光学数字图像相关技术测量

高校与科研机构是研索仪器的关键用户群体，其产品已成为材料科学、力学工程等领域基础研究的重要工具。在生物材料研究中，Micro-DIC 系统可测量软骨、血管等生物组织在力学载荷下的变形行为，为组织工程支架设计提供参考；在新型功能材料研发中，介观尺度测量系统帮助科研人员揭示材料微观结构与宏观性能的内在关联；在仿生材料研究中，通过对比天然材料与仿生制品的力学响应差异，为高性能仿生材料开发提供指导。研索仪器与上海交大、北航等高校的深度合作，不仅推动了科研成果的产出，更助力了创新人才的培养。研索仪器可实时、无损地获取材料/结构表面的三维形变与应变场分布。光学数字图像相关技术测量

ESPI：动态全场测量的先锋ESPI利用激光散斑的随机性作为信息载体，通过双曝光或时间序列干涉图处理，提取变形引起的相位变化。其独特优势在于无需制备光栅或标记点，适用于粗糙表面与动态过程测量。在航空航天领域，ESPI已用于检测飞机蒙皮在气动载荷下的振动模态与疲劳裂纹萌生。云纹干涉术：高灵敏度与高空间分辨率的平衡云纹干涉术通过交叉光栅衍射产生高频云纹条纹，其灵敏度可达亚微米级，空间分辨率优于10线对/毫米。该技术特别适用于金属材料塑性变形、复合材料界面脱粘等微区应变分析。例如，在碳纤维复合材料层压板测试中，云纹干涉术可清晰捕捉层间剪切应变集中现象，为结构优化提供数据支撑。贵州VIC-2D数字图像相关技术测量装置应变测量的量很少能大于几个毫应变(ex10⁻³)。

为了帮助用户提升测量精度与效率，研索仪器还提供完善的配套产品与技术支持。公司自主研发的 VIC-Speckle 散斑制备工具，能够制备出均匀稳定的随机散斑图案，为高质量测量数据的获取奠定基础。同时提供多种规格的标定板、光源等配套硬件，确保测量系统始终处于工作状态。在软件升级方面，公司会根据技术发展与用户需求，定期推出软件更新服务，不断丰富数据分析功能，提升系统性能。研索仪器的服务理念在教育科研领域得到了充分体现。公司荣膺达索系统 "行业贡献奖"，这一荣誉正是对其在服务高校科研与教学数字化升级过程中表现的高度肯定。通过与高校共建联合实验室、参与科研项目攻关等方式，研索仪器不仅提供了先进的测量设备，更深度参与到科研过程中，为科研人员提供专业的技术指导，助力科研成果的快速转化。

针对特殊测试场景，研索仪器提供了定制化解决方案。在介观尺度测量领域，µTS 介观尺度原位加载系统填补了纳米压头与宏观加载设备之间的技术空白，通过 DIC 技术与显微镜结合，可获取局部应变场的精细数据；面对极端环境需求，MML 极端环境微纳米力学测试系统能在真空环境下 - 100℃至 1000℃的温度范围内实现纳米级力学测试，攻克了恶劣条件下的测量难题。此外，红外 3D 温度场耦合 DIC 系统、3D Micro-DIC 显微测量系统等特色产品，进一步拓展了测量技术的应用边界。研索仪器VIC-3D非接触全场变形测量系统可用于工程监测中大型结构（风电叶片、钢结构桥梁）的长期健康诊断。

尽管光学非接触应变测量技术已取得进展，但其在工业现场的广泛应用仍面临多重挑战：环境适应性提升工业场景中存在的振动、温度波动、油污粉尘等因素会干扰光学测量。针对这一问题，研究者正开发自适应光学补偿系统，通过实时监测环境参数并调整光路参数，提升系统稳定性。例如，在汽车碰撞试验中，集成惯性测量单元（IMU）的DIC系统可动态修正振动引起的图像模糊，确保数据可靠性。多尺度测量融合材料变形往往跨越多个空间尺度（如宏观结构变形与微观裂纹扩展）。现有光学技术难以同时覆盖米级测量范围与微米级分辨率。混合测量系统通过组合三维DIC与扫描电子显微镜（SEM），实现“宏观形变-微观损伤”关联分析，为疲劳寿命预测提供新思路。研索仪器科技光学非接触应变测量，适配多种材料，满足多元测量需求。北京VIC-2D数字图像相关技术测量系统

研索仪器光学非接触应变测量系统无需接触样品，避免机械干扰或损伤，适用于脆弱材料（如薄膜、生物组织）。光学数字图像相关技术测量

实际光学应变测量系统往往综合利用多种物理机制。例如，数字图像相关法（DIC）同时依赖光强调制与几何变形约束，而电子散斑干涉术（ESPI）则结合了相位调制与散斑统计特性，这种多机制融合提升了测量的鲁棒性与精度。数字图像相关法（DIC）：从实验室到工业现场的普适化技术DIC通过对比变形前后两幅数字图像的灰度分布，利用相关函数匹配算法计算表面位移场，进而通过微分运算获得应变场。其流程包括：表面随机散斑制备、图像采集、亚像素位移搜索、全场应变计算。技术优势DIC的突破在于其普适性：对测量环境无特殊要求（可适应高温、真空、腐蚀等极端条件），对被测物体形状无限制（平面、曲面、复杂结构均可），且支持静态、动态、瞬态全过程测量。现代高速相机与GPU并行计算技术的发展，使DIC的实时处理速度突破每秒千帧，满足冲击等瞬态过程分析需求。光学数字图像相关技术测量