典型系统介绍——PMLABDIC-3D非接触式三维应变光学测量系统:该系统由中国科学技术大学与东南大学共同开发,采用非接触式光学测量方法,可准确测量物体的空间三维坐标以及位移和应变等数据。该系统利用数字图像处理基本原理,通过数字镜头采集图像,拍摄试件变形前后表面形貌特征,识别被测物体表面结构,然后通过三维重建以及数字图像相关性运算得出图像各像素的对应坐标。上海VIC-Gauge3D视频引伸计测量装置:该装置也是一种光学非接触应变测量设备,广泛应用于高温环境下的应变测量。通过比对已知应变的标准样品,实现对设备的准确校准,具有非接触、实时监测等优点。 光弹性法是一种基于光弹性效应的非接触应变测量方法,具有高精度和高灵敏度。江西全场三维非接触应变测量装置

应变测量范围广:从,覆盖了从微小应变到大应变的较广范围。适用性:适用于多种尺寸的测量,从小尺寸的微小物体到大型结构件都能有效测量。接口多样:提供多种数据接口,可以与其他设备如试验机等进行联动,实时同步采集相关信号。尽管光学非接触应变测量系统在技术上已经非常成熟,并且在国内也有工业级的产品,但它可能不适合长期(如十年以上)的测量需求。这是因为任何测量系统都可能随着时间的推移而出现性能退化,因此在长期测量中可能需要定期校准和维护。综上所述,光学非接触应变测量系统不仅能够提供高精度的测量结果,还能够准确地捕捉到微小的应变值,这使得它在材料科学、结构工程以及许多其他领域都有着较广的应用。然而,对于长期测量的应用,需要考虑到系统的稳定性和可靠性,并制定相应的维护计划。 云南VIC-3D非接触测量光学应变测量通过光栅投影和图像处理技术,实现了对物体表面应变的非接触测量。

相位差测量:在光学非接触应变测量中,通常采用相位差测量的方法来获取应变信息。通过比较光栅在不同应变状态下的干涉图案,可以计算出相位差的变化,进而推导出应变值。数据处理:采集到的干涉图像会经过数字图像处理和信号处理的步骤,以提取出干涉图案中的相位信息。通过分析相位信息,可以计算出材料表面的位移、形变等信息,从而得到应变值。总的来说,光学非接触应变测量技术通过光学干涉原理和应变光栅的工作原理,实现对材料应变状态的测量。这种技术具有高精度、高灵敏度、无接触等优点,适用于对材料表面进行微小变形和应变状态的测量和分析。
光学非接触应变测量的原理主要基于光学原理,利用光学测量系统来测量物体的应变情况。具体来说,这种测量方式通过光线照射在被测物体上,并测量反射光线的位移来计算应变情况。在实际应用中,光学非接触应变测量系统结合了激光或数码相机与记录系统和图像测量技术。通过捕捉物体表面的图像,并利用图像处理技术,可以精确计算物体在测试过程中的多轴位移、应变和应变率。这种测量方法中最常见的技术包括激光器、光学线扫描仪和数字图像相关(DIC)软件。例如,激光器可以发射激光束照射在被测物体上,然后通过测量反射光的位移来计算应变。而DIC软件则可以通过分析物体表面的图像变化,计算出物体的位移和应变。 光学应变测量利用光的相位或强度变化,高精度、高灵敏度地捕捉微小应变变化。

光学非接触应变测量技术在复杂材料和结构的应变测量中可能面临以下挑战:多层复合材料:多层复合材料具有不同的层间界面和各向异性特性,导致光学测量信号的复杂性和解释困难。非均匀材料:非均匀材料的光学特性可能随位置和方向的变化而变化,导致测量结果的误差和不确定性。材料表面形貌:材料表面的不规则形貌、粗糙度或反射率不均匀等因素可能影响光学测量信号的质量和准确性。应变场分布不均匀:复杂结构中的应变场可能不均匀分布,导致测量点的选择和数据处理的复杂性。为了克服这些挑战,可以采取以下策略来提高测量的准确性和可靠性:校准和验证:在进行复杂材料和结构的应变测量之前,进行充分的校准和验证,建立准确的测量模型和参数。 光学非接触应变测量是一种用于测量物体应变分布的方法,可以提供定量的应变信息。云南VIC-3D非接触测量
光学非接触应变测量可实时、高速获取数据,对动态应变监测尤为有效。江西全场三维非接触应变测量装置
光学非接触应变测量系统能够准确测量微小的应变值。光学非接触应变测量系统,如XTDIC系统,是一种先进的测量技术,它结合了数字图像相关技术(DIC)与双目立体视觉技术。这种技术通过追踪物体表面的图像,能够在变形过程中实现物体三维坐标、位移及应变的精确测量。具体来说,这种系统具有以下特点:便携性:系统设计通常考虑到现场使用的便利性,因此具有良好的携带特性。速度:该系统能够快速捕捉和处理数据,适用于动态测量场景。精度:具备高精度的特点,能够进行微小应变的准确测量,位移测量精度可达。易操作:用户界面友好,便于操作人员快速上手和使用。实时测量:能够在采集图像的同时,实时进行全场应变计算。 江西全场三维非接触应变测量装置