超声波测厚仪是根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的，当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时，脉冲被反射回探头通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。凡能使超声波以一恒定速度在其内部传播的各种材料均可采用此原理测量。超声波测厚仪是采用较新的高性能、低功耗微处理器技术，基于超声波测量原理，可以测量金属及其它多种材料的厚度，并可以对材料的声速进行测量。可以对生产设备中各种管道和压力容器进行厚度测量，监测它们在使用过程中受腐蚀后的减薄程度，也可以对各种板材和各种加工零件作精确测量。纸张测厚仪：适用于4mm以下的各种薄膜、纸张、纸板以及其他片状材料厚度的测量。青浦区轮廓激光测厚仪检测仪
超声测厚仪是指用超声波在介质中的脉冲反射对物体进行厚度测试的设备，超声波测厚仪主要由主机和探头两部分组成。检测超声用于超声探测金属、陶瓷混凝土制品，甚至水库大坝，检查内部是否有气泡、空洞和裂纹。用超声波得到若干信息，获得通信应用，称检测超声。超声测厚仪则是用超声波在介质中的脉冲反射对物体进行厚度测试。超声波测厚仪可以测量金属或非金属材料的厚度，也可以测定材料的声速，借以判断材料的性质，还可以检查较近且平行于表面的缺陷，一般壁厚10mm以下的测量精度可达0.01mm。超声测厚仪按工作原理分：有共振法、干涉法及脉冲反射法等。黄浦区轮廓激光测厚仪设备精密激光测厚仪主要应用于锂电池正、负极涂布，锂电池正、负极辊压的厚度和面密度测量。
测厚仪器分类：磁感应测厚仪：位于部件表面的探头产生一个闭合的磁回路，随着探头与铁磁性材料间的距离的改变，该磁回路将不同程度的改变，引起磁阻及探头线圈电感的变化。利用这一原理可以精确地测量探头与铁磁性材料间的距离，即镀层厚度。此方法国际公认方便准确快捷。机械式测厚仪：此种仪器上世纪70年代用过，是一种破坏式，精度差，要破坏产品，己经淘汰。电解式测厚仪：仪器比较大，操作复杂，价格高，也是要放药水去破坏镀层，时间长，一般很少人用。
涂层测厚仪主要特点具有两种测量方式：连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式（SINGLE）；具有两种工作方式：直接方式(DIRECT)和成组方式(APPL)；设有五个统计量：平均值（MEAN）、较大值（MAX）、较小值（MIN）、测试次数（NO．）、标准偏差（S．DEV）可进行零点校准和二点校准，并可用基本校准法对测头的系统误差进行修正；具有存贮功能：可存贮300个测量值；具有删除功能：对测量中出现的单个可疑数据进行删除,也可删除涂层测厚仪存贮区内的所有数据，以便进行新的测量；可设置限界：对限界外的测量值能自动报警；具有与PC机通讯的功能：可将测量值、统计值传输至PC机，以便涂层测厚仪对数据进行进一步处理；具有电源欠压指示功能；操作过程有蜂鸣声提示；具有错误提示功能；具有自动关机功能。高精度一直以来都是激光测厚技术的一大重要特点，其测量精度往往在0.5um左右。
激光测厚仪检测原理：激光测头1和激光测头2以固定间距相对布置，工作时激光测头1发射一束激光照射被测物的下表面，下表面光斑的漫反射光再返回到激光测头1内的CCD芯片上，通过对CCD芯片上光斑的位置分析和计算，可以得到激光测头1到被测物下表面的实际距离；同理可以得到激光测头2到被测物上表面的距离。用两个测头之间的间距减去两个测头到被测物上下表面的距离即可得到被测物的厚度。激光测厚仪分为接触式检测与非接触式检测，看检测需求选择检测方式，非接触式检测在不损伤轧材的情况下进行检测，对高温、易形变的轧材也可检测，接触式测量只能对一些硬质板材进行检测。激光测厚仪优势：缩短生产线轧材生产占用的时间，提高生产线的产量。徐汇区胶带激光测厚仪检测仪
涂层测厚仪可无损地测量磁性金属基体上非磁性涂层的厚度及非磁性金属基体上非导电覆层的厚度。青浦区轮廓激光测厚仪检测仪
全欧光学中心厚度测量仪，采用非接触式的测量方法，集成了镜面定位仪的功能，配有定心机械卡口，可测量单个球面透镜，非球面透镜，柱面镜，双胶合透镜，三胶合透镜和平面镜等光学元件的中心厚度，也可测量光学系统中单个元件的中心厚度与空气间隔。该产品可用于紫外（UV），可见光（VIS）和红外（IR）光学元件中心厚度和光学镜头及光学系统空气间隔的检测，特别是对远红外镜头（LWIR）的测量，有较高的测量精度与重复精度，测量镜片的较大光学厚度可达800mm，较高精度达0.15微米，可选配温度及气压传感器。中心厚度测量仪采用低相干干涉仪测量原理，可自动扫描识别被测物体，一次性测量光学系统中所有表面的距离，从而给出用户需要的结果，可为后续光学镜头和光学系统的装配提供质量保证，这在光学镜头前期研发阶段尤为重要。青浦区轮廓激光测厚仪检测仪
