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 DDR眼图测试1-3

在早期设计阶段，如何完整评价DDR信号质量和时序等参数呢，这里为大家介绍一个设计到验证的流程。ADS提供了W2351EPDDR4一致性分析工具，在ADS仿真后，生成波形可以直接导入到运行于电脑里的示波器离线分析软件Infiniium和N6462ADDR4/LPDDR4一致性测试套件，这个软件可以分析前面所说的JEDEC对DDR4信号要求的电气和时序等参数，判断是否符合规范要求，以测试报告形式呈现，这种方式可以在设计阶段发现违规问题，及时改进设计，缩短研发周期，降低硬件开发成本。另一方面，在硬件已经打板回来，可以通过V系列等示波器测试信号，通过实际的信号检查存在的问题，将仿真的结果和实际测试的结果做相关对比，进一步迭代优化仿真模型和测量方法，使仿真和测试结果逐渐逼近。 示波器眼图测试中的时基失真估计及修正？电气性能测试眼图测试保养

眼图的模板测试

前面介绍的眼图是一种快速对信号进行统计分析的测量方法，对于信号质量的定性分析和Debug比较有用，但是在有些情况下，测量出信号的眼高、眼宽等参数还不够，我们还需要快速判决该被测信号是否满足相应的总线的规范要求，这时候就会用到模板测试。

所谓模板，就是把对于信号高电平的范围要求、低电平的范围要求、抖动的范围等的指标事先定义好，然后把这些要求做成一个模板文件。典型的模板定义有3部分区域组成，上面的区域定义了对信号的幅度要求，下面的区域定义有3部分区域组成，区域定义对信号的眼图张开度要求。 USB测试眼图测试销售厂1”电平和”0”电平取眼图中间20%UI部分向垂直轴投影做直方图，直方图中心值分别为“1”电平和“0”电平。

波形参数测试是数字信号质量评估使常用的测量方法，但是随着数字信号速率的提高，靠幅度、上升时间等的波形参数的测量方法越来越不适用了。比如下图的一个5Gbps的信号来说，由于受到传输通道的损耗的影响，不同位置的信号的幅度、上升时间、脉冲宽度等都是不一样的。不同的操作人员在波形的不同位置测量得到的结果也是不一样的。

因此我们必须采用别的方法对于信号的质量进行评估，对于高速数字信号来说使常用的就是眼图的测量方法。

    图测量中需要叠加的波形或比特的数量：在眼图测量中，叠加的波形或比特的数量不一样，可能得到的眼图结果会有细微的差异。由于随机噪声和随机抖动的存在，叠加的波形或比特数量越多，则眼的张开程度会越小，就越能测到恶劣的情况，但相应的测试时间也会变长。为了在测量结果的可靠性以及测量时间上做一个折衷，有些标准会规定眼图测量需要叠加的波形或比特数量，比如需要叠加1000个波形或者叠加1M个比特等。眼图位置的选择：当数字信号进行波形或者比特叠加后，形成的不只是一个眼图，而是一个个连续的眼图。如果叠加的波形或者比特数量足够，这些眼图都是很相似的，因此可以对其中任何一个眼图进行测量。下图显示的是叠加形成的多个连续的眼图，可以看到每个眼图都是很相似的。通常情况下，为了测量的方便，一般会调整时基刻度使得屏幕上只显示一个完整的眼图。 克劳德高速数字信号测试实验室眼高意味噪声；眼宽意味抖动。

数字信号抖动的成因

 抖动反映的是数字信号偏离其理想位置的时间偏差。高频数字信号的比特周期都非常短，很小的抖动都会造成信号采样位置电平的变化，所以高频数字信号对于抖动都有严格要求。高速的串行数字信号对抖动的要求更加严格，同时由于其传输路径比较复杂，中间可能会受到各种因素的影响，所以其总体抖动也可能是由不同的抖动分量组成的，而且不同分量对于系统性能的影响也不一样。因此，很多更高速率的串行信号测试在中，出来知道抖动的均方根植或者峰峰值以外，还会要求对抖动的各个成分进行分解和分析。 眼图测试系统仪器仪表？USB测试眼图测试销售厂

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（5）眼图测量中需要叠加的波形或比特的数量：在眼图测量中，叠加的波形或比特的数量不一样，可能得到的眼图结果会有细微的差异。由于随机噪声和随机抖动的存在，叠加波形或比特数量越多，眼的张开程度就会越小，就越能测到是恶劣的情况，但相应的测试时间也会变成。为了在测量结果的可靠性以及测量时间上做一个折中，有些标准会规定眼图测量需要叠加的波形或比特数量，比如需要叠加1000个波形或者叠加1Mbit。

（6）眼图位置的选择:当数字信号进行波形或者比特叠加后，形成的不只是一个眼图，而是一个个连续的眼图。如果叠加的波形或者比特数量足够，这些眼图都是很相似的，因此可以对其中任何一个眼图进行测量。 电气性能测试眼图测试保养