企业商机
光学膜透过率测试仪基本参数
  • 品牌
  • 千宇光学科技
  • 型号
  • PLM-10S
  • 类型
  • 光学测量仪
  • 规格
  • PLM-10S
光学膜透过率测试仪企业商机

在光学延迟膜中,在保证稳定的光学性质方面,要求上述延迟Ro和Rt的变化较小。尤其是在双折射模式的液晶显示器中,变化为产生图像不均匀的原因。根据溶液浇铸法制造的长向(long-length)起偏振片保护膜可以根据微量残留在膜中的有机溶剂的蒸发而变性。该长向起偏振片保护膜以卷的形式制造、存储并运输。然后,用长向起偏振片保护膜由起偏振片制造商来制造起偏振片。因此,当膜中存在残留溶剂时,靠近春芯的溶剂很难挥发,而且从卷的外侧到内侧以及从宽度方向的边缘到中心,膜中溶剂的量是不同的,其可导致随时间的延迟变化。测试仪有:日本大冢相位差测试仪。贵州偏光片光学膜透过率测试仪设备

相位差测量 两个正弦电量可以是电压和电流,或者一个是电压,一个是电流等,对应点通常是从负到正的过零点,相当于正弦电函数的初始相位角。相位差的单位是度或弧度,正负号表示超前或滞后关系。一种 由于被测相位差正弦电量的频率范围很宽,所以通常根据频率选择测量方法和仪器。常用的方法有直接法和间接法。一种 直接法:用指针式相位计、数字相位计等**仪器或用负示波器测量相位差。当使用阴极示波器时,将两个相同频率的正弦电压信号分别加到示波器的X轴和Y轴上。然后两个正弦电压之间的相位差为∮=电弧正弦(B/α)。北京离型膜慢轴光学膜透过率测试仪测试误区:配向角(取向角)不是指轴角。

相位差测试仪应用于电力线路、变电所的相位校验和相序校验,具有核相、测相序、验电等功能。具备很强的抗干扰性,适应各种电磁场干扰场合。被测高电压相位信号由采集器取出,经过处理后直接发射出去。由***接收并进行相位比较,对核相后的结果定性。因本产品是无线传输,真正达到安全可靠、快速准确,适应各种核相场合。两个频率相同的交流电相位的差叫做相位差,或者叫做相差。这 两个频率相同的交流电,可以是两个交流电流,可以是两个交流电压,可以是两个交流电动势,也可以是这三种量中的任何两个。两个同频率正弦量的相位差就等于初相之差。是一一个不随时间变化的常数。也可以是一个元件.上的电流与电压的相位变化。

PLM系列是由苏州千宇光学科技有限公司精心设计研发及生产的一款高精度相位差轴角度测量仪。该设备可解析多层相位差,是对吸收轴角度、快慢轴角度、相位差、偏光度、色度及透过率等进行高精密测量;是结合偏光解析和一般光学特性分析于一体的设备;并提供不同型号,供客户进行选配。设备主要运用于:偏光片,盖板玻璃,双折射材料,离型膜,补偿膜,其他光学材料的测试中。可解析多层相位差,主要测试项目包括:吸收轴角度,偏光轴角度,快轴,慢轴角度,波长分散性,三次元折射率,相位差R0/Rth(0~20000nm),透过率,色度,偏光度。选配测试功能:1.相位差延迟量、椭偏率、配向角 2.色度、多波段测试(380nm~780nm)、偏光度 。

相位差测量仪主要是由锁相环产生360倍频基准信号和移相网络的基准信号与待测信号进行异或后的信号作为显示器的闸门电路和控制信号。频率测量模块主要是用计数法测量频率的,它是有某个已知标准时间间隔Ts内,测出被测信号重复出现的次数N,然后计算出频率f=N/Ts.显示电路模块主要是由计数器、锁存器、译码器和数码管组成。相位差测试仪是工业领域中是经常用到的一般测量工具,比如在电力系统中电网并网合闸时,需要两电网的电信号相同,这就需要精确的测量两工频信号之间的相位差。相位差测试仪:偏光片贴合角测试仪 。上海取向膜光学膜透过率测试仪技术参数

专业性:光学博士团队合力研发,追求国产替代。贵州偏光片光学膜透过率测试仪设备

专业性:光学博士团队合力研发,追求国产替代。 精心打造的每一台设备出货前都会用**i级计量标准片进行校验 打破国外垄断 主要精度数据: 整机尺寸:根据客户样品尺寸定制; 对应样品尺寸:可定;制 轴角度测量范围:0°~180°; 数据输出:电脑连接; 轴角度精度:±0.05°(精度业内zui高); 测量重复性:0.02° (精度业内zui高); 相位差重复性精度:3σ≦0.1nm; 测量波段:550nm单波段(可根据客户要求定制波段)可升级为380nm~780nm。贵州偏光片光学膜透过率测试仪设备

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