罗湖区X射线衍射仪使用教程

局部离子清洁度测试仪的测试项目：

离子色谱来进行分析，采用国际电子工业联接协会IPC-TM-6502.3.28的方法可精确标定在线路板上的离子残留的种类和数量。

表面绝缘阻抗测试，采用IPC-9201进行测试，测试的阻抗通常和没有进行离子污染的线路板的阻抗进行比较。

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Analysis Tech的热阻测试仪PHASE-12满足标准：

MIL-STD-750E TEST METHODS FOR SEMICONDUCTOR DEVICES METHOD 3161.1

JEDEC JESD51-1定义的动态测试方法

JEDEC51-14定义的双界面法Rjc(结到壳热阻)测试

MIL-STD-883定义的Rjc测试。

IEC60747-9 INTERNATIONAL STANDARD

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热导率测试仪技术特点：

软件控制测试过程完全自动化

可用于测试固态液态和相变材料

电子方法自动测试样品厚度

自动生成导热系数与厚度、压力的关系

图形并形成PDF格式的数据报告

应用：

测试材料的热阻和导热系数，材料包括各种电子封装和应用的材料。设备符合ASTM D5470 美国材料实验协会标准。

Analysis Tech Inc.成立于 1983 年，坐落于波士顿北部，是电子封装器件可靠性测试的国际设计，制造公司。创始人 John W.Sofia 是美国麻省理工的博士，并且是提出焊点可靠性,热阻分析和热导率理论的**. 发表了很多关于热阻测试于分析，热导率及焊点可靠性方面的论文

热变形形貌测量仪为全球微电子工业,半导体行业、及PCB(线路板生产)工业提供先进的基板及封装测量解决方案。        

运用Projection Moiré完美模拟Reflow状态，实现平整度,共面性以及热变形测量。设备可以通过3D形貌图结合数据来向我们展现产品的优劣。同时它还具备检测产品CTE(热膨胀系数）的功能

TDM技术优势  

非接触式双面加热, 上下表面温差小  

  采用摩尔条纹投影法 ,避免频繁清理光栅板

  快速的升温,降温速率  

  完美的Reflow模拟  

  可同时测量warpage以及变形值, CTE等  

  可测量BGA ball以及leader共面性和变形值  

  测量精度高  

  可同时测量多个样品  

  测试样品高度差：40mm 雷尼绍拉曼光谱仪找泰斯特尔，泰斯特尔自主研发多种测试系统，填补了国内相关领域多项空白。

当一束频率为v0的单色光照射到样品上后，分子可以使入射光发生散射。大部分光只是改变光的传播方向，从而发生散射，而穿过分子的透射光的频率，仍与入射光的频率相同，这时，称这种散射称为瑞利散射；还有一种散射光，它约占总散射光强度的 10^-6～10^-10，该散射光不仅传播方向发生了改变，而且该散射光的频率也发生了改变，从而不同于激发光（入射光）的频率，因此称该散射光为拉曼散射。在拉曼散射中，散射光频率相对入射光频率减少的，称之为斯托克斯散射，因此相反的情况，频率增加的散射，称为反斯托克斯散射，斯托克斯散射通常要比反斯托克斯散射强得多，拉曼光谱仪通常大多测定的是斯托克斯散射，也统称为拉曼散射。摩尔条纹热变形形貌测量仪公司找泰斯特尔，泰斯特尔自主研发多种测试系统，填补了国内相关领域多项空白。南山区热导率测试仪价格

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各种物质的热导率数值主要靠实验测定，其理论估算是近代物理和物理化学中一个活跃的课题。热导率一般与压力关系不大，但受温度的影响很大。纯金属和大多数液体的热导率随温度的升高而降低，但水例外；非金属和气体的热导率随温度的升高而增大。传热计算时通常取用物料平均温度下的数值。此外，固态物料的热导率还与它的含湿量、结构和孔隙度有关。一般含湿量大的物料热导率大。如干砖的热导率约为0.27W/(m·K)而湿砖热导率为0.87W/(m·K)。物质的密度大，其热导率通常也较大。金属含杂质时热导率降低，合金的热导率比纯金属低。各类物质的热导率〔W/(m·K)〕的大致范围是：金属为50～415，合金为12～120，绝热材料为0.03～0.17，液体为0.17～0.7，气体为0.007～0.17,碳纳米管高达1000以上。钻石的热导率在已知矿物中 高。罗湖区X射线衍射仪使用教程

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