浙江色彩光学自动测量测仪

自动光学检查 被放在 SMT PCB 生产线上的四个不同生产步骤后的应用。 (1) 锡膏印刷之后, 主要检查焊膏印刷的情况; (2) 片式元件贴放之后, 以检查贴片的正确与否, 可以较早地发现错误, 减少成本; (3) 芯片贴放之后, 检测系统能够检查 PCB 上缺失、偏移、歪斜的芯片及芯片极性的错误; (4) 回流焊接之后, 在生产线的末端。可以检测系统可以检查出元件的缺失, 偏移和歪斜及元件极性缺陷。自动光学检查 四个检测位置中, 锡膏印刷之后、 ( 片式 ) 器件贴放之后和元件贴放之后的检测目的在于预防问题,在这几个位置检测, 能够阻止缺陷的产生; 在回流焊接之后的检测, 则目的在于发现问题。预防问题 自动光学检查放置在炉前, 发现问题 自动光学检查 放置在炉后。当前来说, 炉前的 自动光学检查 比炉后的 自动光学检查 重要, 但炉后的检查特别是焊点类不良的检查是 自动光学检查 的检查的难点, Teradyne 的Optima7000 系统就侧重于炉后的检测。更多的 自动光学检查 都具有很大的弹性度, 安捷伦的 SJ50 与 SP50 ( 三维) 焊膏检测系统使用统一化平台, 可以互换照明头。 Omron和 Teradyne 的 自动光学检查 都可以移到其它测试位置。AOI自动光学检测设备较大的优点就是可以取代以前SMT炉前、炉后的人工目检作业。浙江色彩光学自动测量测仪

对无缺陷生产来讲，自动光学检查（自动光学检查）是必不可少的。在转到使用无铅工艺时，制造商将面临新的挑战，在生产中会出现其他的问题，引起了人们的关注。本文分析转到无铅工艺的整个过程，特别是在大规模生产中引进了0402无铅元件。 由于缺乏无铅元件，转到使用无铅元件是分阶段进行的。在2004年，由于要求电子产品的体积越来越小，迫使制造商普遍地用0402元件来取代0603元件和0805元件。 工艺条件 除了普遍使用的0402元件，印刷电路板的一次合格率（FPY）必须达到95%，而且必须根据印刷电路协会（IPC）的2级标准来检测缺陷。例如，在有608个焊点的168元件的情况下，相当于要求误报率是百万分之65。为了达到FPY的要求，在检测缺陷时必须考虑以下条件：元件长度的公差、元件供应商、贴片公差、在25 个自动光学检查系统上的全球检测数据库、有80个独特产品的全球检测数据库、无铅焊料、不同的电路板供应商以及检测质量要达到IPC的2级标准。天津喷塑件光学自动测量品牌光学测量的方法：光速法测距。

光学测量的方法：光速法测距。利用光速不变原理，检测激光发射与反射光反射回来的时间差，从而计算出距离。为了提高精度，可以将激光调制上一个低频信号，利用测量反射光的相位差来测得反射时间差。这种方法一般用于远距离测量。目前各种激光测距仪一般用这种方法测量。激光干涉法测距。这是一种相对测量， 它无法测得一个物体离仪器的***距离，但可以测得两被测物体的相对距离。它的原理是一台迈克尔逊干涉仪，利用反射镜距离变化时干涉条纹的变化来测量，反射镜从物体A运动到物体B，干涉条纹变化的数量反映了其距离。这种测量要求条件较高，但是可以精确测量，它也是目前所有测量手段中较精确的一种。

虽然自动光学检查可用于生产线上的多个位置，各个位置可检测特殊缺陷，但自动光学检查检查设备应放到一个可以尽早识别和改正较多缺陷的位置。锡膏印刷之后，如果锡膏印刷过程满足要求，那么ICT发现的缺陷数量可大幅度的减少。典型的印刷缺陷包括以下几点： A.焊盘上焊锡不足。 B.焊盘上焊锡过多。 C.焊锡对焊盘的重合不良。 D.焊盘之间的焊锡桥。 在ICT上，相对这些情况的缺陷概率直接与情况的严重性成比例。轻微的少锡很少导致缺陷，而严重的情况，如根本无锡，几乎总是在ICT造成缺陷。焊锡不足可能是元件丢失或焊点开路的一个原因。尽管如此，决定哪里放置自动光学检查需要认识到元件丢失可能是其它原因下发生的，这些原因必须放在检查计划内。这个位置的检查较直接地支持过程跟进和特征化。这个阶段的定量过程控制数据包括，印刷偏移和焊锡量信息，而有关印刷焊锡的定性信息也会产生。光学测量主要应用在现代工业检测，主要检测产品的形位公差以及数值孔径等是否合格。

光学测量主要应用范围：技术服务：在实际工作中，有的设备需要为了提高加工精度或增加其他所需的检测功能。我们也能提供相映的技术服务，使之具有更高自动化程度和自动计量与检测功能。自动控制设计：我们将工业测试系统与工业自动控制有机的结合，从可编程序控制器应用设计(PLC)、非接触检测系统到**控制系统设计，较终为提高机械设备的加工和自动校验精度、实现智能化控制、提高成品率、缩短交货周期、降低生产成本，各个方面提升企业的市场竞争力。自动光学检查主要特点：高速检测系统。重庆分析光学自动测量价格

自动光学检查通过用墨水直接标记于PCB板上或在操作显示器。浙江色彩光学自动测量测仪

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