品并按一下按钮即可LEXT®OLS5000显微镜具有自动数据采集功能，因而无需进行复杂的设置调整。甚至生疏的用户也可以获得准确的检测结果。价值4、可测量具有挑战性的样品低输出、非接触式无损激光测量意味着不需要样品制备。可以在不损坏易损性材料的情况下对其进行测量。扩展架可容纳高达210毫米的样品。上海予罗检测科技有限公司致力于提供3D测量激光显微镜，期待您的来电咨询！山东检测3D测量激光显微镜
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使用奥林巴斯OLS5000激光共聚焦显微镜测量印制电路板的表面粗糙度背景随着电子设备变得越来越小巧复杂，对微型印制电路板（PCB）的需求也在不断增加。制造印制电路板的一个重要步骤是将铜箔粘到介电树脂基板上。为了确保铜箔牢固粘合，需要使树脂表面变粗糙以增加表面积。如果表面太粗糙，则会产生电阻抗，从而对电子设备造成负面影响。因此，必须测量表面粗糙度，以确保其保持在比较好限度内。奥林巴斯的解决方案奥林巴斯LEXT三维测量激光显微镜被设计为以μm平面分辨率和5nm不均匀度分辨率测量表面粗糙度，非常适合于印制电路板粗糙度应用。该显微镜具备高像素和高倾斜灵敏度，让您能够测量带细小不规则目标和陡角的表面。LEXT显微镜采用非接触式粗糙度测量技术，因此可以保护基板表面不受损坏。产品的特性LEXT显微镜具有高像素的超高分辨率图像，可进行精确的三维观察。该显微镜具有高倾斜灵敏度，能可靠地测量带陡角的样件。表面粗糙度测量是非接触式的，因此可以保护树脂基板。LEXT显微镜支持JIS/ISO表面粗糙度测量要求。山东检测3D测量激光显微镜
