激光测厚仪：激光测厚仪一般是由两个激光位移传感器上下对射的方式组成的，上下的两个传感器分别测量被测体上表面的位置和下表面的位置，通过计算得到被测体的厚度。激光测厚仪的优点在于它采用的是非接触的测量，相对接触式测厚仪更精确，不会因为磨损而损失精度。相对超声波测厚仪精度更高。相对X射线测厚仪没有辐射污染。英德隆-非接触式测厚仪，主要针对各类在线生产流水线进行检测，比如:纺织面料、无纺布、薄膜、带钢、纸张、橡胶等等。借助测厚仪非接触性，可以有效的在生产流水线上进行长效工作，避免了人工检测的效率低下、精细度不高、无法统计数据等缺点，实时高效持久性的工作。激光测厚仪设备特点： 精度高、无辐射、安全性能好。 测量范围大(0-750mm)。 响应快速、不受被测目标材质影响。 实时厚度曲线显示、绘制，历史厚度曲线储存。 全数字系统，使用方便，易操作，维护简单。 炉号、钢号、坯号、班号、检测时间与MIS系统连接自动生成日报、班报。 **度C型架设计，自带高温防护措施，既保证了强度又保证了使用寿命。 激光测厚仪主要技术指标： 可测范围为:0~500mm 极高精度:0。5μm 测量速度:极高9400Hz 测量距离:10~200mm 被测体水平方向运动速度极高560m/min。测厚仪过程当中要确保被测量表面的压力数值保持恒定的状态，否则可能导致较大的读数误差。江苏x射线非接触式测厚仪厂
光学薄膜测厚仪的特点是非接触,非破坏方式测量，无需样品的前处理，软件支持Windows操作系统等。光学薄膜测厚仪是使用可视光测量晶圆、玻璃等基材上形成的氧化膜，氮化膜，光致抗蚀剂等非金属薄膜厚度的仪器。 测量原理如下：在测量的wafer或glass上面的薄膜上垂直照射可视光，这时光的一部分在膜的表面反射，另一部分透进薄膜，然后在膜与底层(晶圆或玻璃)之间的界面反射。这时薄膜表面反射的光和薄膜底部反射的光产生干涉现象。光学薄膜测厚仪就是利用这种干涉现象来测量薄膜厚度的仪器。苏州光学元件非接触式测厚仪供应商超声波测厚仪是采用较新的高性能、低功耗微处理器技术。
磁感应原理测厚仪是利用测头经过非铁磁覆层而流入铁基材的磁通大小来测定覆层厚度的，覆层愈厚，磁通愈小。当软铁芯上绕着线圈的测头被放在被测物上后，仪器自动输出测试电流，磁通的大小影响到感应电动势的大小，仪器将该信号放大后来指示覆层厚度。磁吸力原理测厚仪是利用永久磁铁测头与导磁的钢材之间的吸力大小与处于这两者之间的距离成一定比例关系来测量覆层的厚度的，这个距离就是覆层的厚度，所以只要覆层与基材的导磁率之差足够大，就可以进行测量。
厚度测定仪的特征：1.微电脑控制、液晶显示；2.菜单式界面、PVC操作面板；3.接触式测量；4.测头自动升降；5.自动进样；6.手动、自动双重测量模式；7.数据实时显示、自动统计；8.显示较大值、较小值、平均值和统计偏差；9.厚度测定仪可设进样步距、测量点数、进样速度等参数；10.标准接触面积、测量压力（非标可选）；11.显示较大值、较小值、平均值和统计偏差；12.标准量块标定；13.网络传输接口支持局域网数据集中管理和互联网信息传输。涂层测厚仪主要特点具有两种测量方式：连续测量方式和单次测量方式。
测厚仪的维护：在使用该设备时，注意每天打开机器后半小时的热量。在预热时间满足后，数据可以保持在一定的误差范围内，但不能超过此范围。当产品被测量时，确定产品的基材和涂层元素。选择相应的测量方法，时间标准的，测试产品的表面应该是平滑的，否则会有很大的误差。当放置产品或聚焦时，它不接触镜头，而在移动测量表中，如果仪器发出警报，它表示运动方向到极限。这时，有必要朝相反的方向移动。当有问题或需要建立一个测量程序时，我们需要寻找制造商来帮助。光学薄膜测厚仪的特点是非接触。上海塑料薄膜在线测厚仪加工厂
激光测厚仪设备特点：实时厚度曲线显示、绘制，历史厚度曲线储存。江苏x射线非接触式测厚仪厂
超声测厚仪是指用超声波在介质中的脉冲反射对物体进行厚度测试的设备，超声波测厚仪主要由主机和探头两部分组成。检测超声用于超声探测金属、陶瓷混凝土制品，甚至水库大坝，检查内部是否有气泡、空洞和裂纹。用超声波得到若干信息，获得通信应用，称检测超声。超声测厚仪则是用超声波在介质中的脉冲反射对物体进行厚度测试。超声波测厚仪可以测量金属或非金属材料的厚度，也可以测定材料的声速，借以判断材料的性质，还可以检查较近且平行于表面的缺陷，一般壁厚10mm以下的测量精度可达0.01mm。超声测厚仪按工作原理分：有共振法、干涉法及脉冲反射法等。江苏x射线非接触式测厚仪厂
