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光学膜透过率测试仪基本参数
  • 品牌
  • 千宇光学科技
  • 型号
  • PLM-10S
  • 类型
  • 光学测量仪
  • 规格
  • PLM-10S
光学膜透过率测试仪企业商机

PLM-10s系列 测试误区 配向角(取向角)是指轴角吗? 否。 配向角是轴角在垂直方向的投影。当水平放置样品时,配向角=轴角。当样品倾斜时,配向角会随着样品的翻转而变化,所以在测量配向角时候,需要知道样品与水平面的夹角。 设备主要运用于:其他光学材料、盖板玻璃、双折射材料、离型膜、补偿膜、偏光片 *已通过**计量用标准片数据匹配。 *傅里叶变换解析偏振光,数据可靠稳定 *可溯源性:可提供计量检测报告 *专业性:光学博士团队合力研发,追求国产替代。 *精心打造的每一台设备出货前都会用**i级计量标准片进行校验 *打破国外垄断相位差测量范围: 0-20000nm 相位差重复性精度: 3σ≤ 0.1 nm。河南光学膜透过率测试仪销售厂家

性能可靠:对正弦/三角/梯形波/方波的相位差进行精密测量;高度集成,精度高;参数指标:输入信号波形正弦/三角/梯形波/方波输入阻抗1MΩ相位范围0°to360°or±180°频率范围10Hz~99Hz幅度范围~250V分六个量程,自动选择量程测量精度相位测量精度±1°(典型值正弦波:10Hz-99Hz)相位分辨率°相位重复性±°或更好频率测量精度±频率分辨率幅度精度±幅度分辨率1mV、、环境特性工作温度0℃~+50℃相对湿度≤90%(40℃)存储温度-30℃~+70℃供电电源交流220V±10%,50Hz±5%,功率小于75W机箱尺寸3U,19″标准机箱(上机架)482mm(宽)x370(深)x150mm(高)测相位差原理分析一般测量相位差有如下两种方法:方法1::将两路同频不同相的方波信号异或后得到的脉冲宽度t与方波信号的周期T的比值(占空比),即对应为两信号的相位差,如下所示:异或测量相位差的原理方法2:通过捕获处理后的两通道的方波,就可计算出相位。云南光学膜透过率测试仪商家轴角度测量范围:0°~180°。

相位调整 相位调整是指在有些**声响箱上加装的一个操控机构。用于对**声响箱所重放出的声响稍许加以推迟,从而让**声响箱的输出能够和前置主音箱同相位,即具有相同的时间联系。 相位噪声 相位噪声是频率域的概念,是对信号时序改变的另-种测量方法,其结果在频率域内显示。如果没有相位噪声,那么振荡器的整个功率都应集中在频率f=fo处。但相位噪声的出现将振荡器的一部分功率扩 展到相邻的频率中去,产生了边带(si deband)。从图2中能够看出,在离中心频率-定合理距离的偏移频率处,边带功率滚降到1/fm,fm是该频率偏离中心频率的差值。 相位噪声通常界说为在某-给定偏移频率处的dBc/Hz值, 其间,dBc是以dB为 单位的该频率处功率与总功率的比值。一个振荡器在某一偏移频率处的相位噪声界说为在该频率处1Hz带宽内的信号功率与信号的总功率比值。

一种起偏振片的制备方法,包括:通过一包括如下步骤的方法制备一偏振薄膜:用夹具将一连续进料的用于偏振薄膜的聚合物薄膜的两个边夹住;和将所述聚合物薄膜延伸,同时所述夹具运行至该薄膜的纵向并向该薄膜施加张力,其中,当L1**夹具从聚合物薄膜一个边缘的实际夹住起点直到实际夹住释放点的轨迹,L2**夹具从聚合物薄膜的另一边缘的实际夹住起点直到实际夹住释放点的轨迹,并且W**所述两个实际夹住释放点之间的距离,LI、L2和W满足式(2):|L2-L1|>0.4W的关系,将所述聚合物薄膜延伸,同时保持该聚合物薄膜的支持性能并使挥发性成分的含量为5%或更大,然后将所述聚合物薄膜收缩,同时降低该挥发性成分的含量,然后将该聚合物薄膜卷成卷状;将一保护薄膜附着于所述偏振薄膜的至少一个表面上,并且由所述保护薄膜的相位滞后轴与所述偏振薄膜的吸收轴构成的角度不小于10。并小于90。相位差测试仪:离型膜相位差测试仪 。

相位的概念  相位(phase)是对于一个波,特定的时刻在它循环中的位置:一种它是否在波峰、波谷或它们之间的某点的标度。相位描述信号波形变化的度量,通常以度 (角度)作为单位,也称作相角。 当信号波形以周期的方式变化,波形循环一周即为360° 。  相位常应用在科学领域,如数学、物理学等。例如:在函数y=Acos(ωx+φ)中,ωx+φ称为相位。在astrolog32中点击ALT+SHIFT+A可以显示相位设定菜单。  在交流电中,相位是反映交流电任何时刻的状态的物理量。交流电的大小和方向是随时间变化的。比如正弦交流电流,它的公式是i=Isin2πft。选配测试功能:1.相位差延迟量、椭偏率、配向角 2.色度、多波段测试(380nm~780nm)、偏光度 。江西PET光学膜透过率测试仪定义

相位差测试仪:拉伸膜相位差测试仪 。河南光学膜透过率测试仪销售厂家

相位测量技术的研讨由来已久,**早的研讨和应用是在数学的矢量分析和物理学的圆周运动以及振动学方面,随之在电力部分、机械部分、航空航天、地质勘探、海底资源等方面也相应得到注重和展开。跟着电子技术和计算机技术的展开,相位测量技术得到了灵敏的展开,现在相位测量技术已较完善,测量方法及理论也比较老练,相位测量仪器已系列化和商品化。现代相位测:量技术的展开可分为三个阶段:***阶段是在前期采用的诸如阻抗法、和/差法、三电压法、比对法和平衡法等,虽然方法简略,但测量精度较低;第二阶段是运用数字**电路、微处理器、FPGA/CPLD、 DSP等构成测相系统,使测量精度得以**提高;第三阶段是充分运用计算机及智能化虚拟测量技术,然后**简化规划程序,增强功用,使得相应的产品精度更高、功用更全。一起,各种新的算法也随之出现。河南光学膜透过率测试仪销售厂家

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