在自动捕捉圆形工件时，为什么会显示出椭圆或者两条直线。原因是可能x、y轴的读数方向错误，或者补偿档有问题，抑或读数卡有问题，也有可能是线性矫正有误。遇见这种问题可以将CCD反方向调180度就可以了。可能是读数卡的参数设置不正确，及时调整即可。视窗太小是受到取像范围、镜头放大倍率、CCD芯片尺寸大小等约束。可以通过另外加监视器来解决。可能是影像线没插好、CCD没供电、控制盒电源没开等原因。检查软件中“影像量测”—下拉目录中CCD设定中的制式是否是—“NTSL制式”，不是的话改过来就好。一般是光学尺的问题，进行线性矫正即可。单项测量就是测量工件的某一数据。半自动影像测量仪工厂
对于测量基面的选择，必须要严格依照相关原则，确保设计和工艺，以及测量和装配等基面的高度一致。但是在具体的实践操作中，由于各种不稳定因素的影响，工艺基面同设计基面常常会出现不一致的现象，这也就造成了测量基面的变化。与此同时，为了进一步提高长度量值之间的准度，还要在健全长度基准的同时，建立各式各样的标准器，其中下一级别的标准器精度是要低于上一级的，所以在数量上下一级别的标准器是要远多于上一级标准器的。借助这种逐级对比的形式，就可以将标准器所呈现的单位量值进行由上到下的输送，并终将其应用到长度仪器和计量器具中。自动影像测量仪厂家直销测量仪基于机器视觉的自动边缘提取、自动理匹、自动对焦、测量合成、影像合成等人工智能技术。
扫描测量方式虽比点位测量方式的效率提高很多，但仍受到触测的限制。非接触测头的应用，可避免频繁的加速、减速、碰撞等，很大程度上提高了测量速度。另外从可靠性与安全性考虑，非接触测头也有更大的优越性。脱机编程技术的使用。所谓脱机编程技术，就是在编程技术的辅助下，不需要上影像测量仪，就能在三维图形的环境下完成对测量程序的编制工作，这样不但有效地提高了影像测量仪的实际使用效率，同时也提高了测量程序的编制效率。脱机编程技术的应用使测量的准备工作与生产准备及生产过程同步，从而节约了更多的测量机时，提高了生产效率。
影像测量仪作为一种高精度精密仪器，任何微小的外部因素都可能带来测量精度误差，外部因素对仪器影响较大，主要的外部因素有：环境温度、环境湿度、环境振动、环境卫生情况及其它一些外部因素等。温度是影响测量仪测量精度的主要因素，因为测量仪是精密仪器，所以制作材料有一些会受到热胀冷缩影响，比如光栅尺、大理石和其他零部件等。一般对测量温度有严格要求，温度一般在20℃上下两度浮动，超过这个范围精度就会有一些变化。因此使用影像测量仪的机房就必须配备空调，而且要注意空调的使用方法。空调好能够24小时都开起，不然至少保证工作8小时内是开着的；保证测量仪在恒温条件下使用，等机房温度稳定后再测量；空调口子不要对着仪器吹。影像测量仪常见故障分为升降传动故障、工作台故障、影像成像故障、电气故障、电子故障以及精度故障等。
在初期的PCB板中，影像测量仪更多是应用在PCB板的外形尺寸上，随着客户对于原电气性越来越高，现在对PCB的外观要求也是越来越高，当然形位公差也是越来越苛刻，这就促进了影像测量仪的使用，有时候还会需要使用到三坐标测量仪，不过现在的影像测量仪都发展的比较好了，不仅可以满足客户二维尺寸的测量，还能够满足客户三维尺寸测量。PCB主要测量的就是外长宽尺寸，各尺寸与板边的距离，线宽，弧度，板的厚度以及孔径大小等尺寸。由于PCB在镀铜后容易产生氧化，在用二次元测量时就会出现抓取不准确的情况，所以在测量之前，我们一定要保证PCB的完整性去测量，不然就会测量不准确，影响测量结果。另外，在PCB中有的边是很短的，如果用小倍率去抓取可能会出现抓取出来的真实值不准确，这个时候我们就需要将影像测量仪放大倍率来选取，获得准确的真实值。还有一个就是在测量过程中，我们尽量使用低角度环形灯来获取更清晰的边界。测量仪不能直接用太阳光直射。高精度二次元影像测量仪有哪些优势
测量仪具有高精度重复性。半自动影像测量仪工厂
随着影像测量仪使用，大家也都较为熟悉，加工行业测量仪器中的精密仪器之一。当你需要对一个尺寸较小，且表面复杂的工件进行测量时，光学影像仪就是个不错之选，影像仪在平面上的尺寸测量误差(Exy): 该测量误差展示在影像测量平面上任意方向摆放产品或样件，测量二维尺寸的示值误差。影像仪在Z轴上的尺寸测量误差( Ez): 该测量误差展示在垂直于影像测量平面方向，单轴方向测量的示值误差。 影像仪的测量头的尺寸测量误差(Ev) :在平台不做移动，在影像视场范围内测量平面任意尺寸的示值误差。影像仪测量各截面测量结果的一致性(Ec) :光学影像仪在光轴的不同截面上测量时，各截面坐标原点投影与XY平面的一致性，可以理解为光学影像仪沿Z方向上下移动时，Z轴与XY水平面之间的垂直程度，也可以反映测量头在不同高度用影像测量特性的一致性。影像仪二维探测误差(P2D) :用光学影像仪测量标准圆的半径变化幅度。影像仪测头的探测误差(PV) :用光学影像仪在视场范围内测量标准圆的半径变化幅度。影像仪的变倍探测误差(Pz) :用光学影像仪在不同倍率下测量标准圆心坐标的示值变化幅度。半自动影像测量仪工厂
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