测厚仪的测试方法主要有：磁性测厚法，放射测厚法，电解测厚法，涡流测厚法，超声波测厚法。测量注意事项：1.在进行测试的时候要注意标准片集体的金属磁性和表面粗糙度应当与试件相似。2.测量时侧头与试样表面保持垂直。3.测量时要注意基体金属的临界厚度，如果大于这个厚度测量就不受基体金属厚度的影响。4.测量时要注意试件的曲率对测量的影响。因此在弯曲的试件表面上测量时不可靠的。5.测量前要注意周围其他的电器设备会不会产生磁场，如果会将会干扰磁性测厚法。纸张测厚仪：适用于4mm以下的各种薄膜、纸张、纸板以及其他片状材料厚度的测量。丽水钢厂激光测厚仪
测厚仪（thicknessgauge）是用来测量材料及物体厚度的仪表。在工业生产中常用来连续或抽样测量产品的厚度（如钢板、钢带、薄膜、纸张、金属箔片等材料）。这类仪表中有利用α射线、β射线、γ射线穿透特性的放射性厚度计；有利用超声波频率变化的超声波厚度计；有利用涡流原理的电涡流厚度计；还有利用机械接触式测量原理的测厚仪等。测厚仪可以用来在线测量轧制后的板带材厚度，并以电讯号的形式输出。该电讯号输给显示器和自动厚度控制系统，以实现对板带厚度的自动厚度控制（AGC）。舟山硅片激光测厚仪尺量仪激光测厚仪优势：减少轧材制作时间，降低劳力成本以及原料浪费。
磁感应原理测厚仪是利用测头经过非铁磁覆层而流入铁基材的磁通大小来测定覆层厚度的，覆层愈厚，磁通愈小。当软铁芯上绕着线圈的测头被放在被测物上后，仪器自动输出测试电流，磁通的大小影响到感应电动势的大小，仪器将该信号放大后来指示覆层厚度。磁吸力原理测厚仪是利用永久磁铁测头与导磁的钢材之间的吸力大小与处于这两者之间的距离成一定比例关系来测量覆层的厚度的，这个距离就是覆层的厚度，所以只要覆层与基材的导磁率之差足够大，就可以进行测量。
光学薄膜测厚仪仪器的光源使用钨丝灯，波长范围是400nm~800nm。从ST2000到ST7000使用这种原理，测量面积的直径大小是4μm~40μm(2μm~20μmoptional)。ST8000-Map作为K-MAC(株)较主要的产品之一，有影像处理的功能，是超越一般薄膜厚度测量仪器的新概念上的厚度测量仪器。测量面积的*小直径为0.2μm，远超过一般厚度测量仪器的测量迹象(4μm)。顺次测量数十个点才能得到的厚度地图也可一次测量得到，使速度和精确度都大幅度提高。激光测厚仪的上、下两个接触式传感器安装在C形架的上、下横梁的前端。
光学薄膜测厚仪的特点是非接触,非破坏方式测量，无需样品的前处理，软件支持Windows操作系统等。光学薄膜测厚仪是使用可视光测量晶圆、玻璃等基材上形成的氧化膜，氮化膜，光致抗蚀剂等非金属薄膜厚度的仪器。 测量原理如下：在测量的wafer或glass上面的薄膜上垂直照射可视光，这时光的一部分在膜的表面反射，另一部分透进薄膜，然后在膜与底层(晶圆或玻璃)之间的界面反射。这时薄膜表面反射的光和薄膜底部反射的光产生干涉现象。光学薄膜测厚仪就是利用这种干涉现象来测量薄膜厚度的仪器。激光测厚仪设备特点：测量范围大（0—750mm）。黄浦区热轧激光测厚仪测厚仪
激光测厚仪采用进口激光光源，实现高精度的厚度尺寸检测。丽水钢厂激光测厚仪
涡流测量原理：高频交流信号在测头线圈中产生电磁场，测头靠近导体时，就在其中形成涡流。测头离导电基体愈近，则涡流愈大，反射阻抗也愈大。这个反馈作用量表征了测头与导电基体之间距离的大小，也就是导电基体上非导电覆层厚度的大小。由于这类测头专门测量非铁磁金属基材上的覆层厚度，所以通常称之为非磁性测头。非磁性测头采用高频材料做线圈铁芯，例如铂镍合金或其它新材料。与磁感应原理比较，主要区别是测头不同，信号的频率不同，信号的大小、标度关系不同。与磁感应测厚仪一样，涡流测厚仪也达到了分辨率0.1um，允许误差1%，量程10mm的高水平。丽水钢厂激光测厚仪
