这些内容不局限于一种技术方案,而是几种不同技术方案中概括出来的共同点。如采用无导轨干涉仪,对跟踪系统的要求可以降低;采用二维精密跟踪测角系统在1M3测量范围内可以得到高精度;有了超半球反射镜可以提高4路跟踪方案的精度。在现场进行介入制造和装配不能等待很长时间,力和热变形的补偿是必须的而且需要足够快,现在的技术还有相当大的差距,所以这些进展是关键性的。应用范围:新型并行机构机床的鉴定,飞机装配型架的鉴定,大型设备安装,用于生物芯片精密机器人校准等。用AquadB数据输出测量。测量激光干涉仪深度测量
干涉仪注意事项
1、仪器应放置在干燥、清洁以及无振动的环境中应用。2、在移动仪器时,为防止导轨变形,应托住底座再进行移动。3、仪器的光学零件在不用时,应在清洁干燥的器皿中进行存放,以防止发霉。4、尽量不要去擦拭仪器的反光镜、分光镜等,如必须擦拭则应当小心擦拭,利用科学的方法进行清洁。5、导轨、丝杆、螺母与轴孔部分等传动部件,应当保持良好的润滑。因此必要时要使用精密仪表油润滑。6、在使用时应避免强旋、硬扳等情况,合理恰当的调整部件。7、避免划伤或腐蚀导轨面丝杆,保持其不失油。 翘曲度激光干涉仪形貌测量膨胀计:热膨胀和磁致伸缩测量。
干涉仪是根据光的干涉原理制成的一种仪器。分双光束干涉仪和多光束干涉仪两大类。其思想在于利用波的叠加性来获取波的相位信息, 从而获得实验所关心的物理量。干涉仪并不仅只局限于光干涉仪。干涉仪在天文学(Thompson et al,2001),光学,工程测量,海洋学,地震学,波谱分析,量子物理实验,遥感,雷达等等精密测量领域都有广泛应用(Hariharan,2007)。根据光干涉原理制成的仪器。所以干涉仪是以光波波长为单位测量光程差的,其测量精度之高是任何其他测量方法所无法比拟的。
引力波测量干涉仪也可以用于引力波探测(Saulson,1994)。激光干涉仪引力波探测器的概念是前苏联科学家Gertsenshtein和Pustovoit在1962年提出的(Gertsenshtein和Pustovoit 1962。1969年美国科学家Weiss和Forward则分别在1969年即于麻省理工和休斯实验室建造初步的试验系统(Weiss 1972)。截止jin ri,激光干涉仪引力波探测器已经发展了40余年。目前LIGO激光干涉仪实验宣称shou ci直接测量到了引力波 (LIGO collaboration 2016)。LIGO可以认为是两路光线的干涉仪,而另外一类引力波探测实验, 脉冲星测时阵列则可认为是多路光线干涉仪(Hellings和Downs,1983)。干涉位移传感器和低温显微镜系统及低温恒温器。
按相数分
绝大多数产品是单相的,因为电压互感器容量小,器身体积不大,三相高压套管间的内外绝缘要求难以满足,所以只有3-15kV的产品有时采用三相结构。
按电压变换原理分
电磁式电压互感器:根据电磁感应原理变换电压,原理与基本结构和变压器完全相似,我国多在及以下电压等级采用;电容式电压互感器:由电容分压器、补偿电抗器、中间变压器、阻尼器及载波装置防护间隙等组成,用在中性点接地系统里作电压测量、功率测量、继电防护及载波通讯用;光电式电压互感器:通过光电变换原理以实现电压变换,还在研制中。
按使用条件分
户内型电压互感器:安装在室内配电装置中,一般用在及以下电压等级;户外型电压互感器:安装在户外配电装置中,多用在及以上电压等级。 不稳定的偏航和俯仰测量。传感器激光干涉仪检测
分析电动机在不同转速下的振动。测量激光干涉仪深度测量
利用不同构形的弹性敏感元件可测量各种物体的应力、应变、压力、扭矩、加速度等机械量。半导体应变片与电阻应变片(见电阻应变片相比,具有灵敏系数高(约高 50~100倍)、机械滞后小、体积小、耗电少等优点。P型和N型硅的灵敏系数符号相反,适于接成电桥的相邻两臂测量同一应力。早期的半导体应变片采用机械加工、化学腐蚀等方法制成,称为体型半导体应变片。它的缺点是电阻和灵敏系数的温度系数大、非线性大和分散性大等。这曾限制了它的应用和发展。自70年代以来,随着半导体集成电路工艺的迅速发展,相继出现扩散型、外延型和薄膜型半导体应变片,上述缺点得到一定克服。半导体应变片主要应用于飞机、导弹、车辆、船舶、机床、桥梁等各种设备的机械量测量。测量激光干涉仪深度测量