企业商机
激光干涉仪基本参数
  • 品牌
  • OPILB
  • 型号
  • ILBMG
  • 类型
  • 激光干涉仪,白光干涉仪
激光干涉仪企业商机

用作高分辨率光谱仪。法布里-珀luo gan涉仪等多光束干涉仪具有很尖锐的干涉极大,因而有极高的光谱分辨率,常用作光谱的精细结构和超精细结构分析。历史上的作用。19世纪的波动论者认为光波或电磁波必须在弹性介质中才得以传播,这种假想的弹性介质称为以太。人们做了一系列实验来验证以太的存在并探求其属性。以干涉原理为基础的实验极为精确,其中极有名的是菲佐实验和迈克耳孙-莫雷实验。1851年,A.H.L.菲佐用特别设计的干涉仪做了关于运动介质中的光速的实验,以验明运动介质是否曳引以太。1887年,A.A.迈克耳孙和E.W.莫雷合作利用迈克耳孙干涉仪试图检测地球相对jue dui静止的以太的运动。对以太的研究为A.爱因斯坦的狭义相对论提供了佐证。能够测量液体的表面运动,开启了在各科学和工业领域实现独特应用的可能性。安徽激光干涉仪

频率影响

1 当频率自额定值偏离±10%(但对相位表和功率因数表为±2%,对单相无功功率表为±5%)时,由此所引起的仪表指示值的改变应不超过表7 中的规定值。如果在仪表上注明额定频率范围,则在此范围内的任一频率下,仪表的基本误差都应不超过规定值。如果在仪表上除注明额定频率外,还注明有扩大的频率范围时,则在此范围内的任一频率下,仪表的基本误差应不超过表7 中规定值的两倍。仪表辅助电路的电源,当其频率自额定值偏离±2%时,由此引起的仪表指示值的改变,应不超过表7 规定值的一半。

2 检验频率的影响时,应遵守有关规定(对频率的规定除外),且应除去变差影响。试验是在标度尺的几何中心附近和上量限附近的两点分度线上进行。相位表在额定电流下进行,功率表在额定功率因数下进行。 番禺区电子激光干涉仪三坐标测量机和加工中心的校准。

数控转台分度精度的检测:数控转台分度精度的检测及其自动补偿现在,利用ML10激光干涉仪加上RX10转台基准还能进行回转轴的自动测量。它可对任意角度位置,以任意角度间隔进行全自动测量,其精度达±1。新的国际标准已推荐使用该项新技术。它比传统用自准直仪和多面体的方法不仅节约了大量的测量时间,而且还得到完整的回转轴精度曲线,知晓其精度的每一细节,并给出按相关标准处理的统计结果。知晓其精度的每一细节,并给出按相关标准处理的统计结果。

薄膜型半导体应变片

这种应变片是利用真空沉积技术将半导体材料沉积在带有绝缘层的试件上或蓝宝石上制成的。它通过改变真空沉积时衬底的温度来控制沉积层电阻率的高低,从而控制电阻温度系数和灵敏度系数。因而能制造出适于不同试件材料的温度自补偿薄膜应变片。薄膜型半导体应变片吸收了金属应变片和半导体应变片的优点,并避免了它的缺点,是一种较理想的应变片。

外延型半导体应变片

这种应变片是在多晶硅或蓝宝石的衬底上外延一层单晶硅而制成的。它的优点是取消了P-N结隔离,使工作温度大为提高(可达300℃以上)。 IDS与各种目标和目标材料兼容。

阻尼时间

1 热电系、热线系及静电系仪表,吊丝式仪表和指针长度大于150MM 的仪表,其可动部分的阻尼时间应不超过6S。其余的仪表应不超过4S。当被测量突然改变时,仪表指示器的前列次偏转值与稳定后的偏转值之比应不大于1.5。凡外电路电阻有规定范围时,当电阻在这个范围内变动时,其阻尼时间均应满足要求。

2 测定仪表指示器的阻尼时间时,应遵守规定。测定阻尼时间时,应自被测之量开始改变(或放回指示器)时起,至指示器离结尾静止位置不大于标度尺长度1%时止。在测定阻尼时间的同时,读取指示器前列次偏转值与稳定后的偏转值,然后求出其比值。测定阻尼时间的具体规定如下:A.单向标度尺仪表——自接入被测量至指示器偏转至标度尺几何中心附近时测定;B.双向对称标度尺仪表——自断开相当于标度尺最大值的被测量时测定;C.双向非对称标度尺仪表——自断开或接通相当于标度尺全长一半的被测量时测定;D.比率表和无机械零位标度尺仪表——自改变被测量使指示器由始点移至标度尺几何中心附近时测定。也允许接入约相当于标度尺几何中心的被测量,再将指示器用机械方法移至标度尺的始点或终点,然后放回指示器的方法测定。测定阻尼时间时应测三次,取其平均值。 3轴:测量不稳定的俯仰pitch和偏航运动yaw。三维轮廓激光干涉仪共焦技术

检测电机的轴承误差。安徽激光干涉仪

利用不同构形的弹性敏感元件可测量各种物体的应力、应变、压力、扭矩、加速度等机械量。半导体应变片与电阻应变片(见电阻应变片相比,具有灵敏系数高(约高 50~100倍)、机械滞后小、体积小、耗电少等优点。P型和N型硅的灵敏系数符号相反,适于接成电桥的相邻两臂测量同一应力。早期的半导体应变片采用机械加工、化学腐蚀等方法制成,称为体型半导体应变片。它的缺点是电阻和灵敏系数的温度系数大、非线性大和分散性大等。这曾限制了它的应用和发展。自70年代以来,随着半导体集成电路工艺的迅速发展,相继出现扩散型、外延型和薄膜型半导体应变片,上述缺点得到一定克服。半导体应变片主要应用于飞机、导弹、车辆、船舶、机床、桥梁等各种设备的机械量测量。安徽激光干涉仪

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