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热阻测试基本参数
  • 产地
  • 美国
  • 品牌
  • Analysis Tech
  • 型号
  • Phase 12
  • 是否定制
热阻测试企业商机

Phase12不仅应用于半导体领域,还可应用于LED领域。 伴随着LED的功率越来越大,合理有效的热管理也变得越来越重要。因为LED的结温直接影响其光学性能和寿命。 利用Phase12提供的结构函数分析功能,可以得到: LED在该环境下的总热阻; LED内部各层结构的热阻(包括热界面材料的接触热阻)。 LED灯具选择两种不同材质的转接头的散热性能比较,其中一个是采用金属材料的转接头,另一个是采用塑料材质的转接头。 将LED灯具放置到JEDEC规定的一立方英尺的标准静止空气箱中,利用Phase 12进行热瞬态测试。 得到两种散热条件下该LED灯具到周围环境的热阻Rja; 通过结构函数可以清晰地看到由于散热器引起的热阻的差异; 同一种结构的测量重复性非常好。热阻测试

Phase 12所具备的功能有: 半导体器件结温测量; 半导体器件稳态热阻及瞬态热阻抗测量; 半导体器件封装内部结构分析,包括器件封装内部每层结构(芯片+焊接层+热沉等)的热阻和热容参数; 半导体器件老化试验分析和封装缺点诊断,帮助用户准确定位封装内部的缺点结构。 材料热特性测量(导热系数和比热容) 接触热阻测量,包括导热胶、新型热接触材料的导热性能测试。 Phase 12的测试方法: 基于电学法的热瞬态测试技术 电学法热阻测试报价

型号Phase12热阻测试仪产自美国Analysis Tech(Anatech)公司,符合美军标和JEDEC标准. Analysis Tech Inc.成立于 1983 年,坐落于波士顿北部,是电子封装器件可靠性测试的国际设计,制造公司。创始人 John W.Sofia 是美国麻省理工的博士,并且是提出焊点可靠性,热阻分析和热导率理论的**. 发表了很多关于热阻测试于分析,热导率及焊点可靠性方面的论文.以 Dr.John 为首的研发团队全部毕业于麻省理工。 Analysis Tech Inc.在美国有**的实验室提供技术支持. 在全世界热阻测试仪这套设备有几百家**客户

美国空军U.S. Air Force Avionics Integrity Program统计数据,根据数据显示器件的失效55%是由于温度的原因,所以器件的散热特性对于器件的稳定性非常重要。器件的寿命与工作时PN结温度关系密切,器件工作时的PN结温度TJ越高器件的寿命越短,所以器件的散热特性对于器件的可靠性非常重要。 Phase 12热阻测试仪是通过电性方法测得PN的温度,利用PN结结压与结温的物理特性关系,通过测试PN结的电压来推算得到PN结的温度。所以测试热阻前首先要测得器件PN结结温与结压的线性关系。

PHASE12可以测试Rja,Rjc,Rjb Rjl的热阻(测试原理符合JEDEC51-1定义的动态及静态测试方法) 1)瞬态阻抗(Thermal Impedance)测试,可以得到从开始加热到结温达到稳定这一过程中的瞬态阻抗数据。 2)稳态热阻(Thermal Resistance)各项参数的测试,其包括:Rja,Rjb,Rjc,Rjl, 当器件在给一定的工作电流后。热量不断地向外扩散,***达到了热平衡,这时得到的结果是稳态热阻值。在没有达到热平衡之前测试到的是热阻抗。 3)可以得到用不同占空比方波测试时的阻抗与热阻值。 4)内部封装结构与其散热能力的相关性分析(Structure Function)。 5)装片质量的分析(Die Attachment Quality Evaluation). 6).多晶片器件的测试。 7.SOA 图表生成 8.浪涌测试热阻测试报价

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