用来测定特征波长的谱仪叫做波长分散谱仪(WDS)或波谱仪。用来测定x射线特征能量的谱仪叫做能量分散谱仪(EDS)或能谱仪。一、波长分散谱仪（波谱仪，WDS）1、工作原理在电子探针中x射线是由样品表面以下一个微米乃至纳米数量级的作用体积内激发出来的，如果这个体积中含有多种元素，则可以激发出各个相应元素的特征波长x射线。特征x射线的波长(或频率)，并不随入射电子的能量(加速电压)不同而不同，而是由构成物质的元素种类(原子序数)所决定的。在各种特征x射线中，K系列是主要的，虽然K系列的x射线有好多条，但其强度高的只有三条。若在样品上方水平放置一块具有适当晶面间距d的晶体，入射x射线的波长、入射角和晶面间距三者符合布拉格方程时，这个特征波长的x射线就会发生强烈衍射。对一个特征波长的X射线来说只有从某些特定的入射方向进入晶体时，才能得到较强的衍射束。若面向衍射束安置一个，便可记录下不同波长的x射线。它可以使样品作用体积内不同波长的x射线分散并展示出来。2、分光晶体不同元素的特征x射线波长变化却很大，为使可分析的元素尽可能复盖同期表中所有元素，需要配备面间距不同的数块分光晶体。在波谱仪中，x射线信号来自样品表层的一个极小的体积。上海予罗检测科技有限公司是一家专业提供显微分析的公司，欢迎您的来电哦！广西电子显微分析
折叠扫描电子显微镜扫描电子显微镜的电子束不穿过样品，以电子束尽量聚焦在样本的一小块地方，然后一行一行地扫描样本。入射的电子导致样本表面被激发出次级电子。显微镜观察的是这些每个点散射出来的电子，放在样品旁的闪烁晶体接收这些次级电子，通过放大后调制显像管的电子束强度，从而改变显像管荧光屏上的亮度。图像为立体形象，反映了标本的表面结构。显像管的偏转线圈与样品表面上的电子束保持同步扫描，这样显像管的荧光屏就显示出样品表面的形貌图像，这与工业电视机的工作原理相类似。由于这样的显微镜中电子不必透射样本，因此其电子加速的电压不必非常高。扫描式电子显微镜的分辨率主要决定于样品表面上电子束的直径。放大倍数是显像管上扫描幅度与样品上扫描幅度之比，可从几十倍连续地变化到几十万倍。扫描式电子显微镜不需要很薄的样品;图像有很强的立体感;能利用电子束与物质相互作用而产生的次级电子、吸收电子和X射线等信息分析物质成分。扫描电子显微镜的制造是依据电子与物质的相互作用。当一束高能的入射电子轰击物质表面时，被激发的区域将产生二次电子、俄歇电子、特征x射线和连续谱X射线、背散射电子、透射电子。广西电子显微分析显微分析，请选择上海予罗检测科技有限公司，让您满意，欢迎新老客户来电！
显微结构分析是人们通过光学显微镜（OM）、扫描电子显微镜（SEM）、电子显微镜（TEM）、X射线衍射仪（XRD）等分析仪器来研究金属材料、复合材料、各种新材料等的显微组织大小、形态、分布、数量和性质的一种方法。显微组织是指如晶粒、包含物、夹杂物以及相变产物等特征组织。利用这种方法来考查如合金元素、成分变化及其与显微组织变化的关系：冷热加工过程对组织引入的变化规律；应用金相检验还可对产品进行质量控制和产品检验以及失效分析等。材料微观结构检查是材料质量管控的关键环节。一、非金属夹杂物评定钢中非金属夹杂物会降低钢的机械性能，特别是降低塑性、韧性及疲劳极限。严重时，还会使钢在热加工与热处理时产生裂纹或使用时突然脆断。非金属夹杂物也促使钢形成热加工纤维组织与带状组织，使材料具有各向异性。严重时，横向塑性为纵向的一半，并使冲击韧性大为降低。因此，对重要用途的钢（如滚动轴承钢、弹簧钢等）要检查非金属夹杂物的数量、形状、大小与分布情况。硫化物夹杂图片氧化物夹杂图片二、宏观金相组织分析评价压铸件或焊缝是否存在空洞、夹杂，压铸件的组织走向，焊缝是否存在未焊透等明显缺陷。
