上海偏光片光学膜透过率测试仪设备

相位差测试仪是工业领域中是经常用到的一般测量工具,比如在电力系统中电网并网合闸时，需要两电网的电信号相同,这就需要精确的测量两工频信号之间的相位差。更有测量两列同频信号的相位差在研究网络、系统的频率特性中具备重要意义。相位测量的方法很多,典型的传统方法是通过显示器观测，这种方法误差较大，读数不方便。为此，我们设计了一种数字相位差测量仪，实现了两列信号相位差的自动测量及数显。近年来,随着科学技术的迅速发展，很多测量仪逐渐向“智能仪器”和“自动测试系统”发展，这使得仪器的使用比较简单，功能越越多。轴角度精度精度业内比较高。上海偏光片光学膜透过率测试仪设备

相位差测试仪是工业领域中是常常用到的一般测量东西，比如在电力系统中电网并网合闸时，需求两电网的电信号相同,这就需求准确的测量两工频信号之间的相位差。更有测量两列同频信号的相位差在研讨网络、系统的频率特性中具备重要意义。相位测量的方法许多，典型的.传统方法是通过显示器观测，这种方法误差较大，读数不方便。为此，我们规划了-种数字相位差测量仪,完成了两列信号相位差的自动测量及数显。近年来，跟着科学技术的迅速开展，许多测量仪逐步向“智能仪器”和“自动测试系统”开展，这使得仪器的运用比较简单,功能越越多。相位差测试仪应用于电力线路、变电所的相位校验和相序校验，具有核相、测相序、验电等功能。具备很强的抗烦扰性，习气各种电磁场烦扰场合。被测高电压相位信号由采集器取出，通过处理后直接发射出去。由***接收并进行相位比较,对安徽进口光学膜透过率测试仪设备此光轴跟基方向呈现吸收状态(透光率比较低)。

光谱仪参数探测器类型:HAMATSU光电二极管阵列像素点：2048光栅：全息平场凹面衍射光栅狭缝：可选择狭缝宽度（25um、50um、100um、200um）光谱范围：VIS：400--800nmUV-VIS:190--800nm光学分辨率：VIS：1.5nm（100um狭缝）UV-VIS:1.5nm（100um狭缝）波长精度：±0.2nm光谱杂散光：<0.05%（400nm）信噪比：2000：1AD分辨率：16bit积分时间：0.1ms--60s供电：5V/220mA通讯接口：USB2.0（480Mbps）解析多层相位差：相位差（0~20000nm）吸收轴角度/偏光轴角度透过率，色度（La、b），偏光度快轴慢轴角度单波段（550nm为主）/多波段测试（380nm~nm为主）内应力（此功能软件开发中）

随着科学技术突飞猛进的发展，电子技术比较广的应用于工业、农业、交通运输、航空航天、**建设等国民经济的诸多领域中，而电子测量技术又是电子技术中进行信息检测的重要手段，在现代科学技术中占有举足轻重的作用和地位。  相位差测试仪是工业领域中是经常用到的一般测量工具，比如在电力系统中电网并网合闸时，需要两电网的电信号相同，这就需要精确的测量两工频信号之间的相位差。更有测量两列同频信号的相位差在研究网络、系统的频率特性中具备重要意义。相位测量的方法很多，典型的传统方法是通过显示器观测，这种方法误差较大，读数不方便。为此，我们设计了一种数字相位差测量仪，实现了两列信号相位差的自动测量及数显。高精度轴角度相位差测量仪吸收轴角度/偏光轴角度。

相位差，物理学概念。两个频率相同的交流电相位的差叫做相位差，或者叫做相差。这两个频率相同的交流电，可以是两个交流电流，可以是两个交流电压，可以是两个交流电动势，也可以是这三种量中的任何两个。一台高精度相位差测量仪对相位差的测量尤为重要。相位差与相位的关系（1）当j12>0时，称***个正弦量比第二个正弦量的相位越前（或超前）j12；（2）当j12<0时，称***个正弦量比第二个正弦量的相位滞后（或落后）|j12|；（3）当j12=0时，称***个正弦量与第二个正弦量同相，如图7-1(a）所示；（4）当j12=±π或±180°时，称***个正弦量与第二个正弦量反相；相位差测试仪：拉伸膜相位差测试仪 。上海偏光片光学膜透过率测试仪设备

测量重复性：0.02° （精度业内比较高）。上海偏光片光学膜透过率测试仪设备

扩散膜是通过在光学膜片材料上的微细颗粒(beads)实现光的扩散，而增亮膜(棱镜片)是通过在透明光学材料上加工成型微细条纹(光栅)结构进行反射和折射，对光能重新分布。由于表面均匀布满棱形尖锥型的微细结构，提高了光线透过率，增大了亮度和视角。增光膜(棱镜片)的生产工艺包括光学设计、精密模具、化学配方及涂布。国际先进国家的方法就是在加工完的模辊上通过光固化UV胶成型工艺技术，实现微细光学结构的成型工艺。增光膜**关键的技术是在辊筒上雕刻棱形花纹技术。上海偏光片光学膜透过率测试仪设备