北京纳米粒度分析仪厂家

激光检测器同时检测颗粒对光的散射程度，根据米氏散射理论，得出不同尺寸颗粒的相对含量，从而得到颗粒粒径的分布曲线。主要参数：测量范围：0.005-75μm，光源：405nmLED，旋转速度：12.000RPM、18.000RPM、24.000RPM，标准分析圆盘：CR-39聚合物（耐有机溶剂和水溶液），可选 配：低密度样品分析扩展、变速圆盘；自动密度梯度液生成器（型号AG300）；自动进样器（型号AS200）；标定用标准颗粒。半导体CMP用抛光垫、清洗液、修整盘、抛光液、纳米研磨粒子以及OLED显示光敏聚酰亚胺、封装墨水、低温光阻材料等20余款“卡脖子”材料。不断开发新的产品，并建立了完善的服务体系。北京纳米粒度分析仪厂家

升降台式样品池送进定位及环境光遮蔽系统，使光子相关谱探测系统不只体积小，而且具有很强的抗干扰能力。高精度的测试温度控制系统：单独的循环温控槽可在2-95℃范围内任意设定，其控制精度达0.1℃。微量样品池/标准样品池：可以使用3.5ML的标准样品池外，还有适应于稀有贵重样品的0.3ML微样池。环境温度：在5-35℃的环境中，本仪器都能正常使用。纳米粒度仪样品池恒温箱及恒温DI水供应系统：有利于提高测试温度控制精度同时减少等待样品池热平衡的时间，提高仪器的实际测试精度和工作效率。北京纳米粒度分析仪厂家公司狠抓产品质量的提高，逐年立项对制造、检测、试验装置进行技术改造。

标定CPS使用的标定颗粒都与美国标准和技术研究院(NIST)的其它标准进行过交叉对比，确保均值、峰宽或者半峰宽等方面的误差在±2%之内，而且颗粒的团聚性也符合要求。可选标定颗粒：直径小于10微米的标定颗粒通常以悬液的形式保存在水中，当然也可以保存在非水基悬液中。大于10微米可以有三种形态，水基悬液，非水基悬液或者干粉状态。每一套标定颗粒都有其粒度分析结果和分析证书。应用实例：PEDOT及其复合材料的粒径测量PEDOT是EDOT(3,4-乙撑二氧噻吩单体)的聚合物，PEDOT具有高电导率、高度的环境稳定性。

CMP浆料粒度分析的难点在于必须在抛光过程中全浓度条件下快速测定平均颗粒直径和粒度分布，因为稀释可能导致浆料稳定性和粒度的变化(比如进一步的团聚或解聚)，另外在稀释后的浆料中很难检测本来就较少量的团聚体。CPS-24000型纳米粒度分析仪是较新型的纳米粒度分析仪，它采用斯托克斯定律分析方法，V=D²(ρP-ρF)G/18η，即颗粒沉降的速度与颗粒的尺寸平方成正比来进行粒度的测量，因此粒径相差小至1%的颗粒都可以明显分辨出来。适用于稀到高浓度的样品粒度测定，对团聚体的存在非常敏感。驰光机电科技欢迎朋友们指导和业务洽谈。

检查仪器状态：在使用仪器之前，操作人员需要检查仪器的工作状态，确保仪器正常、无故障，并具备所需的附件和耗材。如果仪器存在故障或异常情况，应立即停止使用并进行检查。准备实验环境：操作人员需要确保实验环境符合仪器要求，包括温度、湿度、通风等。保持实验室整洁、干燥、无尘，避免对仪器性能和使用造成不良影响。佩戴个人防护用品：操作人员需要佩戴适当的个人防护用品，如化学防护眼镜、实验服、化学防护手套等，以防止意外伤害和污染。遵循操作步骤：操作人员应遵循仪器的操作步骤，不得擅自更改实验条件、操作顺序或省略必要的步骤。驰光机电科技有限公司不断提高产品的质量。北京纳米粒度分析仪厂家

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CMP(化学机械抛光)工艺中磨料颗粒的高精度粒径表征随着半导体工业飞速发展，电子器件尺寸缩小，要求晶片表面平整度达到纳米级。CMP工艺作为芯片制造业不可或缺的一个部分，其对于磨料的颗粒粒度表征要求十分重要。CMP过程中使用的磨料颗粒典型尺寸范围是10-200nm，其颗粒表征要求精确地确定纳米级颗粒的尺寸，因此高分辨率纳米粒度分析仪是磨料颗粒表征的完美解决方案。磨料对CMP工艺起着至关重要的作用！欢迎选用CPS纳米粒度分析仪为您完美解决磨料颗粒问题！北京纳米粒度分析仪厂家