50KV~100KV，解像力20~30Å；）。1940～41RCA公司推出美国部穿透式电子显微镜（解像力50nm）。*1941～63解像力提升至2~3Å（穿透式）及100Å（扫描式）1960EverhartandThornley发明二次电子侦测器。1965部商用SEM出现（Cambridge)1966JEOL发表部商用SEM(JSM-1)1958年中国科学院组织研制1959年台100KV电子显微镜1975年台扫描电子显微镜DX3在中国科学院科学仪器厂（现北京中科科仪技术发展有限责任公司）研发成功1980年中科科仪引进美国技术，开发KYKY1000扫描电镜应用范围⑴生物：种子、花粉、细菌……⑵医学：血球、病毒……⑶动物：大肠、绒毛、细胞、纤维……⑷材料[1]：陶瓷、高分子、粉末、金属、金属夹杂物、环氧树脂……⑸化学、物理、地质、冶金、矿物、污泥（杆菌）、机械、电机及导电性样品，如半导体(IC、线宽量测、断面、结构观察……）电子材料等。扫描电子显微镜在新型陶瓷材料显微分析中的应用1显微结构的分析在陶瓷的制备过程中，原始材料及其制品的显微形貌、孔隙大小、晶界和团聚程度等将决定其后的性能。扫描电子显微镜可以清楚地反映和记录这些微观特征，是观察分析样品微观结构方便、易行的有效方法，样品无需制备。只需直接放入样品室内即可放大观察。显微分析，请选择上海予罗检测科技有限公司，有需要可以联系我司哦！
当光子进入检测器后，在Si(Li)晶体内激发出一定数目的电子—空穴对。产生一个空穴对的低平均能量是一定的，因此由一个x射线光子造成的电子—空穴对的数目N。每产生一对电子一空穴对，要消耗掉X光子，因此每一个能量为E的入射光子产生的电子一空穴对数目N=∆E／。Si（Li）晶体厚3~5mm，直径3~10mm，它是一个P-N结型二极管。它的前方有一个7~8μm的铍窗，整个探头装在与存有液氮的杜瓦瓶相连的冷阱内。入射x射线光子的能量越高，N就越大。利用加在晶体两端的偏压收集电子—空穴对．经前置放大器转换成电流脉冲，电流脉冲的高度取决于N的大小。电流脉冲经主放大器转换成电压脉冲进入多道脉冲高度分析器。脉冲高度分析器技高度把脉冲分类并进行计数，这样就可以描出一张特征x射线技能量大小分布的图谱。2、多道脉冲分析器多道分析器有一个由许多存储单元（称为通道）组成的存储器。与X光子能量成正比的时钟脉冲数按大小分别进入不同存储单元、每进入一个时钟脉冲数，存储单元记一个光子数，因此通道地址和X光子能量成正比，而通道的计数为X光子数。终得到以通道（能量）为横坐标、通道计数（强度）为纵坐标的X射线能量色散谱（图2－95b），并显示于显像管荧光屏上。上海予罗检测科技有限公司显微分析获得众多用户的认可。广西电子显微分析
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(一)实验时要把显微镜放在桌面上，镜座应距桌沿6～7cm左右，打开底光源开关。2(二)转动转换器，使低倍镜头正对载物台上的通光孔。然后用双眼注视目镜内，调整光源强度，把聚光镜上升，把虹彩光圈调至比较大，使光线反射到镜简内，这时视野内呈明亮的状态。3(三)将所要观察的装片放在载物台上，使被观察的部分位于通光孔的正。4(四)先用低倍镜观察(物镜10×、目镜10×)。观察之前，先转动粗准焦螺旋，使载物台上升，使物镜逐渐接近切片。需要注意，不能使物镜触及玻片，以防镜头将玻片压碎。并转动粗准焦螺旋，使载物台慢慢下降，不久即可看到玻片中材料的放大物像。5(五)如果在视野内看到的物像不符合实验要求(物像偏离视野)，可慢慢移动左右移动尺。移动时应注意玻片移动的方向与视野中看到的物像移动的方向正好相反。如果物像不甚清晰，可以调节细准焦螺旋，直至物像清晰为止。6(六)如果进一步使用高倍物镜观察，应在转换高倍物镜之前，把物像中需要放大观察的部分移至视野(将低倍物镜转换成高倍物镜观察时，视野中的物像范围缩小了很多)。一般具有正常功能的显微镜，低倍物镜和高倍物镜基本齐焦，在用低倍物镜观察清晰时，换高信物镜应该可以见到物像。广西电子显微分析
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