加拿大Resonance有限公司的传输和反射评估系统设计是将真空紫外线(VUV)或者紫外线(UV)辐射到目标样品，测量目标的反射、传输。 该系统包括了一个从115纳米到400纳米的氘灯，一个200毫米的焦距的真空单色仪，带有PC控制的马达驱动器，一个可以从115到320纳米的光管(PMT)，LabviewTM软件和控制器。 系统组成氢光源该系统有一个resonance公司提供.，D2ArCML氢光源，提供的辐射范围从115纳米到400纳米，光子流量大约为2 x 10E15个光子/秒/str。这盏灯是用一个SMA螺纹适配器安装的，它位于单色仪的入口狭缝处。视测光度法主要有裂隙显微光度仪法和视觉显微光度仪法等。扬州反射率测试系统诚信企业
反射率是不透明矿物**重要的光学性质，是鉴定矿物的主要光学常数。其测定方法一般有光电学方法（光电光度法）和光学方法（视测光度法和简易比较法）。光电学方法（光电法或光电光度法）是利用光电效应的原理，即利用光电元件所产生的光电流与其受照光强成正比的原理来测定矿物反射率。其方法是在同一条件下，分别测取“标准”与欲测矿物的光电流强度，从而根据已知反射率的“标准”计算出欲测矿物的反射率。测反射率的光电装置，按所采用光电元件种类可分为光电池、光电管和光电倍增管显微光度计。前两种由于其灵敏度及准确性差而被淘汰；光电倍增管显微光度计其灵敏度高，能测直径小至0.5 μm面积的光强。所以被国际矿相学**会规定为测定反射率的标准仪器。淄博反射率测试系统值得推荐现阶段市面上的反射率检测仪是一套全波长显微球面光学元件光谱分析仪，能准确地测量各类球面的相对反射率。
透射与反射的情况相似，对完美平整样品和粗糙样品的透射光谱测量方式是不同的。对于完美的平整样品，采用0度角入射、180度角接受即可；对于粗糙样品，则需要采用0度角入射、积分球接收的形式。
另外，固态样品和液态样品的透过率测量也不同。固态样品，如薄膜、滤光片等，通常采用R2透过光谱测量支架测量，而液体则使用标准比色皿承载，在R4这样的比色皿光谱测量支架中测量。
蓝色框是适用于薄膜样品的透过率测量系统。它可以调节光程，同时也能适用于更加复杂的固态样品。
PC机软件设计分两大部分，一是对设备的控制功能；二是对测量结果进行曲线绘制和保存功能。在设备控制上，我们主要依据测量的步骤，需要的参数设计了各种参数框，比如波长步进、波段范围、转动角度、角度步进等等。各主要参数在设置完后，通过一个开始测量按钮将会使PC机向下传送所有需要的参数，下位机将按照设定的参数一步步完成测量，每一步完成后将向PC机返回测量数据。PC端软件实现的另一个功能就是对测量结果的自动分类保存和测量数据的可视化曲线显示。数据保存的设计思路是以计算机日期为保存文件夹，以日为单位，按年、月、日区分文件夹，当日检测的所有结果都可以保存在该目录下；第二个主要功能是测量数据的可视化曲线描绘，把需要测量的波段或旋转的角度作为X轴，测量的透过率或反射率作为Y轴，将每一步测量的数据用线把它链接起来，实现直观化，便于用来分析镜片特性。入射光进入样品后，其中部分漫反射光回到积分球内部，在积分球内经过多次漫反射后到达检测器。
其中蓝色框是基本的镜面反射光谱测量方式。测量中采用的是Y形反射光纤。红色框是倒置式的镜面反射光谱测量方式。由于这种方式可以保持样品至反射光纤的距离和标准参比样品至反射光纤的距离精确相等，因此，倒置光谱测量方式更加适合于需要精确测量光谱反射率的场合。
绿色框是倒置的积分球反射光谱测量方式，可以采用8度角照射，90度角接受，也可以采用90度角照射，8度角接受的方式。这种方式适合于毛糙表面或绒面样品的反射率测量。 对于绝大多数的测量，都可以使用反射探头的方式来实现。株洲反射率测试系统型号
在镀膜工艺研究过程中，透反射率高精度、高稳定度、自动化测量具有重要意义。扬州反射率测试系统诚信企业
光学方法，此法是借助装在显微镜上的视测光度仪来测定矿物的反射率，或在显微镜下同一视域中来比较两种矿物（“标准”与欲测矿物）的反光强度（反射率）。前者称视测光度法，后者为简易比较法（视测比较法）。视测光度法主要有裂隙显微光度仪法和视觉显微光度仪法等。由于均以观测者的视觉为准，故难免带有主观因素，所以精度较差，达不到精度要求，现已被淘汰。在日常的一般鉴定工作中，有时只需知道欲测矿物反射率的大致范围，即可查表定出矿物时，可采用简易比较法。由于它除显微镜外不需专门仪器及附件，操作简便而易于掌握。 扬州反射率测试系统诚信企业
