相位差膜光轴测量仪批发

PLM系列是由苏州千宇光学科技有限公司精心设计研发及生产的一款高精度相位差轴角度测量仪。该设备可解析多层相位差，是对吸收轴角度、快慢轴角度、相位差、偏光度、色度及透过率等进行高精密测量；是结合偏光解析和一般光学特性分析于一体的设备；并提供不同型号，供客户进行选配。

设备主要运用于：偏光片，盖板玻璃，双折射材料，离型膜，补偿膜，其他光学材料的测试中。可解析多层相位差，主要测试项目包括：吸收轴角度，偏光轴角度，快轴，慢轴角度，波长分散性，三次元折射率，相位差R0/Rth（0~20000nm）,透过率，色度，偏光度。 测量重复性精度业内比较高。相位差膜光轴测量仪批发

相位差：两个频率相同的交流电相位的差叫做相位差，或者叫做相差。 这两个频率相同的交流电，可以是两个交流电流，可以是两个交流电压，可以是两个交流电动势，也可以是这三种量中的任何两个。两个同频率正弦量的相位差就等于初相之差。是一个不随时间变化的常数。   也可以是一个元件上的电流与电压的相位变化。  任意一个正弦量y = Asin(wt+ j0）的相位为(wt+ j0），本章只涉及两个同频率正弦量的相位差（与时间t无关）。设一个正弦量的初相为 j01，第二个正弦量的初相为 j02，则这两个正弦量的相位差为   j12 = j01 - j02河南光轴测量仪推荐厂家对应样品尺寸：可定制，数据输出：电脑连接。

相位差测试仪是工业领域中是经常用到的一般测量工具,比如在电力系统中电网并网合闸时，需要两电网的电信号相同,这就需要精确的测量两工频信号之间的相位差。更有测量两列同频信号的相位差在研究网络、系统的频率特性中具备重要意义。相位测量的方法很多,典型的传统方法是通过显示器观测，这种方法误差较大，读数不方便。为此，我们设计了一种数字相位差测量仪，实现了两列信号相位差的自动测量及数显。近年来,随着科学技术的迅速发展，很多测量仪逐渐向“智能仪器”和“自动测试系统”发展，这使得仪器的使用比较简单，功能越越多。

相位差测试仪测试小科普：

1.Q：轴角度是吸收轴角度吗？

A：否。①吸收轴角度，是指透过光线在某一方向呈现吸收状态（透光率比较低），此光轴跟基准边的夹角。通常同偏光轴（透过轴）垂直相交。 ②轴角度定义适用于双折射样品（产生相位差的样品），在国际上普遍定义为慢轴与基准边的夹角。

2. Q：配向角（取向角）是指轴角吗？

A：否。配向角是轴角在垂直方向的投影。当水平放置样品时，配向角=轴角。当样品倾斜时，配向角会随着样品的翻转而变化，所以在测量配向角时候，需要知道样品与水平面的夹角。 对应样品尺寸：可定制。

目前，国内相位差测量仪生产厂家或研究单位明显存在着技术老化问题，其采用的器件、方法和技术与技术先进国家有较大的的差距。而**近发展的先进的计算机技术、电子技术等却由技术、资金、管理等方面的原因未能应用于相位测量技术，因此国内相位测量的水平与国外水平有着相当大的差距。同时，随着**和科教等领域的发展，迫切需要高精度高性能的相位测量系统，而且在一些特殊工程领域，还需要测量仪器具备其它特殊功能。由此可见，为缩小这些差距，对高精度相位测量算法的研究和相位测量系统的设计刻不容缓。本文介绍的是一套较完整的高精度相位差测量仪，提高相位及频率参数的测量精度，并扩展测相系统功能，由移相网络模块、相位差测量模块及频率测量模块三大部分构成，其系统功能主要是进行相位差测量及频率和幅度测量。测量波段：550nm单波段（可根据客户要求定制波段）。福州光轴测量仪供应商

相位差测试仪：偏光片相位差测试仪。相位差膜光轴测量仪批发

来间接的测定信号传播的时间，从而求得被测距离的。因此，信号相位测量的精度也就决定了测距的精度。相位测量技术的研究由来已久，**早的研究和应用是在数学的矢量分析和物理学的圆周运动以及振动学方面，随之在电力部门、机械部门、航空航天、地质勘探、海底资源等方面也相应得到重视和发展。随着电子技术和计算机技术的发展，相位测量技术得到了迅速的发展，目前相位测量技术已较完善，测量方法及理论也比较成熟，相位测量仪器已系列化和商品化。现代相位测量技术的发展可分为三个阶段：***阶段是在早期采用的诸如阻抗法、和/差法、三电压法、比对法和平衡法等，虽然方法简单，但测量精度较低；第二阶段是利用数字**电路、微处理器、FPGA/CPLD、DSP等构成测相系统，使测量精度得以**提高；第三阶段是充分利用计算机及智能化虚拟测量技术，从而**简化设计程序，增强功能，使得相应的产品精度更高、功能更全。同时，各种新的算法也随之出现。相位测量是正弦信号经过不同的时间或不同的网络后可以有不同的相位。通常所谓相位测量是指对两个同频率信号之间相位差的测量。**常见的是对网络输入与输出信号的相位差，即网络相移的测量。相位差膜光轴测量仪批发