世界**同步耐压测试(**)
Chroma 19020具有世界**的同步耐压测试功能，单机可同时10组通道同步输出及量测，比较大可连接10台单机控制(Master & Slave)共100组通道。也可进行分组输出，除了避免相邻测试的压差产生，更可增进产线效率。 专业电动车电力电力测试解决方案。无锡**耐压测试仪品牌
耐压测试器Chroma 19050系列有三个机种供选择，19052 AC/DC/IR耐压测试器，19053 AC/DC/ IR耐压测试器，内建8组高压扫描功能，19054 AC/DC/IR耐压测试器，内建4组高压扫描功能。数字显示面板，容易操作的接口便于变压器产品执行耐压、绝缘测试，为***型耐压测试器。
主要特色：交/直流耐压、绝缘电阻测试三合一机型可程序输出电压AC 5kV，DC 6kV可程序电流比较大AC 30mA，DC 10mA绝缘阻抗 50GΩ/1000V DC内建 8 组高压扫描仪 (19053)内建 4 组高压扫描仪 (19054)开/短路侦测功能(OSC)人体保护功能 (GFI)电气闪络侦测功能 (Flashover)可组合 50 个测试步骤及 100 组记忆功能具 0.4 ms快速切断及 0.2 sec 快速放电可选购变压器测试治具 (19053)标准 RS-232 接口可选购 GPIB 界面 无锡优良耐压测试仪质量推荐对于测试时的接触检查议题，除原有专利设计OSC开短路侦测 (Open Short Check)外。
耐压测试仪耐压测试仪又叫电气绝缘强度试验仪或叫介质强度测试仪，也有称介质击穿装置、绝缘强度测试仪、高压实验仪、高压击穿装置、耐压试验仪等。将一规定交流或直流高压施加在电器带电部分和非带电部分（一般为外壳）之间以检查电器的绝缘材料所能承受耐压能力的试验。电器在长期工作中，不仅要承受额定工作电压的作用，还要承受操作过程中引起短时间的高于额定工作电压的过电压作用（过电压值可能会高于额定工作电压值的好几倍）。在这些电压的作用下，电气绝缘材料的内部结构将发生变化。当过电压强度达到某一定值时，就会使材料的绝缘击穿，电器将不能正常运行，操作者就可能触电，危及人身安全。电气安全主要测试指标包括交/直流耐压、绝缘电阻、泄漏电流、接地电阻等。交/直流耐压试验用于检验产品在实际工作状态下的电气安全性能，是检验设备电气安全性能的重要指标之一。目前市场上所见的耐压测试仪采用GB4706（等同IEC1010）标准，使用较多的是台式结构的单项测试指标测试仪器，不能满足用户需要多指标综合测试的需求；而且目前市场上的耐压测试仪多采用的是传统的测试方法，测试精度不高，采用的技术和主要性能指标与国外先进水平有一定的差距。
全系列耐压分析仪皆具有Flashover (ARC)侦测 功能。经由设定启始电压、结束电压、爬升步 序、次数及时间，进行放电程度分析。放电程 度分析模式 (DLA)提供阶段判断方式，可设定 电气闪络检测 (Flashover, ARC)、绝缘崩溃检测 (Breakdown, high limit)。当测试中有不良出现 时，19056/19057会依限制值显示出耐压强度 (withstanding voltage)，其分别**电气闪络启 始电压(Flashover Start Voltage, FSV)及绝缘崩溃 电压(BreakDown Voltage, BDV) 。在分析量测的 同时可以**示波器同步观察波形。藉由这些 测试结果，研究人员可以对产品进行分析与研 究，针对组件绝缘较弱的部份进行改善。容性高压组件进行DC耐压测试时必须充电与 放电，具有快速充电功能有效降低测试 的时间，提高生产测试效率。
Chroma 19056/19057 耐压分析仪系列为针对超 高压耐压测试与分析所设计的设备。系列机种 包含10kVac/12kVdc/20kVdc，比较大输出AC 20mA/ DC10mA。基本交/直流耐压、绝缘电阻测试， 对于产线测试时的接触检查议题，除原有**设计OSC开短路侦测 (Open Short Check)， 新增HVCC高压接触检查(High Voltage Contact Check)，针对高绝缘能力之组件于高压输出时同 步进行接触检查，提升测试可靠度与效率。
Chroma 19056/19057具有GFI(接地失效中断)设 计，当异常接地电流(A2-A1)发生时能实时切断输 出，可保护作业员操作安全。
超高压耐压分析仪主要针对高压光偶合器及高 压继电器、高压开关、PV模块等绝缘耐受力较 高之组件提供高压的耐压测试与分析。 Chroma 8910医疗设备电气安规自动测试系统搭配Chroma 19200 电气安规扫描器。南通正规耐压测试仪技术指导
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Chroma 19501-K 局部放電測試器了解到設備的使用環境中可能存在不可避免的高頻輻射干擾，
因此在產品設計架構上採用量測與顯示單元分離式設計，將量測模組外移，以**接近待測物的方
式進行量測，降低因為長距離的測試線導致易受到周遭環境高頻輻射干擾。同時於量測線路設計
上採用訊號隔離方式設計，於測試端以**短迴路方式使用探針出線並在低壓迴路端以銅環隔離環
境輻射干擾，避免PD測量迴路受到外部雜訊干擾確保測量精準度。
Chroma 19501-K : 使用分離式架構設計降低受到高頻輻射干擾，
確保測量精準度
它牌PD測試器: 將測試線拉長與待測物接觸，易受到周遭環境
高頻輻射干擾，導致無法準確判別
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