涂层测厚仪特点：1.全中文界面操作，更方便；2.本仪器采用了磁性和涡流两种测厚方法；3.可配7种测头F400、F1、F1/90°、F10、CN02、N1；4.可存贮495个测量值；5.可设置限界：对限界外的测量值能自动报警；并可用直方图对一批测量值进行分析；6.可外接热敏打印机：可打印测量值、统计值、限界；7.具有与PC机通讯的功能：可将测量值、统计值传输至PC机，以便对数据进行进一步处理；8.具有错误提示功能，通过屏显或蜂鸣声进行错误提示；9.采用铝制外壳，美观、小巧、便携、坚固耐用，更适合于恶劣操作环境，抗振动、冲击和电磁干扰；10.有EL背光显示，可在光线昏暗环境中使用；11.有剩余电量指示功能，可实时显示电池剩余电量；12.设有两种关机方式：手动关机方式和自动关机方式。测厚仪使用注意事项：测量前要注意周围其他的电器设备会不会产生磁场，如果会将会干扰磁性测厚法。马鞍山散热器片数激光测厚仪电话咨询
涡流测量原理：高频交流信号在测头线圈中产生电磁场，测头靠近导体时，就在其中形成涡流。测头离导电基体愈近，则涡流愈大，反射阻抗也愈大。这个反馈作用量表征了测头与导电基体之间距离的大小，也就是导电基体上非导电覆层厚度的大小。由于这类测头专门测量非铁磁金属基材上的覆层厚度，所以通常称之为非磁性测头。非磁性测头采用高频材料做线圈铁芯，例如铂镍合金或其它新材料。与磁感应原理比较，主要区别是测头不同，信号的频率不同，信号的大小、标度关系不同。与磁感应测厚仪一样，涡流测厚仪也达到了分辨率0.1um，允许误差1%，量程10mm的高水平。河北激光测厚仪公司激光测厚仪使用进口超高速高精度CMOS激光位移传感器，固定在C型架端部进行非接触对射式测量。
一种光学薄膜测厚仪,该仪器包括有光源,电源,光纤光谱仪,光纤跳线,探头,样品台,水平调节旋钮以及USB接口,所述光源,电源,光纤光谱仪分别固定在该仪器壳体内后侧的安装板上;光纤探头安装在样品台上的横梁上,水平调节旋钮置于样品台的下方;所述光源,光纤光谱仪,探头分别连接光纤跳线;光纤光谱仪带有USB接口.有益效果是该仪器结构使光路方便调节,提高了测量精度,保证有足够的反射光进入光纤;使用光阑来调节测量光束的大小,操作简便,使仪器适用于不同的测试样品和条件,拓宽了仪器的适用性;样品台加入水平调节装置,保证光束严格垂直样品表面,而且使其能够测量不规则样品。
手持式测厚仪主要技术参数：1.显示方法：高对比度的段码液晶显示，高亮度EL背光；2.测量范围：0.75～300mm(钢中)，公制与英制可选择；3.声速范围：1000～9999m/s：4.分辨率：0.1mm5.示值精度：±(1%H+0.1)mmH为被测物实际厚度6.测量周期：单点测量时4次/秒、扫描模式10次/秒；7.存储容量：可存储20组(每组较多99个测量值)厚度测量数据。8.工作电压：3V(2节AA尺寸碱性电池串联)9.持续工作时间：约100小时(不开背光时)10.外形尺寸：150×74×32mm11.整机重量：245g。薄膜测厚仪具有数据输出、任意位置置零、公英制转换、自动断电等特点。
不同测试方法的应用领域：由于测试原理的不同，各种测试方法的应用领域有一定的差别。如X射线技术常用于测量钢板等单一元素的厚度；涡流技术常用于涂层厚度的测量；超声波技术可用于金属、塑料、陶瓷、玻璃等超声波良导体的测量；而机械测厚技术却是适用性较强的一种，因为它对于试样没有选择性，可用于检测任何物质的厚度，而且它在测厚的同时向试样的测量表面施加一定的压力，可有效避免由于试样具有压缩性或是表面平整性不好而引起的数据波动较大的情况。激光粒度测定仪是一种用于化学工程领域的物理性能测试仪器。盘锦橡胶厚度激光测厚仪
激光测厚仪利用的是激光的反射原理。马鞍山散热器片数激光测厚仪电话咨询
涡流测厚仪，用于检测各种非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度。例如：铝型材、铝板、铝管、铝塑板、铝工件表面的阳极氧化层或涂层。仪器适于在生产现场、销售现场或施工现场对产品进行快速无损的膜厚检查。可用于生产检验、验收检验和质量监督检验。仪器特点：膜厚校正片：膜厚校正片是仪器的计量基准。本仪器的膜厚校正片全部经过技术监督部门的检测，附有检测报告。这一点在国内外仪器中都是不多见的。它保证了仪器计量的准确性和可靠性。*探头：测厚仪较容易损坏的部件是探头，本仪器对探头做了特殊的耐久性设计，具有防磕碰、防水、探头线防折曲等防护功能。马鞍山散热器片数激光测厚仪电话咨询
