Chroma 19501-K 局部放電測試器了解到設備的使用環境中可能存在不可避免的高頻輻射干擾，
因此在產品設計架構上採用量測與顯示單元分離式設計，將量測模組外移，以**接近待測物的方
式進行量測，降低因為長距離的測試線導致易受到周遭環境高頻輻射干擾。同時於量測線路設計
上採用訊號隔離方式設計，於測試端以**短迴路方式使用探針出線並在低壓迴路端以銅環隔離環
境輻射干擾，避免PD測量迴路受到外部雜訊干擾確保測量精準度。
Chroma 19501-K : 使用分離式架構設計降低受到高頻輻射干擾，
確保測量精準度
它牌PD測試器: 將測試線拉長與待測物接觸，易受到周遭環境
高頻輻射干擾，導致無法準確判別
Chroma 8910医疗设备电气安规自动测试系统搭配Chroma 19200 电气安规扫描器。无锡耐压测试仪常用解决方案
PD不良發生次數判定設定
局部放電測試器於元件絕緣品質檢測上必須能精確測量到元件微小放電量，當PD發生時其訊號非常微小，且容易受到環境中高頻輻射干擾而
造成測量偏差，因此為降低生產過程中受到外部干擾而產生誤判行為，Chroma 19501-K局部放電測試器能提供使用者設定PD不良發生次數
的判定設定，確保局部放電器所量測到的放電量來自待測物而非受到周遭環境一次性干擾。
當局部放電器施加高電壓在固體絕緣時，在絕緣固體中的洞隙放電量會伴隨著電壓變化而發生週期性放電，因此放電量對比於環境中的高頻
雜訊是相對穩定持續發生，故19501-K設計判斷放電量必須累計連續4個電壓半波周期至少發生一次，超過比较大放電量才會計數一次，當中如
有發生判定次數未連續發生時，則PD不良發生次數判定將會歸零並重新計數，直到連續發生超過使用者所設定的次數，測試結果才會為不良判定 上海**耐压测试仪规格型号提供可靠及穩定的測試結果。
HVCC 高壓接觸檢查功能
針對高絕緣能力之元件於高壓輸出時進行接觸檢查非常重要，Chroma獨特之高壓接觸檢查功能 (High Voltage Contact Check : HVCC)是利
用Kelvin測試方法，針對高絕緣能力之元件於高壓輸出時同步進行接觸檢查，以提升測試可靠度與生產效率， 其應用接線迴路示意如圖示 :
範
除了滿足光耦合器法規測試要求，Chroma針對光耦合器於生產過程要能符合法規中
對局部放電測試要求外，部分生產廠商在生產工藝上會需求額外以一個高於法規之
測試電壓執行絕緣耐壓測試並加入PD放電量偵測，以提升元件品質與工廠內部加嚴
品質管控，但在加嚴檢測後生產業者仍須將測試電壓降至法規規範之測試電壓(Vpd)
再執行檢測，確認產品符合法規要求。Chroma 19501-K獨特的三段電壓測試功能，
針對這類型生產廠商，增加第三階段品質管控測試電壓
能同時滿足法規要求與生
產品質管控之目的。
20KV耐压测试仪-Chroma19057-20
Chroma 19056/19057 耐压分析仪系列为针对超 高压耐压测试与分析所设计的设备。系列机种 包含10kVac/12kVdc/20kVdc，比较大输出AC 20mA/ DC10mA。基本交/直流耐压、绝缘电阻测试， 对于产线测试时的接触检查议题，除原有**设计OSC开短路侦测 (Open Short Check)， 新增HVCC高压接触检查(High Voltage Contact Check)，针对高绝缘能力之组件于高压输出时同 步进行接触检查，提升测试可靠度与效率。
Chroma 19056/19057具有GFI(接地失效中断)设 计，当异常接地电流(A2-A1)发生时能实时切断输 出，可保护作业员操作安全。
其具备500VA大功率，比较大输出交流5kV/100mA，符合大功率耐压测试需求，以及符合EN50191的设备要求。
Chroma 19055 耐压分析仪为针对耐压测试与分析所设计的设备。其具备500VA大功率，比较大输出交流5kV/100mA，符合大功率耐压测试需求，以及符合EN50191的设备要求(详细信息请参考应用文件)。
型号19055-C系列除了基本的交流、直流、绝缘电阻测试外，加入新研发的电晕放电检测功能(CDD : Corona Discharge Detection) ，可经由放电程度分析 (Discharge Level Analysis) 分别检出:
- 电晕放电启始电压 (Corona discharge Start Voltage, CSV)
- 电气闪络启始电压 (Flashover Start Voltage, FSV)
- 绝缘崩溃电压 (BreakDown Voltage, BDV) 中国电子测试测量领域**的综合服务商。上海销售耐压测试仪行业怎么样
新增高频接触检查 (High Frequency Contact Check, HFCC) ，高压输出时同步进行接触检查，提升测试可靠度与效率。无锡耐压测试仪常用解决方案
絕緣固體內存在氣泡而產生局部放電說明
1. 空氣的介電系數低於絕緣材介電系數，
因此氣泡處電場強度會大於正常絕緣
時之分壓
2. 空氣可承受的電場強度又低於絕緣材，
容易在氣泡處產生氣泡放電
(Void Discharge)
Ca: 絕緣介質其餘部分的等效電容
Cc: 氣隙等效電容
Cb: 絕緣介質與氣隙串聯部分的等效電容
U : 工作電壓
Z : 隔離阻抗容量
Ca : 待測物
Ck : 耦合電容
Zm : 測量系統的輸入阻抗
CD : 耦合裝置
Cc : 測試線
MI : 局部放電測試量裝置
PG : 直角波產生器
V0 : 直角波電壓
高精準量測
Chroma 19501-K擁有高精度的局部放電測量，具有兩個量測檔位，分別為200pC與2000pC
檔位，測量範圍從1pC~2000pC，在200pC檔位下比较好解析度為0.1pC，高精度的測量與直
觀性的將量測結果顯示在畫面上，有助於對高絕緣物體進行微小放電量判定與分析。
局部放電器校正
无锡耐压测试仪常用解决方案
