企业商机
光学膜透过率测试仪基本参数
  • 品牌
  • 千宇光学科技
  • 型号
  • PLM-10S
  • 类型
  • 光学测量仪
  • 规格
  • PLM-10S
光学膜透过率测试仪企业商机

目前,国内相位差测量仪生产厂家或研究单位明显存在着技术老化问题,其采用的器件、方法和技术与技术先进**有较大的的差距。而**近发展的先进的计算机技术、电子技术等却由技术、资金、管理等方面的原因未能应用于相位测量技术,因此国内相位测量的水平与国外水平有着相当大的差距。同时,随着**和科教等领域的发展,迫切需要高精度高性能的相位测量系统,而且在一些特殊工程领域,还需要测量仪器具备其它特殊功能。由此可见,为缩小这些差距,对高精度相位测量算法的研究和相位测量系统的设计刻不容缓。本文介绍的是一套较完整的高精度相位差测量仪,提高相位及频率参数的测量精度,并扩展测相系统功能,由移相网络模块、相位差测量模块及频率测量模块三大部分构成,其系统功能主要是进行相位差测量及频率和幅度测量。轴角度精度:±0.05°(精度业内比较高)。江西补偿膜光学膜透过率测试仪供应商

相位差,物理学概念。两个频率相同的交流电相位的差叫做相位差,或者叫做相差。这两个频率相同的交流电,可以是两个交流电流,可以是两个交流电压,可以是两个交流电动势,也可以是这三种量中的任何两个。一台高精度相位差测量仪对相位差的测量尤为重要。相位差与相位的关系(1)当j12>0时,称***个正弦量比第二个正弦量的相位越前(或超前)j12;(2)当j12<0时,称***个正弦量比第二个正弦量的相位滞后(或落后)|j12|;(3)当j12=0时,称***个正弦量与第二个正弦量同相,如图7-1(a)所示;(4)当j12=±π或±180°时,称***个正弦量与第二个正弦量反相;云南离型膜光学膜透过率测试仪用途相位差测试仪:离型膜相位差测试仪 。

专业性:光学博士团队合力研发,追求国产替代。 精心打造的每一台设备出货前都会用**i级计量标准片进行校验 打破国外垄断 主要精度数据: 整机尺寸:根据客户样品尺寸定制; 对应样品尺寸:可定;制 轴角度测量范围:0°~180°; 数据输出:电脑连接; 轴角度精度:±0.05°(精度业内*高); 测量重复性:0.02° (精度业内*高); 相位差重复性精度:3σ≦0.1nm; 测量波段:550nm单波段(可根据客户要求定制波段)可升级为380nm~780nm。

相位差测量 两个正弦电量可以是电压和电流,或者一个是电压,一个是电流等,对应点通常是从负到正的过零点,相当于正弦电函数的初始相位角。相位差的单位是度或弧度,正负号表示超前或滞后关系。一种 由于被测相位差正弦电量的频率范围很宽,所以通常根据频率选择测量方法和仪器。常用的方法有直接法和间接法。一种 直接法:用指针式相位计、数字相位计等**仪器或用负示波器测量相位差。当使用阴极示波器时,将两个相同频率的正弦电压信号分别加到示波器的X轴和Y轴上。然后两个正弦电压之间的相位差为∮=电弧正弦(B/α)。相位差测试仪:KOBRA相位差测试仪。

来间接的测定信号传播的时间,从而求得被测距离的。因此,信号相位测量的精度也就决定了测距的精度。相位测量技术的研究由来已久,**早的研究和应用是在数学的矢量分析和物理学的圆周运动以及振动学方面,随之在电力部门、机械部门、航空航天、地质勘探、海底资源等方面也相应得到重视和发展。随着电子技术和计算机技术的发展,相位测量技术得到了迅速的发展,目前相位测量技术已较完善,测量方法及理论也比较成熟,相位测量仪器已系列化和商品化。现代相位测量技术的发展可分为三个阶段:***阶段是在早期采用的诸如阻抗法、和/差法、三电压法、比对法和平衡法等,虽然方法简单,但测量精度较低;第二阶段是利用数字**电路、微处理器、FPGA/CPLD、DSP等构成测相系统,使测量精度得以**提高;第三阶段是充分利用计算机及智能化虚拟测量技术,从而**简化设计程序,增强功能,使得相应的产品精度更高、功能更全。同时,各种新的算法也随之出现。相位测量是正弦信号经过不同的时间或不同的网络后可以有不同的相位。通常所谓相位测量是指对两个同频率信号之间相位差的测量。**常见的是对网络输入与输出信号的相位差,即网络相移的测量。公司主要的经营范围为光电材料、电子科技、软件科技领域内的技术开发。贵州配向膜光学膜透过率测试仪特点

测量波段上料方式:手动上料。江西补偿膜光学膜透过率测试仪供应商

相位差测试仪是工业领域中是经常用到的一般测量工具,比如在电力系统中电网并网合闸时,需要两电网的电信号相同,这就需要精确的测量两工频信号之间的相位差。更有测量两列同频信号的相位差在研究网络、系统的频率特性中具备重要意义。相位测量的方法很多,典型的传统方法是通过显示器观测,这种方法误差较大,读数不方便。为此,我们设计了一种数字相位差测量仪,实现了两列信号相位差的自动测量及数显。在相位差测量过程中,不允许两路信号在放大整形电路中发生相对相移。为了使两路信号在测量电路中引起的附加相移是相同的,图1中A1和A2安排了相同的电路。江西补偿膜光学膜透过率测试仪供应商

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