河北偏光片光学膜透过率测试仪技术参数

随着科学技术突飞猛进的发展，电子技术比较广的应用于工业、农业、交通运输、航空航天、**建设等国民经济的诸多领域中，而电子测量技术又是电子技术中进行信息检测的重要手段，在现代科学技术中占有举足轻重的作用和地位。  相位差测试仪是工业领域中是经常用到的一般测量工具，比如在电力系统中电网并网合闸时，需要两电网的电信号相同，这就需要精确的测量两工频信号之间的相位差。更有测量两列同频信号的相位差在研究网络、系统的频率特性中具备重要意义。相位测量的方法很多，典型的传统方法是通过显示器观测，这种方法误差较大，读数不方便。为此，我们设计了一种数字相位差测量仪，实现了两列信号相位差的自动测量及数显。测量波段：550nm单波段可升级为380nm~780nm 上料方式：手动上料。河北偏光片光学膜透过率测试仪技术参数

相位差测量 两个正弦电量可以是电压和电流，或者一个是电压，一个是电流等，对应点通常是从负到正的过零点，相当于正弦电函数的初始相位角。相位差的单位是度或弧度，正负号表示超前或滞后关系。一种 由于被测相位差正弦电量的频率范围很宽，所以通常根据频率选择测量方法和仪器。常用的方法有直接法和间接法。一种 直接法：用指针式相位计、数字相位计等**仪器或用负示波器测量相位差。当使用阴极示波器时，将两个相同频率的正弦电压信号分别加到示波器的X轴和Y轴上。然后两个正弦电压之间的相位差为∮=电弧正弦（B/α）。河北偏光片光学膜透过率测试仪技术参数轴角度测量范围：0°~180° 数据输出：电脑连接，轴角度精度：±0.05°。

相位调整 相位调整是指在有些**声响箱上加装的一个操控机构。用于对**声响箱所重放出的声响稍许加以推迟，从而让**声响箱的输出能够和前置主音箱同相位，即具有相同的时间联系。 相位噪声 相位噪声是频率域的概念，是对信号时序改变的另-种测量方法，其结果在频率域内显示。如果没有相位噪声，那么振荡器的整个功率都应集中在频率f=fo处。但相位噪声的出现将振荡器的一部分功率扩 展到相邻的频率中去，产生了边带(si deband)。从图2中能够看出，在离中心频率-定合理距离的偏移频率处，边带功率滚降到1/fm，fm是该频率偏离中心频率的差值。 相位噪声通常界说为在某-给定偏移频率处的dBc/Hz值， 其间，dBc是以dB为 单位的该频率处功率与总功率的比值。一个振荡器在某一偏移频率处的相位噪声界说为在该频率处1Hz带宽内的信号功率与信号的总功率比值。

偏振片介由粘附剂贴附在液晶显示板上。此时，存在气泡进入偏振片与液晶显示板之间或者偏振片出现变形的情况。这时，为了再利用液晶显示板，采用将偏振片从液晶显示板上剥离，贴合新的偏振片的工序（再加工工序）。但是，当形成偏振片的保护膜与起偏振器的粘合力弱时，将该偏振片剥离时，有时保护膜与起偏振器会剥离。这时，液晶显示板上残留有保护膜，要附加剥离保护膜的工序，因此制造效率下降。因此，作为制造偏振片时使用的、用于粘合保护膜和起偏振器的粘合剂的特性，要求即使在再加工时也发挥起偏振器与保护膜之间的牢固粘合强度（剥离强度）。高精度轴角度相位差透过率，色度(La、 b)，偏光度。

性能可靠：对正弦/三角/梯形波/方波的相位差进行精密测量；高度集成，精度高；参数指标：输入信号波形正弦/三角/梯形波/方波输入阻抗1MΩ相位范围0°to360°or±180°频率范围10Hz～99Hz幅度范围～250V分六个量程，自动选择量程测量精度相位测量精度±1°（典型值正弦波：10Hz-99Hz）相位分辨率°相位重复性±°或更好频率测量精度±频率分辨率幅度精度±幅度分辨率1mV、、环境特性工作温度0℃～＋50℃相对湿度≤90%（40℃）存储温度-30℃～＋70℃供电电源交流220V±10%，50Hz±5%，功率小于75W机箱尺寸3U，19″标准机箱（上机架）482mm（宽）x370（深）x150mm（高）测相位差原理分析一般测量相位差有如下两种方法：方法1：:将两路同频不同相的方波信号异或后得到的脉冲宽度t与方波信号的周期T的比值（占空比），即对应为两信号的相位差，如下所示：异或测量相位差的原理方法2：通过捕获处理后的两通道的方波，就可计算出相位。轴角度精度：±0.05°（精度业内比较高）。重庆AXOSCAN光学膜透过率测试仪技术参数

测量波段：550nm单波段（可根据客户要求定制波段）。河北偏光片光学膜透过率测试仪技术参数

相位差测试仪的发展与现状相位测量技术的研究由来已久,**早的研究和应用是在数学的矢量分析和物理学的圆周运动以及振动学方面，随之在电力部门、机械部门、航空航天、地质勘探、海底资源等方面也相应得到重视和发展。随着电子技术和计算机技术的发展,相位测量技术得到了迅速的发展，目前相位测量技术已较完善，测量方法及理论也比较成熟，相位测量仪器已系列化和商品化。现代相位测量技术的发,展可分为三个阶段:***个阶段是早期采用的诸如阻抗法、和/差法、三电压法、对比法和平衡法等，虽方法简单，但测量精度较低，第二阶段是利用数字**电路，微处理器、FPGA/CPLD、DSP等构成测相系统，使测量精度得以**提高，第三阶段是充分利用计算机及智能化虚拟测量技术，从而**简化设计程序，增强功能，使得相应的产品精度更高，功能更全，同时各种新的算法也随之出现。河北偏光片光学膜透过率测试仪技术参数