安徽USB物理层测试芯片测试

新USB4标准新USB4标准引入了16种新的预置值，也就是说，发射机均衡现在有16种不同的组合。较USB 3.2发射机，这是一个很大的变化，前者支持1个前冲电平和3个加重电平。USB4采用双重角色数据操作，使主机到主机通信成为可能。USB4接收机测试和链路/通路初始化中的巨大差异之一，是它采用边带通道进行通信。USB4接收机测试不同于传统 USB 3. 2接收机测试。现在，USB4接收机测试采用机载误码计数器，来计算BER，因此我们现在需要USB4微控制器，来同时执行发射机测试和接收机测试。USB物理层测试是否需要考虑端到端的电缆连接质量？安徽USB物理层测试芯片测试

USB3.0、USB3.1、USB3.2、USB4.0每一代的数据速率都有非常大的提升。需要注意的是，在USB3.1规范推出后，之前USB3.0中定义的5Gbps速被称为Genl速率，新定义的10Gbps被称为Gen2速率。而在2019年发布的USB4.0规范中，新增的20Gbps速率被称为Gen3速率。USB3.0和之后的标准都采用了双总线架构(图3.1),即在USB2.0的基础上增加了超高速总线部分。超高速总线的信号速率达到5Gbps、10Gbps甚至20Gbps,采用全双工方式工作。以PC上普遍使用的Type-A连接器为例，为了支持更高速率的信号传输，就在原有USB2.0的4根线(Vbus、Gnd、D+、D-)基础上新增加了5根信号线，包括2对差分线和1根屏蔽地线(如果是Type-C连接器则增加更多)。原来的4根线完全兼容原来的USB2.0设备；新增的这两对差分线采用全双工作模式，一对线负责发送，另一对线负责接收，发送和接收都可实现5Gbps或以上速率的数据传输。克劳德高速数字信号测试实验室地址：深圳市南山区南头街道中祥路8号君翔达大厦A栋2楼H区安徽USB物理层测试芯片测试如何测试USB接口在高温环境下的性能？

对于捕获到的数据波形的分析，可以使用USB协会提供的Sigtest软件或者示波器厂商的自动测试软件。Sigtest是USB协会提供的进行USB3.0等总线分析的官方分析软件，但是需要用户手动捕获码型、切换码型、进行示波器触发设置等，操作比较烦琐，且设置不对可能影响捕获的波形或分析的结果。由于USB3.x的测试涉及被测件类型、速率、均衡器、测试脚本调用、传输通道设置等非常多的因素，而且不同的测试项目需要在不同的测试码型下进行，设置不当可能测试结果完全不对，所以一般建议使用用的自动测试软件配合示波器进行测试。图3.7是在示波器中安装的USB3.x自动测试软件的设置界面。通常用户只需根据设置向导选择相应的测试项目，然后按照向导连接DUT并把DUT设置成正确的模式即可自动运行测试，软件会自动捕获波形并测试生成html格式的测试报告。测试软件中还会自动调用设置好的通道模型和均衡器，以及内置的USB协会发布的SigTest脚本，从而简化了手动操作，并可以保证测试算法完全符合USB协会对信号分析的要求。

测试过程Tektronix示波器对于USB2.0这类接口的测试都有非常完善的测试解决方案，这些方案都是标准流程化的，只要进入到软件测试界面即可按照流程图一步一步的往下进行测试。下面是测试时的相关设置和注意事项：在测试前，首先要预热、校准示波器（大约20分钟）、线缆需要做de-skew。这一步非常的关键，特别是线缆做de-skew，因为很多时候线缆与线缆之间有一些偏差，如果不做de-skew就会导致在差分信号的正端和负端引入系统误差。然后就开启测试USB2.0软件TDSUSB2TestApp，USB物理层测试是否需要考虑差分信号的匹配性？

从2015年到现在，是德科技基于磷化铟(InP)工艺的Infiniium系列高带宽示波器，凭借其优异的低噪声、低抖动底噪等硬件性能和的尾部拟合”Tail-fit”抖动分离算法等软件，一直是被Intel和Thunderbolt认证实验室认可和批准使用的高带宽示波器。进入到USB4.0时代，大家如果仔细通读每一个版本的测试规范，都可以发现，所以的仪表截屏、设定和算法，采用的都是德科技高带宽示波器。2019年，是德科技基于第二代磷化铟(InP工艺，推出了110GHz带宽，256GSa/s采样率，硬件10bitADC，25fs抖动底噪的UXR系列示波器，将高速信号量测精度推到了另外一个高度。如下所示，是是德科技UXR示波器和已是业内的是德科技V系列示波器，测试同一个USB4.0信号的测试结果比较，UXR示波器提供了更优的信号测试余量。如何测试USB 3.0接口的USB PD（电力传递）功能？安徽USB物理层测试芯片测试

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针对某特定讯号速度(低速、全速或高速)先选择需进行的量测项目，然后根据层(即DUT的连接层)、测试点(DUT的测试点-近端或远程)以及传输方向(上传或下传测试)设定应用程序，如图所示。在完成了这两步之后，使用者即可执行自动量测了。接着就是设置DUT类型、速率、夹具和测试分析模式，由于DUT是device，所以在Device一栏选择Device；USB2.0的速率为7G；测试的夹具分为了两类，一类是USB-IF协会的，另一类就是Tektronix的，在这里选择的是Tektronix的测试夹具；另外一个非常关键的点就是TestMethod，是否选用USB-IFSigTest的分析方法，通常，我们会选择使用；选择参考时钟，一般高速串行信号都会选用SSC模式；还要根据产品使用。安徽USB物理层测试芯片测试