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吸收轴角度测试仪基本参数
  • 品牌
  • 千宇光学科技
  • 型号
  • PLM-10S
吸收轴角度测试仪企业商机

偏光片吸收轴角度定义:偏光片的透过率*低的方向;相位差Rth定义:厚度方向的相位差  波长分散性测试定义:在波长400nm-800nm下相位延迟量的曲线

间接法通常采用三电压表法。一般要求两电压信号有一公共点(设为a点),当分别测出两信号电压Uab、Uca,以及两电压的差值Ubc后,可画出电压三角形。按余弦定理,两信号电压间的相位差当∮很小时,可将Uab或Uca中较大的一个信号电压分压,使分压后两信号的数值相等。间接法通常采用三电压表法。一般要求两电压信号有一公共点(设为a点),当分别测出两信号电压Uab、Uca,以及两电压的差值Ubc后,可画出电压三角形。按余弦定理,两信号电压间的相位差当∮很小时,可将Uab或Uca中较大的一个信号电压分压,使分压后两信号的数值相等。 专业性:光学博士团队合力研发,追求国产替代。湖北R0吸收轴角度测试仪商家

PLM-10S是由苏州千宇光学精心设计研发及生产的一款高精度相位差轴角度测量仪,该设备由光学博士团队合力研发,追求国产替代,打破进口设备在光学膜、双折射材料行业中相位差测量的20多年垄断。科普一些光学小知识:扩散膜是通过在光学膜片材料上的微细颗粒(beads)实现光的扩散,而增亮膜(棱镜片)是通过在透明光学材料上加工成型微细条纹(光栅)结构进行反射和折射,对光能重新分布。由于表面均匀布满棱形尖锥型的微细结构,提高了光线透过率,增大了亮度和视角。增光膜(棱镜片)的生产工艺包括光学设计、精密模具、化学配方及涂布。国际先进国家的方法就是在加工完的模辊上通过光固化UV胶成型工艺技术,实现微细光学结构的成型工艺。增光膜**关键的技术是在辊筒上雕刻棱形花纹技术。芜湖透过率吸收轴角度测试仪相位差测试仪的数据输出:电脑连接。

光学膜偏光片吸收轴角度测试仪相关科普:相位差测试仪是工业领域中是经常用到的一般测量工具,比如在电力系统中电网并网合闸时,需要两电网的电信号相同,这就需要精确的测量两工频信号之间的相位差。更有测量两列同频信号的相位差在研究网络、系统的频率特性中具备重要意义。相位测量的方法很多,典型的传统方法是通过显示器观测,这种方法误差较大,读数不方便。为此,我们设计了一种数字相位差测量仪,实现了两列信号相位差的自动测量及数显。在相位差测量过程中,不允许两路信号在放大整形电路中发生相对相移。为了使两路信号在测量电路中引起的附加相移是相同的,图1中A1和A2安排了相同的电路。

PLM偏光系列测试仪选配型号:PLM-10S可测项目:吸收轴角度,偏光度,透过率(单体,平行,直交)

相位测量技术的研讨由来已久,**早的研讨和应用是在数学的矢量分析和物理学的圆周运动以及振动学方面,随之在电力部分、机械部分、航空航天、地质勘探、海底资源等方面也相应得到注重和展开。跟着电子技术和计算机技术的展开,相位测量技术得到了灵敏的展开,现在相位测量技术已较完善,测量方法及理论也比较老练,相位测量仪器已系列化和商品化。现代相位测:量技术的展开可分为三个阶段:***阶段是在前期采用的诸如阻抗法、和/差法、三电压法、比对法和平衡法等,虽然方法简略,但测量精度较低;第二阶段是运用数字**电路、微处理器、FPGA/CPLD、 DSP等构成测相系统,使测量精度得以**提高;第三阶段是充分运用计算机及智能化虚拟测量技术,然后**简化规划程序,增强功用,使得相应的产品精度更高、功用更全。一起,各种新的算法也随之出现。 测量波段:550nm单波段,上料方式:手动上料。

偏光片吸收轴角度测试仪PLM-100P可测试项目:吸收轴角度、快慢轴角度、相位差、偏光度、色度及透过率等,欢迎各位客户及代理商前来咨询

若我们将一个信号周期看作是 360,则相差的范围就在0°~360°。:两个同频信号之间的移相, 是电子行业继电保护领域中模拟、分析问题的一个重要手段,利用移 相原理可以制作校验各种有关相位的仪器仪表、继电保护装置的信号 源。因此,移相技术有着很广的实用价值。我们知道,将参考信号整 形为方波信号,并以此信号为基准,延时产生另一个同频的方波信号, 再通过波形变换电路将方波信号还原成正弦波信号。以延时的长短来 决定两信号间的相位值。这种处理方式的实质是将延时的时间映射为 信号间的相位值。也就是说,只要能够测量出该延迟时间,我们就可 以推算出其相位差值。 测量波段上料方式:手动上料。青海Rth吸收轴角度测试仪技术参数

精心打造的每一-台设备出货前都会用**计量标准片进行校验。湖北R0吸收轴角度测试仪商家

PLM-100P是一款可以解析多层相位差,吸收轴角度,轴角度透过率,色度(La、b),偏光度,快轴慢轴角度单波段(550nm为主)/多波段测试(380nm~nm为主)内应力的光学性能检测仪

光谱仪参数探测器类型:HAMATSU光电二极管阵列像素点:2048光栅:全息平场凹面衍射光栅狭缝:可选择狭缝宽度(25um、50um、100um、200um)光谱范围:VIS:400--800nmUV-VIS:190--800nm光学分辨率:VIS:1.5nm(100um狭缝)UV-VIS:1.5nm(100um狭缝)波长精度:±0.2nm光谱杂散光:<0.05%(400nm)信噪比:2000:1AD分辨率:16bit积分时间:0.1ms--60s供电:5V/220mA通讯接口:USB2.0(480Mbps) 湖北R0吸收轴角度测试仪商家

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